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分析手機(jī)天線耦合的測(cè)試方案的介紹

普源精電RIGOL ? 來(lái)源:djl ? 2019-10-10 10:07 ? 次閱讀

手機(jī)測(cè)試分為安裝天線之前的板級(jí)測(cè)試及安裝天線之后的整機(jī)測(cè)試。

圖1:手機(jī)生產(chǎn)測(cè)試流程

安裝天線之前的測(cè)試信號(hào)的收發(fā)從手機(jī)的射頻口直接輸入輸出;安裝天線之后依靠天線進(jìn)行發(fā)射及接收。而手機(jī)的測(cè)試主要集中在組裝后,一款手機(jī)終端射頻性能的優(yōu)劣直接取決于射頻收發(fā)信機(jī)的校準(zhǔn),這是手機(jī)生產(chǎn)測(cè)試中最重要的環(huán)節(jié)。終端的收發(fā)性能校準(zhǔn)測(cè)試項(xiàng)目包括AGC(自動(dòng)增益控制電壓)、AFC(自動(dòng)頻率控制)和APC(自動(dòng)功率控制)。還包括其他一系列的RX,TX的性能及電池的性能測(cè)試校準(zhǔn)等。

在天線安裝之前,手機(jī)的發(fā)射接收信號(hào)直接從此射頻接口直接輸入輸出;安裝天線之后會(huì)用天線進(jìn)行接收發(fā)射。


圖2:板級(jí)測(cè)試--手機(jī)射頻同軸線纜接口

由于手機(jī)實(shí)際應(yīng)用中都是通過(guò)天線對(duì)信號(hào)進(jìn)行收發(fā),所以天線的設(shè)計(jì)、測(cè)試跟組裝都對(duì)手機(jī)整機(jī)性能起到相當(dāng)關(guān)鍵的作用。天線設(shè)計(jì)得好,各項(xiàng)參數(shù)指標(biāo)達(dá)到性能是手機(jī)收發(fā)性能達(dá)標(biāo)的基礎(chǔ),但同樣不可忽視天線安裝耦合的問(wèn)題。

現(xiàn)在手機(jī)天線已有原來(lái)的外置天線轉(zhuǎn)變?yōu)閮?nèi)置天線,而且天線都設(shè)計(jì)成金屬簧片直接與射頻口對(duì)接


圖3:手機(jī)天線的更迭

由于設(shè)計(jì)成金屬簧片,現(xiàn)在手機(jī)天線不能像以前外置天線一樣方便的進(jìn)行更換,一旦天線安裝完成后,進(jìn)行拆卸重裝都是一件比較麻煩的事情。另外由于是簧片直接與射頻口對(duì)接,所以安裝過(guò)程中可能會(huì)出現(xiàn)阻抗匹配問(wèn)題、電氣接觸性問(wèn)題等。

為了適應(yīng)更加復(fù)雜的通信環(huán)境及增強(qiáng)手機(jī)的接收發(fā)射性能,產(chǎn)生了手機(jī)的分集式天線技術(shù),也就是所謂的智能雙天線技術(shù)。

其主要是通過(guò)分集天線配合主天線,提高手機(jī)在惡劣環(huán)境下接收無(wú)線信號(hào)的靈敏度。分集天線在強(qiáng)信號(hào)環(huán)境下基本無(wú)用,在弱環(huán)境或主天線受干擾時(shí)才起作用。讓通話質(zhì)量和上網(wǎng)速在弱環(huán)境下不受太大的新影響。同樣的,分集天線的安裝同樣需要測(cè)試其耦合性能。

如何測(cè)試手機(jī)天線安裝的耦合?

目前業(yè)界的做法是利用手機(jī)綜測(cè)儀發(fā)射信號(hào),通過(guò)屏蔽箱的發(fā)射板發(fā)射,手機(jī)進(jìn)行信號(hào)接收。

圖4:手機(jī)綜測(cè)儀測(cè)試

在整機(jī)無(wú)線收發(fā)測(cè)試的同時(shí)把天線的電氣接觸及耦合一同測(cè)試。但此過(guò)程會(huì)有兩個(gè)問(wèn)題:1.分集天線與主天線測(cè)試需分開(kāi)測(cè)試(需用綜測(cè)儀對(duì)主、分集天線分開(kāi)測(cè)試);2.效率問(wèn)題(天線耦合僅需測(cè)試其是否電氣接觸良好,綜測(cè)儀發(fā)射的為調(diào)制信號(hào),還需手機(jī)進(jìn)行解調(diào)分析,評(píng)估整體接收的質(zhì)量,測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)且造成資源浪費(fèi))

RIGOL為您提供的替代方案是,通過(guò)射頻信號(hào)源發(fā)射2G/3G/4G頻段的CW信號(hào)通過(guò)屏蔽箱天線板進(jìn)行發(fā)射;若手機(jī)天線耦合及電接觸良好,則接收的功率值可達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)。由于CW信號(hào)無(wú)需手機(jī)進(jìn)行解調(diào),僅需手機(jī)有讀取CW功率值的測(cè)試軟件即可,效率可極大提高。

圖5:射頻源測(cè)試

兩種方案的對(duì)比如下表格,

注:本文中各案例詳細(xì)測(cè)試方案請(qǐng)咨詢RIGOL技術(shù)支持部。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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