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如何利用工具模板快速對(duì)TSV陣列進(jìn)行建模

科技綠洲 ? 來(lái)源:芯和半導(dǎo)體 ? 作者:芯和半導(dǎo)體 ? 2022-06-03 09:03 ? 次閱讀

硅通孔(Through Silicon Via,TSV)技術(shù)是一項(xiàng)高密度封裝技術(shù),它正在逐漸取代目前工藝比較成熟的引線鍵合技術(shù),被認(rèn)為是第四代封裝技術(shù)。在2.5D/3D IC中TSV被大規(guī)模應(yīng)用于芯片和封裝基板的互連,以及芯片和芯片的互連。TSV技術(shù)通過(guò)銅、鎢、多晶硅等填充,實(shí)現(xiàn)垂直電氣互連。硅通孔技術(shù)可以通過(guò)垂直互連減小互聯(lián)長(zhǎng)度,降低信號(hào)延遲,降低寄生電容/電感,實(shí)現(xiàn)芯片間的低功耗、高速、寬帶通信和實(shí)現(xiàn)器件集成的小型化。

在結(jié)構(gòu)上,TSV的仿真模型一般可以簡(jiǎn)化為導(dǎo)電柱、種子層和隔離氧化層。TSV互連填充主要依靠電鍍銅的方式進(jìn)行。一般來(lái)說(shuō),在電鍍前,孔內(nèi)和表面需要導(dǎo)電的種子層覆蓋,一般會(huì)以鈦和銅為種子層,超高深徑比或特殊結(jié)構(gòu)可能需要采用金種子層。種子層是電鍍的基本保障,在確保電鍍順利的同時(shí)提供導(dǎo)電特性。

本文介紹了采用芯和半導(dǎo)體ViaExpert軟件進(jìn)行TSV陣列的建模和仿真分析流程。TSV結(jié)構(gòu)復(fù)雜,存在建模繁瑣、分析不便等問(wèn)題。對(duì)經(jīng)常從事TSV仿真的工程師來(lái)說(shuō),如何利用工具模板快速對(duì)TSV陣列進(jìn)行建模并仿真顯得特別重要。

TSV陣列建模流程

1. 調(diào)用TSV模板

首先我們打開(kāi)ViaExpert工具,選擇菜單欄Modeling\Template\TSV圖標(biāo);

pYYBAGKV0SWAcfbZAABeXfZotYg541.png

圖1:TSV模板選擇

點(diǎn)擊TSV圖標(biāo)后,可進(jìn)入TSV建模向?qū)Ы缑妫?/p>

poYBAGKV0S-APqOYAAB_PN5PhTg342.png

圖2:TSV向?qū)Т翱?/p>

2. Padstack 設(shè)置

接下來(lái)點(diǎn)擊TSV Wizard中的Padstack/ Edit或者在Home 菜單下進(jìn)入“Padstack”,根據(jù)TSV的信息設(shè)置Padstack的尺寸;

pYYBAGKV0TiAJMeKAAA-xTNNVGA365.png

圖3:Home菜單

在Pad Designer中Regular Pad為T(mén)SV的直徑,Hole的尺寸可以根據(jù)TSV的結(jié)構(gòu)進(jìn)行設(shè)置,如果是100%的導(dǎo)電柱結(jié)構(gòu),則設(shè)置為和Regular Pad一樣的Drill 尺寸。詳細(xì)的俯視圖和側(cè)視圖可以在窗口的右邊進(jìn)行Preview。

pYYBAGKV0UOAOTYjAACKFGj9byY609.png

圖4:Pad Designer

3. Stackup和Materials 設(shè)置

點(diǎn)擊TSV Wizard中的Stackup/ Edit進(jìn)入Stackup編輯界面,在該界面下用戶可以根據(jù)硅材料的厚度來(lái)進(jìn)行TSV高度的設(shè)置,通常在Si interposer中TSV厚度為50至100um不等。需要注意的是,在Materials編輯窗口中用戶必須指定Si和SiO2的材料屬性,尤其是Si作為半導(dǎo)體既需要定義Conductivity也需要定義Dk和Df值,這樣確保仿真結(jié)果能夠模擬真實(shí)材料特性對(duì)TSV所造成的影響。

