0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

PBGA失效了怎樣來降低

PCB線路板打樣 ? 來源:pcb論壇網(wǎng) ? 2019-11-01 17:46 ? 次閱讀

隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展,電子元件朝著小型化和高度集成化的方向發(fā)展。BGA元件已越來越廣泛地應(yīng)用到SMT裝配技術(shù)中,并且隨著 BGA和CSP的出現(xiàn),SMT裝配的難度愈來愈大,工藝要求也愈來愈高。由于BGA的返修難度頗大,返修成本高,故提高BGA的制程質(zhì)量是SMT制程中的新課題。

本文由上海漢赫電子科技人員內(nèi)部整理總結(jié),如有錯誤,請予以指正。

BGA有不同類型,不同類型的BGA有不同的特點,只有深入了解不同類型BGA的優(yōu)缺點,才能更好地制定滿足BGA制程要求的工藝,才能更好地實現(xiàn)BGA的良好裝配,降低BGA的制程成本。BGA通常分為三類,每類BGA都有自己獨特的特點和優(yōu)缺點:

1、PBGA(PLASTIC BALL GRID ARRAY)塑料封裝BGA

其優(yōu)點是:

①和環(huán)氧樹脂電路板熱匹配好。

②焊球參與了回流焊接時焊點的形成,對焊球要求寬松。

③貼裝時可以通過封裝體邊緣對中。

④成本低。

⑤電性能好。

其缺點是:對濕氣敏感以及焊球面陣的密度比CBGA低

2、CBGA(CERAMIC BGA)陶瓷封裝BGA

其優(yōu)點是:

①封裝組件的可靠性高。

②共面性好,焊點形成容易,但焊點不平行度交差。

③對濕氣不敏感。

④封裝密度高。

其缺點是:

①由于熱膨脹系數(shù)不同,和環(huán)氧板的熱匹配差,焊點疲勞是主要的失效形式。

②焊球在封裝體邊緣對準(zhǔn)困難。

③封裝成本高。

3、TBGA(TAPE BGA)帶載BGA

其優(yōu)點是:

①盡管在芯片連接中局部存在應(yīng)力,當(dāng)總體上同環(huán)氧板的熱匹配較好。

②貼裝是可以通過封裝體邊緣對準(zhǔn)。

③是最為經(jīng)濟(jì)的封裝形式。

其缺點是:

①對濕氣敏感。

②對熱敏感。

③不同材料的多元回合對可靠性產(chǎn)生不利的影響。

BGA在電子產(chǎn)品中已有廣泛的應(yīng)用,但實際生產(chǎn)應(yīng)用中,以PBGA居多。PBGA最大的缺點是對濕氣敏感,如果PBGA吸潮后,在焊接中PBGA極易產(chǎn)生“爆米花”現(xiàn)象,從而導(dǎo)致PBGA失效。在很多的文獻(xiàn)中有很多提高BGA制程質(zhì)量的文章,在此我們僅針對PBGA對濕氣敏感的缺點,討論在實際生產(chǎn)過程的相關(guān)工藝環(huán)節(jié)中防止PBGA因吸潮而失效的方法。

一、PBGA的驗收和貯存

PBGA屬于濕敏性元件,出廠時均是采用真空包裝,但在運輸周轉(zhuǎn)過程中很容易破壞其真空包裝,導(dǎo)致元件受潮和焊點氧化,因此在元件入廠驗收時,必須將元件的包裝狀態(tài)作為檢驗項目,嚴(yán)格將真空和非真空包裝的元件區(qū)分開,真空包裝的元件按照其貯存要求進(jìn)行貯存,并在保質(zhì)期內(nèi)使用,非真空的元件應(yīng)該放入低濕柜中按要求進(jìn)行貯存,防止PBGA吸潮和引腳的氧化。同時按“先進(jìn)先出”的原則進(jìn)行控制,盡量降低元件的貯存風(fēng)險。

二、PBGA的除濕方式的選擇

受潮的PBGA在上線生產(chǎn)前要進(jìn)行除濕處理。BGA的除濕通常有低溫除濕和高溫除濕兩種,低溫除濕是采用低濕柜除濕,除濕比較費時,通常在5%的濕度條件下,需要192小時,高溫除濕是采用烘箱除濕,除濕時間比較短,通常在125攝氏度的條件下,需要4小時。在實際的生產(chǎn)中,對那些非真空包裝的元件進(jìn)行高溫除濕后,放入低濕柜中貯存,以縮短除濕的周期。對濕度卡顯示潮濕度超標(biāo)的PBGA建議采用低溫除濕,而不采用高溫除濕,由于高溫除濕的溫度較高(大于100攝氏度)而且速度快,如果元件濕度較高,會因為水分的急促氣化而導(dǎo)致元件失效。

