電機(jī)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)中的過(guò)流類型分析 隔離比較器在電機(jī)過(guò)流保護(hù)中的應(yīng)用

電機(jī)在工業(yè)領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用，而電機(jī)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)的趨勢(shì)是高效率，高功率密度和高可靠性。功率半導(dǎo)體供應(yīng)商不斷在導(dǎo)通損耗和開(kāi)關(guān)速度上實(shí)現(xiàn)突破，推出更高的電流等級(jí)、更小的封裝尺寸以及更短的短路耐受時(shí)間的半導(dǎo)體器件。并且隨著寬禁帶半導(dǎo)體器件成本降低，也使得電機(jī)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)逐步開(kāi)始使用SiC,GaN器件。這些功率器件的發(fā)展及應(yīng)用使得電機(jī)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)的效率以及功率密度得到了提高，但也對(duì)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)的可靠性，尤其過(guò)流及短路保護(hù)的響應(yīng)時(shí)間提出了更高的要求。

本文將詳細(xì)介紹工業(yè)電機(jī)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)中的過(guò)流現(xiàn)象，以及TI隔離比較器在過(guò)流保護(hù)中的應(yīng)用。

電機(jī)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)中的過(guò)流類型分析

一般工業(yè)電機(jī)驅(qū)動(dòng)器的應(yīng)用環(huán)境復(fù)雜且相對(duì)惡劣，可能會(huì)出現(xiàn)高溫、機(jī)械過(guò)載、交流線路瞬變以及接線錯(cuò)誤等突發(fā)狀況，這些可能會(huì)導(dǎo)致過(guò)大的電流流入電機(jī)驅(qū)動(dòng)器系統(tǒng)，從而導(dǎo)致驅(qū)動(dòng)器損壞。電機(jī)驅(qū)動(dòng)器系統(tǒng)中常見(jiàn)的三種過(guò)流現(xiàn)象如下圖所示。

橋臂直通。電機(jī)驅(qū)動(dòng)器橋臂直通可能由兩種情況導(dǎo)致：

不正確的開(kāi)關(guān)邏輯導(dǎo)致同一橋臂的兩個(gè)開(kāi)關(guān)管同時(shí)開(kāi)通，這種不正確的開(kāi)關(guān)邏輯可能是由控制器故障或者電磁干擾引起的。

其中一個(gè)開(kāi)關(guān)管損壞短路，而另一個(gè)開(kāi)關(guān)管保持正常開(kāi)關(guān)。

相對(duì)地短路。驅(qū)動(dòng)器系統(tǒng)過(guò)溫或者過(guò)壓導(dǎo)致電機(jī)繞組絕緣擊穿，對(duì)地短路。這種過(guò)流現(xiàn)象可能會(huì)損壞電機(jī)線纜。

相間短路。驅(qū)動(dòng)器系統(tǒng)過(guò)溫或者過(guò)壓導(dǎo)致電機(jī)繞組絕緣擊穿，導(dǎo)致相對(duì)相短路。這種過(guò)流現(xiàn)象可能會(huì)損壞電機(jī)線纜。

相對(duì)而言，電機(jī)本體可以在較長(zhǎng)的時(shí)間內(nèi)承受一定的過(guò)流；但開(kāi)關(guān)管作為電機(jī)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)中最重要的組成部分，對(duì)短路電流的耐受時(shí)間只有微秒級(jí)，所以有效的過(guò)流檢測(cè)和保護(hù)對(duì)電機(jī)系統(tǒng)的安全可靠具有重要意義。

隔離比較器在電機(jī)過(guò)流保護(hù)中的應(yīng)用

目前電機(jī)驅(qū)動(dòng)器系統(tǒng)常采用的過(guò)流檢測(cè)方案是通用比較器和隔離光耦的組合方案，這種方案的體積大，響應(yīng)時(shí)間在3～5μs之間。過(guò)去IGBT對(duì)短路耐受時(shí)間是10 μs左右，而隨著功率器件的發(fā)展革新，短路耐受時(shí)間縮短到5 μs，甚至1 μs。

TI的隔離比較器產(chǎn)品AMC23C1x具有響應(yīng)速度快（290ns）、參考閾值精度高（±1%）、體積小、功耗低等優(yōu)勢(shì)。低邊側(cè)供電電壓范圍是2.7～5V，高邊側(cè)供電電壓范圍是3～27V，高邊側(cè)的寬輸入電壓范圍使得隔離比較器的供電方式更加靈活，可以使用系統(tǒng)中的5V或者和驅(qū)動(dòng)芯片共用電源。

TI隔離比較器產(chǎn)品集如下表，詳細(xì)性能信息，請(qǐng)參考TI官網(wǎng)的產(chǎn)品數(shù)據(jù)手冊(cè)。

以AMC23C12為例，其工作模式分為L(zhǎng)atch和Transparent模式，可以通過(guò)芯片Latch引腳進(jìn)行設(shè)置。并且正負(fù)比較器的翻轉(zhuǎn)電平Vit+和Vit-之間均存在4mV的滯環(huán)，以提高抗干擾能力，避免誤觸發(fā)。

圖4 功能波形圖

電機(jī)驅(qū)動(dòng)器過(guò)流檢測(cè)方式主要有以下四種，其中前三種可以使用TI隔離比較器來(lái)實(shí)現(xiàn)。

DC_ 電流檢測(cè)，在DC_使用隔離運(yùn)放進(jìn)行電流檢測(cè)，電路設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)橋臂直通以及相間過(guò)流的保護(hù)，但是無(wú)法檢測(cè)到對(duì)地過(guò)流情況。

DC+ 電流檢測(cè)，在DC+使用隔離運(yùn)放進(jìn)行電流檢測(cè)，可實(shí)現(xiàn)對(duì)橋臂直通、相間過(guò)流以及對(duì)地過(guò)流的檢測(cè)與保護(hù)，增加系統(tǒng)的安全可靠性。但相對(duì)應(yīng)地，需要額外的高邊電源給隔離比較器供電。

相電流檢測(cè)，隔離比較器與隔離運(yùn)放搭配使用，對(duì)相電流進(jìn)行監(jiān)測(cè)，可以實(shí)現(xiàn)相間過(guò)流以及對(duì)地過(guò)流檢測(cè)，但是無(wú)法對(duì)橋臂直通進(jìn)行有效檢測(cè)與保護(hù)。

DESAT保護(hù)一般集成在驅(qū)動(dòng)芯片中，用于功率較大的電機(jī)驅(qū)動(dòng)器系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)成本較高，且無(wú)法實(shí)現(xiàn)對(duì)地過(guò)流保護(hù)。

以上過(guò)流檢測(cè)及保護(hù)方案可以組合使用，以實(shí)現(xiàn)驅(qū)動(dòng)器系統(tǒng)的可靠安全過(guò)流保護(hù)。

綜上，隨著功率器件的短路耐受時(shí)間下降至1 μs的水平，在極短的時(shí)間內(nèi)檢測(cè)并保護(hù)驅(qū)動(dòng)器過(guò)流和短路情況正變得越來(lái)越重要。TI隔離比較器為實(shí)現(xiàn)工業(yè)電機(jī)驅(qū)動(dòng)器的過(guò)流以及短路保護(hù)以及提高系統(tǒng)可靠性、減小系統(tǒng)體積提供了有效方案。

審核編輯：湯梓紅