存在大共模電壓時(shí)如何準(zhǔn)確測(cè)量高帶寬、低電壓差分信號(hào)

新興工業(yè)的產(chǎn)生和發(fā)展來源于嶄新技術(shù),而先進(jìn)材料是新技術(shù)得以產(chǎn)生和應(yīng)用。其中新興的光電功能材料,應(yīng)用在前沿的傳感,通信,存儲(chǔ)和顯示以及照明等科技領(lǐng)域。先進(jìn)的光電材料測(cè)試測(cè)量中充滿各種挑戰(zhàn),包括小電流測(cè)量,精密電源,IV特性分析,電容特性分析,自熱效應(yīng),高亮高功率等等。

通過文檔,可了解以下內(nèi)容:

  • 在要求全面隔離電流、高共模電壓等條件下進(jìn)行差分測(cè)量
  • 在高 EMI 環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量
  • EMI 一致性測(cè)試
  • ESD 測(cè)試
  • 進(jìn)行遠(yuǎn)程測(cè)量,距被測(cè)器件最遠(yuǎn) 10 米,且不能損害測(cè)量性能
登錄下載

請(qǐng)?zhí)顚懩恼鎸?shí)信息,我們會(huì)定期抽取部分下載用戶派送獎(jiǎng)品!

您所提供的信息可能會(huì)被泰克公司或泰克授權(quán)的第三方合作伙伴,用于市場(chǎng)營銷和銷售的目的。您同意并授權(quán)泰克公司方將信息用于此類目的。