poYBAGKV0U2ACbh_AACed-ZCKTM213.png

圖5:Stackup編輯窗口

4. TSV Array 設(shè)置

在TSV Wizard中的Array編輯區(qū)域,用戶可以指定TSV陣列的數(shù)量和間距,在此案例中我們按照下列參數(shù)進(jìn)行設(shè)置:

pYYBAGKV0VuAGKXNAAAYPzA1gwI177.png

圖6:TSV Array編輯

5. Limit Layer 設(shè)置

在TSV Wizard中的Limit Layer編輯區(qū)域;用戶可以指定TSV種子層的金屬厚度和電導(dǎo)率參數(shù),因?yàn)槠鋵?duì)結(jié)果影響微乎其微,一般在簡(jiǎn)化模型中也可不考慮此結(jié)構(gòu)的影響。

pYYBAGKV0XWAZWB9AAAVo6eO02I443.png

圖7:Limit Layer編輯

6. Insulation Layer 設(shè)置

在TSV Wizard中的Insulation編輯區(qū)域,用戶可以指定TSV隔離氧化層的厚度和氧化物的Dk、Df值。在TSV的特性中,隔離氧化層對(duì)電性能影響較大,尤其在氧化層厚度較小時(shí),導(dǎo)電柱和Silicon之間形成較大寄生電容,讓信號(hào)的損耗隨著頻率上升急劇增加。

pYYBAGKV0YKAU9DeAAAYku8PNQ8690.png

圖8:Insulation Layer編輯

7. TSV Type 設(shè)置

在設(shè)置好以上參數(shù)以及模型的Boundary尺寸以后,點(diǎn)擊Next,進(jìn)入TSV種類(lèi)的選擇,用戶可以根據(jù)設(shè)計(jì)需要將TSV陣列中TSV修改為Signal或者Ground類(lèi)型。

pYYBAGKV0c2AQKFLAABa3oik0yg011.png

圖9:TSV類(lèi)型編輯

點(diǎn)擊Finish,即可完成TSV陣列的建模,仿真模型的Port會(huì)自動(dòng)進(jìn)行添加。

poYBAGKV0diABmEeAAEwGRHzLMM666.png

圖10:TSV陣列3D視圖

8. 求解器設(shè)置和啟動(dòng)

在Project Manager中右鍵Analysis進(jìn)入Solver Option界面,用戶可以根據(jù)要求選擇S參數(shù)掃頻范圍、收斂條件以及Core Number等設(shè)置。

pYYBAGKV0eGAYHBtAACE7VkHxGU398.png

圖11:求解器設(shè)置界面

在Project Manager中右鍵Analysis,選擇Run Solver,求解器將開(kāi)始對(duì)整個(gè)TSV陣列的結(jié)構(gòu)進(jìn)行S參數(shù)求解。在Progress的狀態(tài)欄里可以查看仿真的進(jìn)度。

pYYBAGKV0eyAQP9mAAAjoXTWFzE533.png

圖12:仿真進(jìn)度窗口

9. 仿真結(jié)果查看

仿真完成以后,在Project Manager中Results下方會(huì)生成相應(yīng)S參數(shù)結(jié)果,右鍵選擇View Result可在SnpExpert中對(duì)仿真結(jié)果進(jìn)行查看和分析。

poYBAGKV0faAF5c8AACLbcfrD-Y433.png

圖13:S參數(shù)分析窗口

總結(jié)本文介紹了采用芯和半導(dǎo)體ViaExpert軟件進(jìn)行TSV陣列建模與仿真分析的完整流程,步驟包括:Padstack編輯、Stackup和Materials編輯、陣列編輯、隔離層設(shè)置、TSV類(lèi)型選擇等。通過(guò)預(yù)制模板的方式建立TSV陣列,用戶可以有效地提高TSV建模和仿真效率,加快芯片的設(shè)計(jì)和迭代。

審核編輯:彭靜
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