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Nanodcal半導(dǎo)體器件:計算n型摻雜NiSi2-Si器件的輸運特性

鴻之微 ? 來源:鴻之微 ? 作者:鴻之微 ? 2022-09-07 16:38 ? 次閱讀

Nanodcal是一款基于非平衡態(tài)格林函數(shù)-密度泛函理論(NEGF - DFT)的第一性原理計算軟件,主要用于模擬器件材料中的非線性、非平衡的量子輸運過程,是目前國內(nèi)擁有自主知識產(chǎn)權(quán)的基于第一性原理的輸運軟件。可預(yù)測材料的電流 - 電壓特性、電子透射幾率等眾多輸運性質(zhì)。

迄今為止,Nanodcal 已成功應(yīng)用于1維、2維、3維材料物性、分子電子器件、自旋電子器件、光電流器件、半導(dǎo)體電子器件設(shè)計等重要研究課題中,并將逐步推廣到更廣闊的電子輸運性質(zhì)研究的領(lǐng)域。

本期將給大家介紹Nanodcal半導(dǎo)體器件2.7.3的內(nèi)容。

2.7.3. 計算n型摻雜NiSi2-Si器件的輸運特性

Nanodcal軟件通過虛晶近似(Virtual Crystal Approximation,VCA)的方法實現(xiàn)半導(dǎo)體的n型或者p型摻雜。為了確保Si在中心區(qū)域的長度大于耗盡層的寬度,選用一個較長的n型摻雜NiSi2-Si器件進(jìn)行輸運特性計算。

2.7.3.1. 生成Si原子的VCA基組文件

(1)雙擊圖標(biāo)“DeviceStudio快捷方式”打開軟件;

(2)選擇Create a new Project→OK→文件名:Si,保存類型:ProjectFiles(*.hpf)→

保存即可;

(3)從數(shù)據(jù)庫中導(dǎo)入Si晶體,如下:

File→Import→3DmaterialsConductorPure_metalSi打開即可:

674f7a4a-2d13-11ed-ba43-dac502259ad0.png

圖 2-52:導(dǎo)入晶體Si界面操作圖

(4)選擇Simulator→Nanodcal→Virtual Crystal Approximation,進(jìn)入VCA設(shè)置界面,如下:選擇Mixture vacancy

676f9366-2d13-11ed-ba43-dac502259ad0.png

圖 2-53:VCA設(shè)置界面圖

價電子的占有率設(shè)為1.00005。點擊Generate Files生成VCA.input文件。右擊VCA.input文件,選擇Run,即可實現(xiàn)Nanodcal在Device Studio中的一體化計算。

(5)計算完成后,右擊VCA.input,選擇Open Containing Folder,打開所在文件夾,產(chǎn)生了新的基組文件:Si_VCA_Si1.00005.mat

2.7.3.2. 自洽計算

(1)基組文件:Si_PBE-DZP.nad、Ni_PBE-DZP.nad和Si_VCA_Si1.00005.mat。左電極自洽計算的輸入文件及方法與1.2.1小節(jié)相同

(2)右電極進(jìn)行了摻雜,scf.input中Si原子的軌道類型變?yōu)閂CA_Si1.00005,如下:

67954b74-2d13-11ed-ba43-dac502259ad0.png

(3)同樣,在中心區(qū)的自洽輸入文件scf.input中,被摻雜Si原子相應(yīng)的軌道類型也變?yōu)閂CA_Si1.00005,如下:

67bbc862-2d13-11ed-ba43-dac502259ad0.png

(4)自洽計算結(jié)束后,采用1.2.3和1.2.6小節(jié)的方法,計算n型摻雜的NiSi2-Si器件的勢分布和投影態(tài)密度(PDOS),如下:

67fa861a-2d13-11ed-ba43-dac502259ad0.png

圖 2-54:n型摻雜NiSi2-Si勢分布可視化圖

68eaa032-2d13-11ed-ba43-dac502259ad0.png

圖 2-55:n型摻雜NiSi2-SiPDOS可視化圖

2.7.3.3. 非平衡態(tài)下的輸運特性

(1)偏壓Vbias被定義為VL-VR。對器件施加0.3 V偏壓,中心區(qū)的輸入文件scf.input改變

69374b4e-2d13-11ed-ba43-dac502259ad0.png

(2)在自洽完成的基礎(chǔ)上,進(jìn)行電流計算

準(zhǔn)備輸入文件ivcurve.input

69599f0a-2d13-11ed-ba43-dac502259ad0.png

右擊Project窗口中的ivcurve.input文件,選擇Run→Run,計算電流;計算結(jié)束后,會產(chǎn)生以下輸出文件:CalculatedResults.mat、log.txt、CurrentVoltageCurves.mat、CurrentVoltageCurves.xml。最后,查看數(shù)據(jù),在Matlab界面,使用如下命令來查看數(shù)據(jù):


69746ae2-2d13-11ed-ba43-dac502259ad0.png

(3)對n型摻雜的NiSi2-Si器件施加一系列偏壓,得到I-V曲線如下:

699950c8-2d13-11ed-ba43-dac502259ad0.png

圖 2-56:NiSi2-Si的IV曲線圖

2.7.3.4. 耗盡層WD與摻雜濃度的關(guān)系

為了使模擬達(dá)到合理的目標(biāo),我們需要確保硅在中心區(qū)域的長度大于耗盡層的寬度。這里我們對器件進(jìn)行1019、1020和1022cm-3濃度的n型摻雜,計算它們的勢分布。其中VCA基組生成,自洽計算和勢分布計算的方法與上述1.3.1和1.3.2相同。

WD與摻雜濃度N的關(guān)系如下:

69cb56ea-2d13-11ed-ba43-dac502259ad0.png
圖 2-60:WD與摻雜濃度N關(guān)系圖

編輯:黃飛

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原文標(biāo)題:產(chǎn)品教程|Nanodcal半導(dǎo)體器件(摻雜的NiSi2-Si半導(dǎo)體器件的輸運特性02)

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