0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫(xiě)文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

PureLine 3技術(shù)可消除97%的探針臺(tái)環(huán)境噪聲

tjxinrui ? 來(lái)源:tjxinrui ? 作者:tjxinrui ? 2022-06-18 15:15 ? 次閱讀

新的PureLine 3技術(shù)可消除97%的環(huán)境噪聲,使頻譜噪聲性能提高32倍。利用該技術(shù),可在片測(cè)量高精度的器件性能,并為IC設(shè)計(jì)者生成器件模型。

早些時(shí)候,我們發(fā)布了一篇博客,宣布推出CM300xi-ULN探針臺(tái)。這一新的在片噪聲測(cè)試金標(biāo)準(zhǔn)具有許多新特點(diǎn),但最重要的特點(diǎn)是PureLine?第三代技術(shù)。

該技術(shù)包含我們的大量專利、電氣設(shè)計(jì)知識(shí)和測(cè)量系統(tǒng)IP,共同為被測(cè)器件(DUT)提供有效的無(wú)噪聲環(huán)境。

與Elite300和CM300探針臺(tái)以前的PureLine版本相比,新的PureLine 3可消除97%的環(huán)境噪聲,使頻譜噪聲性能提高32倍。利用該技術(shù),可在片測(cè)量高精度的器件性能,并為IC設(shè)計(jì)者生成更有價(jià)值的器件模型。

使用具有PureLine 3技術(shù)的新型CM300xi-ULN探針臺(tái),設(shè)備測(cè)試工程師、可靠性工程師和IC設(shè)計(jì)工程師均可從這一最新技術(shù)中受益?,F(xiàn)在可簡(jiǎn)單自動(dòng)地對(duì)先進(jìn)材料、封裝互連、晶體管和IC進(jìn)行精確的閃爍、RTN和相位噪聲測(cè)量,更快地獲取數(shù)據(jù)。

PureLine 3技術(shù)集成到CM300xi-ULN探針臺(tái)的許多組件中,包括:

  • ULN微室?:這為探針臺(tái)、DUT和晶圓卡盤(pán)區(qū)域周圍提供了關(guān)鍵測(cè)量環(huán)境,以進(jìn)行低噪聲測(cè)試。新增強(qiáng)的ULN微室確保了完整的EMI/RFI屏蔽區(qū)域,就像一個(gè)小型的、本地化的大型實(shí)驗(yàn)室法拉第籠。此外,ULN微室提供了所需的黑暗和干燥環(huán)境,這對(duì)于測(cè)量光敏晶體管和在負(fù)溫度(< =-60℃)下無(wú)霜運(yùn)行的器件至關(guān)重要。
  • ULN電力調(diào)節(jié)裝置(PCU):該集成的ULN系統(tǒng)組件可為整個(gè)系統(tǒng)-探針臺(tái)和儀器提供全面管理和過(guò)濾的交流電源。機(jī)架安裝ULN電源調(diào)節(jié)裝置(PCU)的專利PureLine 3技術(shù)使設(shè)備占地面積小、場(chǎng)發(fā)射率低,并為消除探針臺(tái)和儀器之間產(chǎn)生明顯低頻噪聲的接地回路的測(cè)試單元電源管理(TCPM)奠定了基礎(chǔ)。ULN PCU為探針臺(tái)、熱冷卻器和控制器、晶圓裝載器、動(dòng)力配件和所有測(cè)試儀器提供清潔、過(guò)濾的交流電源。此外,PCU為整個(gè)系統(tǒng)和所有儀器的安全運(yùn)行提供統(tǒng)一的緊急斷電/緊急電源控制系統(tǒng)。
  • ULN熱過(guò)濾模塊:ULN熱過(guò)濾模塊包含在所有帶有熱控制晶圓卡盤(pán)的ULN系統(tǒng)中。這對(duì)于在溫度下實(shí)現(xiàn)超低噪聲測(cè)量至關(guān)重要外部熱控系統(tǒng)產(chǎn)生的有害噪聲被過(guò)濾,防止進(jìn)入關(guān)鍵的低噪聲測(cè)量環(huán)境中。有源模塊顯著降低高頻噪聲,1Mhz以上可降低30dB。
  • ULN單點(diǎn)接地和布線系統(tǒng):每個(gè)ULN系統(tǒng)還包括用于所有探針臺(tái)配件的單點(diǎn)接地系統(tǒng),具有低電阻接地連接。PureLine 3的設(shè)計(jì)實(shí)踐為機(jī)械組件提供了低電阻材料和硬連接方案-降低了將不必要的射頻噪聲輸入測(cè)量路徑的天線效應(yīng)。
  • 精確測(cè)量PLL相位噪聲的ULN SMU過(guò)濾模塊:對(duì)于鎖相環(huán)電路(PLL)和壓控振蕩器(VCO)等設(shè)備的高精度相位噪聲測(cè)量,新開(kāi)發(fā)的源測(cè)量單元(SMU)DC過(guò)濾模塊可與CM300xi-ULN探針臺(tái)一起使用,以提供超靜音/清潔的DC電源電壓。高性能DC SMU過(guò)濾模塊可提供高達(dá)100dB的衰減(50Hz至80Mhz),可處理最大100mA DC電流。每個(gè)SMU過(guò)濾模塊支持一個(gè)通道,多個(gè)模塊可配置在一起,以提供多通道清潔電源。
  • ULN智能接觸技術(shù)模塊:新的ULN智能接觸技術(shù)?模塊(1、2和4探針座系統(tǒng))具有PureLine 3降噪功能,使CM300xi-ULN成為世界上第一個(gè)在30μm焊盤(pán)上實(shí)現(xiàn)自主閃爍噪聲熱測(cè)試的探針臺(tái)。利用自動(dòng)化DC測(cè)量助手,CM300xi-ULN可配置為使用帶電動(dòng)探頭定位器的ULN優(yōu)化的
  • Contact Intelligence技術(shù),進(jìn)行完全自主的DC和閃爍噪聲測(cè)量,在不同溫度下實(shí)現(xiàn)全天候自動(dòng)運(yùn)行。