三、PBGA在生產(chǎn)現(xiàn)場的控制

PBGA在生產(chǎn)現(xiàn)場使用時,真空包裝的元件拆封后,必須交叉檢查包裝的濕度卡,濕度卡上的濕度標(biāo)示超標(biāo)時,不得直接使用,必須進(jìn)行除濕處理后方可使用。生產(chǎn)現(xiàn)場領(lǐng)用非真空包裝的元件時,必須檢查該料的濕度跟蹤卡,以確認(rèn)該料的濕度狀態(tài),無濕度跟蹤卡的非真空包裝的元件不得使用。同時嚴(yán)格控制PBGA在現(xiàn)場的使用時間和使用環(huán)境,使用環(huán)境應(yīng)該控制在25攝氏度左右,濕度控制在40-60%之內(nèi),PBGA現(xiàn)場的使用時間應(yīng)控制在24小時以內(nèi),超出24小時的PBGA必須重新進(jìn)行除濕處理。

四、PBGA的返修

BGA返修通常采用BGA返修臺(BGA rework station)。生產(chǎn)現(xiàn)場返修裝貼有PBGA的PCBA,如果放置時間比較長,PBGA易吸潮,PBGA的濕度狀態(tài)也很難判斷,因此PBGA在拆除之前,必須將裝PBGA的PCBA進(jìn)行除濕處理,避免元件在拆除中失效報廢,使BGA的置球和重新裝配變得徒勞。

當(dāng)然,在SMT的制程中導(dǎo)致BGA失效的工藝環(huán)節(jié)和原因很多,比如ESD、回流焊接等等,要想降低SMT制程中BGA的失效,需要在多方面進(jìn)行全面控制。對于PBGA而言,與元件吸潮相關(guān)的工藝環(huán)節(jié)在實際生產(chǎn)中往往被忽視,而且出現(xiàn)問題比較隱蔽,往往給我們改善制程、提高制程質(zhì)量造成了很多障礙,因此針對PBGA對濕氣敏感的缺點,在生產(chǎn)制程中,從以上幾個方面著手,針對性的采取有效應(yīng)對措施,可以更好地減少PBGA的失效,提高PBGA的制程質(zhì)量,降低生產(chǎn)成本。

責(zé)任編輯:ct

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • pcb
    pcb
    +關(guān)注

    關(guān)注

    4308

    文章

    22865

    瀏覽量

    394950
  • PBGA
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    25

    瀏覽量

    16205
  • 華強pcb線路板打樣
    +關(guān)注

    關(guān)注

    5

    文章

    14629

    瀏覽量

    42904
收藏 人收藏

    評論

    相關(guān)推薦

    真空回流焊爐/真空焊接爐——微波組件和模塊失效分析

    隨著應(yīng)用范圍越來越廣,微波組件和模塊在使用過程中遇到的質(zhì)量和可靠性問題也日益增多,有些甚至?xí)ιa(chǎn)方和使用方造成巨大的經(jīng)濟(jì)損失。本文就來探討一下微波組件和模塊的主要失效模式和失效原因,以及如何進(jìn)行優(yōu)化改進(jìn)以此
    的頭像 發(fā)表于 10-16 15:14 ?197次閱讀
    真空回流焊爐/真空焊接爐——微波組件和模塊<b class='flag-5'>失效</b>分析

    失效的陶瓷電容是怎樣的?

    =陶瓷電容失效表現(xiàn)包括外殼裂痕、膨脹與變形,由外部沖擊、溫度變化、過電壓、過電流等引起。要及時發(fā)現(xiàn)并更換失效電容,保障設(shè)備穩(wěn)定運行。
    的頭像 發(fā)表于 10-15 17:32 ?116次閱讀
    <b class='flag-5'>失效</b>的陶瓷電容是<b class='flag-5'>怎樣</b>的?

    失效的陶瓷電容是怎樣的?

    陶瓷電容失效表現(xiàn)包括外殼裂痕、膨脹與變形,由外部沖擊、溫度變化、過電壓、過電流等引起。要及時發(fā)現(xiàn)并更換失效電容,保障設(shè)備穩(wěn)定運行。
    的頭像 發(fā)表于 10-15 17:32 ?106次閱讀

    貼片電阻阻值降低失效分析

    貼片電阻阻值降低失效分析? 貼片電阻是電子產(chǎn)品中常見的元件之一。在電路中起著調(diào)節(jié)電流、電壓以及降低噪聲等作用。然而,就像其他電子元件一樣,貼片電阻也可能發(fā)生故障或失效。其中最常見的故障
    的頭像 發(fā)表于 02-05 13:46 ?1871次閱讀

    怎樣通過編程降低ADUCM360的功耗?

