考察了當(dāng)前執(zhí)行的最常見(jiàn)的 DC 電流與電壓 （I-V） 測(cè)試、每項(xiàng)測(cè)試本身的復(fù)雜性以及新技術(shù)可以怎樣幫助您克服這些挑戰(zhàn)，同時(shí)增強(qiáng)效率和生產(chǎn)力。在研發(fā)中，會(huì)在各種雙端子電子器件上定期執(zhí)行 I-V 檢定，包括電阻器、二極管、LED、太陽(yáng)能電池和傳感器。在檢定兩端子器件的I-V 時(shí)，需要一步步通過(guò)流經(jīng)器件的電壓電平或流經(jīng)器件的電流電平，在稱(chēng)為掃描的操作中測(cè)量得到的電流或電壓。
