基于安捷倫CXA信號分析儀的EMI預兼容測試方案

　　概述

　　越來越多的電子制造公司認識到頻繁地進行電磁兼容（EMC）/ 電磁干擾（EMI ）檢測，整改，已經成為了降低產品研發(fā)成本，縮短產品開發(fā)周期的主要瓶頸。而在從研發(fā)，樣品生產到正式生產的整個過程中進行EMI 預兼容測試就是突破這一瓶頸的最常規(guī)的手段。

　　盡管進行EMI 預兼容測試已經成為了電子行業(yè)的共識， 但是大多數公司的嘗試都遭遇了成本的阻礙。只有很少的大型電子企業(yè)有足夠的經費建造，購買電波暗室，標準接收機以及相應外設，從而建設一套和EMC 標準實驗室類似的測試系統(tǒng)。而大量中小型的企業(yè)和電子產品設計室一直在尋找一套低成本而高效的EMI 預兼容測試方案。

　　典型的EMI測試系統(tǒng)

　　大多數的電子產品都需要通過傳導泄露和輻射泄露兩類EMI測試。其本質都是使用頻譜分析儀或者接收機測量由測量附件拾取到的干擾信號。

圖一 傳導泄露測試

　　圖一是典型的傳導測試儀器連接配置

　　拾取電源線上傳播干擾信號的最常用設備是線性阻抗匹配網絡（LISN） 。而瞬態(tài)限幅器可以有效的避免頻譜分析儀或者接收機被LISN 產生的大功率瞬態(tài)信號損 壞。而傳導測試的被測件，附件和頻譜儀完全是通過電纜連接，所以非常容易實現且不易受到干擾。我們用類似的方法進行預兼容測試，得出的結果往往可以和EMC 認證機構得出的測試結果很好吻合。

圖二 輻射泄露測試

　　圖二是典型的輻射泄露測試的連接

　　一般在電波暗室或者開放空間中使用雙錐天線和對數周期天線拾取空間的輻射干擾。電波暗室是最理想的測試環(huán)境，可以有效的消除環(huán)境干擾和反射共振的影響。但是對于多數公司，電波暗室的投資都過于高昂。傳統(tǒng)的替代方法是在開放空間進行測試，以減

　　小發(fā)射和共振的影響，但是復雜的環(huán)境電磁波干擾始終難以完全消除。

　　安捷倫N9000A CXA 信號分析儀和 W6141A