審核編輯:符乾江

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • IC
    IC
    +關(guān)注

    關(guān)注

    36

    文章

    5832

    瀏覽量

    174905
  • 噪聲測(cè)試
    +關(guān)注

    關(guān)注

    1

    文章

    13

    瀏覽量

    10777
收藏 人收藏

    評(píng)論

    相關(guān)推薦

    如何消除放大器中高頻正弦噪聲?

    怎么消除放大器中高頻正弦噪聲
    發(fā)表于 09-18 06:50

    開(kāi)爾文探針測(cè)試原理是什么

    開(kāi)爾文探針測(cè)試(Kelvin Probe Force Microscopy,KPFM)是一種非接觸式表面電勢(shì)測(cè)量技術(shù),廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、表面科學(xué)、納米技術(shù)和生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。KPFM技術(shù)
    的頭像 發(fā)表于 08-27 15:29 ?790次閱讀

    OPA4388如何消除1/f噪聲?

    斬波穩(wěn)零運(yùn)放來(lái)實(shí)現(xiàn):基礎(chǔ)信號(hào)被放大的同時(shí),1/f噪聲在輸出上得到明顯抑制! 目前考慮的是采用OPA4388,但是我們不知道它是否可以有效抑制該噪聲?如果不能,有更合適的芯片推薦嗎? 同時(shí)希望分享一下對(duì)應(yīng)運(yùn)放的消除1/f
    發(fā)表于 08-14 08:16

    分享:晶圓探針測(cè)試中探針臺(tái)的自動(dòng)化控制

    NSAT-1000射頻測(cè)試系統(tǒng)在ATECLOUD測(cè)試平臺(tái)基礎(chǔ)上開(kāi)發(fā)而成,具有強(qiáng)大的兼容性,可以靈活快速接入設(shè)備,自動(dòng)識(shí)別儀器,探針臺(tái)就是其中之一。平臺(tái)會(huì)封裝探針臺(tái)的儀器指令,對(duì)其進(jìn)行兼
    的頭像 發(fā)表于 07-18 17:50 ?223次閱讀
    分享:晶圓<b class='flag-5'>探針</b>測(cè)試中<b class='flag-5'>探針</b><b class='flag-5'>臺(tái)</b>的自動(dòng)化控制

    環(huán)境功能區(qū)噪聲測(cè)量的方法

    環(huán)境功能區(qū)噪聲測(cè)量是環(huán)境保護(hù)和城市規(guī)劃中的重要環(huán)節(jié)。本文將詳細(xì)介紹聲環(huán)境功能區(qū)噪聲測(cè)量的方法,包括測(cè)量目的、測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)、測(cè)量設(shè)備、測(cè)量步驟、
    的頭像 發(fā)表于 06-03 16:31 ?462次閱讀

    數(shù)字源表四探針法測(cè)試水凝膠電導(dǎo)率

    水凝膠電導(dǎo)率測(cè)試常用四探針法進(jìn)行測(cè)試,優(yōu)勢(shì)在于分離電流和電壓電極,消除布線及探針接觸電阻的阻抗影響。
    的頭像 發(fā)表于 04-01 11:19 ?722次閱讀
    數(shù)字源表四<b class='flag-5'>探針</b>法測(cè)試水凝膠電導(dǎo)率

    NSAT-1000測(cè)試系統(tǒng)與ACCRETECH探針臺(tái)對(duì)接,助力晶圓芯片批量自動(dòng)化測(cè)試

    在用NSAT-1000系統(tǒng)測(cè)試時(shí),實(shí)現(xiàn)了測(cè)試系統(tǒng)與ACCRETECH探針臺(tái)和網(wǎng)絡(luò)分析儀之間的通訊,通過(guò)探針臺(tái)獲取產(chǎn)品狀態(tài)、位置信息,配合網(wǎng)絡(luò)分析儀完成產(chǎn)品測(cè)試。
    的頭像 發(fā)表于 03-25 16:07 ?366次閱讀
    NSAT-1000測(cè)試系統(tǒng)與ACCRETECH<b class='flag-5'>探針</b><b class='flag-5'>臺(tái)</b>對(duì)接,助力晶圓芯片批量自動(dòng)化測(cè)試

    探針測(cè)試臺(tái)工作原理 探針測(cè)試臺(tái)為嘛測(cè)試會(huì)偏大?

