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基于濾色陣列特性的圖像篡改檢測(cè)算法

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　　針對(duì)圖像采集過(guò)程中插值算法對(duì)圖像三原色之間所引入的插值特性，論文提出一種基于后驗(yàn)概率和濾色陣列特性的圖像篡改檢測(cè)算法。首先提取待測(cè)圖像綠色通道分量，引入二維預(yù)測(cè)濾波構(gòu)建預(yù)測(cè)誤差函數(shù)；然后分塊提取特征，分析原始與篡改圖像所提特征的直方圖特性，從而建立特征的高斯混合統(tǒng)計(jì)模型，并借助EM算法估計(jì)模型參數(shù)；計(jì)算子塊特征作為原始?jí)K的后驗(yàn)概率，定義似然率并應(yīng)用到每個(gè)子塊中，從而可得到篡改區(qū)域映射圖，完成本次檢測(cè)。仿真結(jié)果表明，該算法具有較強(qiáng)的魯棒性，能夠?qū)D像篡改區(qū)域進(jìn)行較準(zhǔn)確地定位。

基于濾色陣列特性的圖像篡改檢測(cè)算法

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