    怎樣通過編程降低ADUCM360的功耗
    發(fā)表于 01-12 06:31

    如何從利用靜電防護(hù)器件降低ESD危害?

    如何從利用靜電防護(hù)器件降低ESD危害? 靜電防護(hù)器件,也稱為ESD防護(hù)器件,用于降低和控制靜電放電對電子設(shè)備、電路和元件造成的危害。靜電防護(hù)器件起到了連接靜電產(chǎn)生、傳遞以及分散的作用,有效地
    的頭像 發(fā)表于 01-03 13:42 ?632次閱讀

    常見的齒輪失效有哪些形式?失效的原因是什么?如何解決?

    常見的齒輪失效有哪些形式?失效的原因是什么?可采用哪些措施減緩失效的發(fā)生? 齒輪是機械傳動中常用的一種傳動方式,它能夠?qū)恿囊粋€軸傳遞到另一個軸上。然而,在長時間使用過程中,齒輪也
    的頭像 發(fā)表于 12-20 11:37 ?3584次閱讀

    ESD失效和EOS失效的區(qū)別

    ESD失效和EOS失效的區(qū)別 ESD(電靜電放電)失效和EOS(電壓過沖)失效是在電子設(shè)備和電路中經(jīng)常遇到的兩種失效問題。盡管它們都涉及電氣
    的頭像 發(fā)表于 12-20 11:37 ?5883次閱讀

    淺談失效分析—失效分析流程

    ▼關(guān)注公眾號:工程師看海▼ 失效分析一直伴隨著整個芯片產(chǎn)業(yè)鏈,復(fù)雜的產(chǎn)業(yè)鏈中任意一環(huán)出現(xiàn)問題都會帶來芯片的失效問題。芯片從工藝到應(yīng)用都會面臨各種失效風(fēng)險,筆者平時也會參與到失效分析中,
    的頭像 發(fā)表于 12-20 08:41 ?2593次閱讀
    淺談<b class='flag-5'>失效</b>分析—<b class='flag-5'>失效</b>分析流程

    保護(hù)器件過電應(yīng)力失效機理和失效現(xiàn)象淺析

    保護(hù)器件過電應(yīng)力失效機理和失效現(xiàn)象淺析
    的頭像 發(fā)表于 12-14 17:06 ?684次閱讀
    保護(hù)器件過電應(yīng)力<b class='flag-5'>失效</b>機理和<b class='flag-5'>失效</b>現(xiàn)象淺析

    如何確定FMEA中每個潛在失效模式的嚴(yán)重度?

    在進(jìn)行故障模式和影響分析(FMEA)時,確定每個潛在失效模式的嚴(yán)重度至關(guān)重要。通過合理地評估潛在失效模式的嚴(yán)重程度,可以為制定相關(guān)的風(fēng)險控制和預(yù)防措施提供指導(dǎo)。下面將分享一些常用的方法確定FMEA
    的頭像 發(fā)表于 12-13 15:02 ?1278次閱讀
    如何確定FMEA中每個潛在<b class='flag-5'>失效</b>模式的嚴(yán)重度?

    晶振失效?怎么解決?

    晶振失效?怎么解決?
    的頭像 發(fā)表于 12-05 17:22 ?556次閱讀
    晶振<b class='flag-5'>失效</b><b class='flag-5'>了</b>?怎么解決?

    如何防止碳化硅SiC MOSFET失效呢?

    有效的熱管理對于防止SiC MOSFET失效有很大的關(guān)系,環(huán)境過熱會降低設(shè)備的電氣特性并導(dǎo)致過早失效,充分散熱、正確放置導(dǎo)熱墊以及確保充足的氣流對于 MOSFET 散熱至關(guān)重要。
    的頭像 發(fā)表于 12-05 17:14 ?620次閱讀

    印刷電路板 (PCB) 移除塑封球柵陣列封裝 (PBGA) 的建議程序

    電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《印刷電路板 (PCB) 移除塑封球柵陣列封裝 (PBGA) 的建議程序.pdf》資料免費下載
    發(fā)表于 11-27 11:42 ?0次下載
    印刷電路板 (PCB) 移除塑封球柵陣列封裝 (<b class='flag-5'>PBGA</b>) 的建議程序

    AD623放大失效怎么解決?

    ,但是放大電路會隨機出現(xiàn)失效。出現(xiàn)的時間不定,有時候是連續(xù)工作好幾天出現(xiàn)一次,有時候是幾個小時,甚至是幾十分鐘出現(xiàn)一次。我不知道是否該用“失效描述這種現(xiàn)象,就當(dāng)是對這個故障的稱呼吧。具體的現(xiàn)象如下
    發(fā)表于 11-22 06:30