    探針測(cè)試臺(tái)是一種用于測(cè)試集成電路(IC)的設(shè)備,工作原理是將待測(cè)試的IC芯片安裝在測(cè)試座上,然后通過(guò)探針接觸到芯片的引腳,以測(cè)試芯片的功能和性能。在測(cè)試過(guò)程中,探針測(cè)試
    的頭像 發(fā)表于 02-04 15:14 ?3366次閱讀

    CASCADE探針臺(tái)的應(yīng)用場(chǎng)景 cascade探針臺(tái)用途

    CASCADE探針臺(tái)是一種高級(jí)的網(wǎng)絡(luò)分析工具,可以在網(wǎng)絡(luò)中捕獲和分析數(shù)據(jù)流量。它可以幫助企業(yè)識(shí)別和解決網(wǎng)絡(luò)性能問(wèn)題、網(wǎng)絡(luò)安全問(wèn)題以及網(wǎng)絡(luò)優(yōu)化等方面的挑戰(zhàn)。CASCADE探針臺(tái)具有廣泛的
    的頭像 發(fā)表于 01-31 14:41 ?2304次閱讀

    求助,請(qǐng)問(wèn)ADC檢測(cè)是否要用小電容消除噪聲

    ADC檢測(cè)是否要用一個(gè)小電容消除噪聲?
    發(fā)表于 01-17 06:57

    LTC1067-50的輸出噪聲如何消除?

    會(huì)有一個(gè)頻率在10k附近,波形接近正弦,幅值變化的噪聲信號(hào)。如波形圖所示,拆去C60、R70,AC耦合測(cè)試TP31(黃色波形)和TP3(綠色波形)。CLK信號(hào)不開(kāi)啟時(shí)沒(méi)有噪聲。將電路改成LTC1067
    發(fā)表于 01-03 10:03

    為什么暗室環(huán)境噪聲最好要低于限值6dB?

    從以上推導(dǎo)來(lái)看,當(dāng)環(huán)境噪聲電平比限值低6dB時(shí),EUT實(shí)際輻射信號(hào)值與測(cè)量值的誤差為0.97dB;當(dāng)環(huán)境噪聲電平比限值低10dB時(shí),EUT實(shí)際輻射信號(hào)值與測(cè)量值的誤差為0.41dB,即環(huán)境噪聲電平越低則測(cè)量的綜合值越接近EUT的
    的頭像 發(fā)表于 12-10 09:21 ?1276次閱讀
    為什么暗室<b class='flag-5'>環(huán)境噪聲</b>最好要低于限值6dB?

    模擬信號(hào)上疊加的干擾噪聲,可以用限幅的方法予以消除?

    模擬信號(hào)上疊加的干擾噪聲,可以用限幅的方法予以消除? 限幅是一種常用的信號(hào)處理方法,在模擬信號(hào)中疊加的干擾噪聲中,限幅可以部分或完全消除這些干擾噪聲
    的頭像 發(fā)表于 11-20 16:36 ?892次閱讀

    通過(guò)示波器探針測(cè)量開(kāi)關(guān)電源的噪聲

    問(wèn):通過(guò)探針測(cè)量電源噪聲 開(kāi)關(guān)電源通常在其開(kāi)關(guān)頻率的諧波處或與開(kāi)關(guān)頻率相干的位置產(chǎn)生干擾性EMI噪聲。由于電源噪聲的帶寬很大,因此示波器通常是測(cè)量此
    的頭像 發(fā)表于 11-09 10:45 ?670次閱讀
    通過(guò)示波器<b class='flag-5'>探針</b>測(cè)量開(kāi)關(guān)電源的<b class='flag-5'>噪聲</b>

    電源噪聲測(cè)不準(zhǔn)?請(qǐng)檢查一下你的探針!

    Q A 問(wèn): 通過(guò)探針測(cè)量電源噪聲 開(kāi)關(guān)電源通常在其開(kāi)關(guān)頻率的諧波處或與開(kāi)關(guān)頻率相干的位置產(chǎn)生干擾性EMI噪聲。由于電源噪聲的帶寬很大,因此示波器通常是測(cè)量此
    的頭像 發(fā)表于 11-09 10:45 ?291次閱讀
    電源<b class='flag-5'>噪聲</b>測(cè)不準(zhǔn)?請(qǐng)檢查一下你的<b class='flag-5'>探針</b>!