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高斯計的測試精度

汽車玩家 ? 來源:工程師曾玲 ? 2019-08-28 16:54 ? 次閱讀

●精度的概念

高斯計&特斯拉計作為測試磁場強(qiáng)度的測試計量儀器,它的測試精度就尤為重要。

※精密度

精密度(precision of measurement)系指在相同條件下,對被測量進(jìn)行多次反復(fù)測量,測得值之間的一致(符合)程度。從測量誤差的角度來說,精密度所反映的是測得值的隨機(jī)誤差。精密度高,不一定正確度高。也就是說,測得值的隨機(jī)誤差小,不一定其系統(tǒng)誤差亦小。

※正確度

正確度(correctness of measurement)系指被測量的測得值與其“真值”的接近程度。從測量誤差的角度來說,正確度所反映的是測得值的系統(tǒng)誤差。正確度高,不一定精密度高。也就是說,測得值的系統(tǒng)誤差小,不一定其隨機(jī)誤差亦小。

※精確度

精確度亦稱準(zhǔn)確度(accuracy of measurement)系指被測量的測得值之間的一致程度以及與其“真值”的接近程度,即是精密度和正確度的綜合概念。從測量誤差的角度來說,精確度(準(zhǔn)確度)是測得值的隨機(jī)誤差和系統(tǒng)誤差的綜合反映。

在實際工作中,對計量結(jié)果的評價考量的是綜合性的因素,只有在某些特定的場合才對精密度和正確度單獨(dú)考慮。通常所說的測量精度或計量器具的精度,一般即指精確度(準(zhǔn)確度),也就是說實際上“精度”已成為“精確度”(準(zhǔn)確度)的習(xí)慣上的簡稱。

●探頭對測量精度的影響

根據(jù)霍爾效應(yīng)原理制成的特斯拉計(高斯計)在測量磁場中,有著廣泛的應(yīng)用。高斯計是由作為傳感器的霍爾探頭及儀表整機(jī)兩部分組成。其中探頭內(nèi)霍爾元件的尺寸、性能與封裝結(jié)構(gòu)對磁場測量的準(zhǔn)確度起著關(guān)鍵的作用。
霍爾效應(yīng)特斯拉計對均勻、恒定磁場測量的準(zhǔn)確度一般在5%—0.5%,高精度的測量準(zhǔn)確度可以達(dá)到0.05%。但對磁體表面的非均勻磁場的測量就談不上準(zhǔn)確度了。往往是不同的儀表或同型號的儀表,不同的探頭或同一支探頭的不同側(cè)面,去測量同一磁體表面、同一位置(應(yīng)該說看上去是同一位置)的磁場時,顯示的結(jié)果大不一樣,誤差可以超過20%,甚至達(dá)到50%。造成上述差別的原因有兩點:
※霍爾元件封裝的位置不同

不同探頭內(nèi)霍爾元件封裝的位置不同,或元件不在探頭兩側(cè)的中部。

這些探頭在均勻磁場中,不會因位置上的改變而感受到磁場的改變,測量數(shù)據(jù)也不會因位置的不同而帶來誤差;當(dāng)用不同的探頭去測磁體表面發(fā)散的、不均勻的磁場時,雖然表面看上去是放到了同一位置,而內(nèi)部霍爾元件感受到的并不是同一位置的磁場,感受到的場值不同,測量結(jié)果當(dāng)然不一樣。見不同磁體磁場示意圖。

一般,對于徑向探頭,厚度越小,內(nèi)部霍爾元件離表面越近,測量表面磁場顯示讀數(shù)越大。采用超薄探頭去測表面磁場時讀數(shù)可以高于常規(guī)探頭20%以上(被測磁體尺寸越小,磁體表面曲率越大,表面磁場越不均勻,測量數(shù)據(jù)差別越大),但是無論多薄的探頭,其內(nèi)部對磁場敏感的部分與磁體表面總有一個間距,不可能為零距離。所以說,不可能測到真正的表面磁場。只能說,使用的探頭越薄,讀數(shù)越能反映出磁體的表面磁場。

※霍爾元件的敏感區(qū)尺寸不同

不同型號的霍爾探頭內(nèi),所封裝霍爾元件的敏感區(qū)尺寸不同。

早期的霍爾元件,如鍺、硅霍爾元件,尺寸一般為4×2㎜2,也有6×3㎜2、8×4㎜2、最小為1.5×1.5㎜2。這種霍爾元件有效的敏感區(qū)基本上是元件本身的尺寸,面積大。若用這種霍爾元件來對磁力線發(fā)散的小磁體、磁體邊角部分或多極充磁的表磁進(jìn)行測量,僅能反映出通過該元件表面的磁感應(yīng)強(qiáng)度的平均值,此值必定小于該區(qū)域的最大值。

如果改用敏感區(qū)小的霍爾元件,如砷化鎵霍爾元件,其敏感區(qū)的有效面積約為0.1×0.1~0.2×0.2㎜2遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于霍爾元件的面積。這種霍爾元件就更能反映出表面磁場的場分布,所測到的最大值也更接近該區(qū)域的最大磁感應(yīng)強(qiáng)度實際值。
由前面的分析可以看出,表面磁場的實際值(即真實值)用霍爾效應(yīng)法是根本不可能測到的。也就是說不可能找到建立一種統(tǒng)一的、共同的表面磁場的量值標(biāo)準(zhǔn)。只能去謀求測出更加接近表面磁場實際值的方法。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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