最近研發(fā)部在開(kāi)發(fā)一款產(chǎn)品時(shí),遇到了兩個(gè)設(shè)計(jì)的可靠性問(wèn)題,分享出來(lái).
第一個(gè)可靠性問(wèn)題:霍爾感應(yīng)在高溫實(shí)驗(yàn)后,功能失效.
產(chǎn)品試產(chǎn)后正準(zhǔn)備上線(xiàn)生產(chǎn),但是在做可靠性測(cè)試時(shí),品質(zhì)發(fā)現(xiàn)了這個(gè)問(wèn)題,就是高溫后霍爾功能失效.
經(jīng)分析,發(fā)現(xiàn)霍爾與磁鐵的的距離為9MM, 而磁鐵在高溫后磁力會(huì)下降,導(dǎo)至霍爾感應(yīng)不到磁鐵. 源頭還是設(shè)計(jì)工程師經(jīng)驗(yàn)不足,考量的不周全. 而且磁鐵還是異形的,做樣周期更長(zhǎng); 模具已經(jīng)定型了,沒(méi)法改模具了,只能改善磁鐵了,一是提高磁鐵的溫度系數(shù),二是磁鐵加厚,增加磁鐵磁力. 經(jīng)驗(yàn)證方案是可行的.
第二個(gè)可靠性問(wèn)題:耳機(jī)在充電盒內(nèi)不能斷連
這種問(wèn)題是概率性的發(fā)生,生產(chǎn)無(wú)法 管控,經(jīng)分析是金屬環(huán)與觸摸距離太近了. 由于硬件及模具都已定型并開(kāi)始小批量生產(chǎn),只能從軟件上解決了:當(dāng)耳機(jī)在充電盒內(nèi)時(shí),屏蔽觸摸功能;這樣就可以解決這種誤動(dòng)作了.經(jīng)驗(yàn)證方法是可行的.
審核編輯:符乾江
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