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USB-C供電數(shù)據(jù)線需要增強保護

星星科技指導(dǎo)員 ? 來源:ADI ? 作者:ADI ? 2022-12-15 11:36 ? 次閱讀

USB-C 和 USB-C 供電提高了電壓和功率水平。與USB Micro-B相比,引腳間距更緊密的新型可逆連接器增加了短路的風(fēng)險。再加上便攜式設(shè)備日益復(fù)雜,導(dǎo)致ESD、浪涌和過壓保護要求越來越高。在此設(shè)計解決方案中,我們提出了一種緊湊、功能齊全的保護IC,可以顯著降低BOM和PCB空間占用。

介紹

新的 USB Type-C (USB-C) 電纜和連接器規(guī)范極大地簡化了數(shù)碼相機和超薄平板電腦電子產(chǎn)品的互連和供電方式(圖 1)。該規(guī)范支持高達 15W 的 USB-C 充電應(yīng)用,USB-C 供電 (PD) 可將充電功率擴展到 100W,包括可互換充電的各種不同設(shè)備。USB Type-C在保護系統(tǒng)方面帶來了新的挑戰(zhàn)。新連接器的間距比USB Micro-B的間距小,這導(dǎo)致VBUS機械短路的風(fēng)險增加。此外,由于與USB PD相關(guān)的高電壓,需要更強大的保護。最后,電子負載的復(fù)雜性不斷增加,需要增強ESD和電壓浪涌保護。該設(shè)計解決方案回顧了USB Type-C PD架構(gòu)以及與D+/D-數(shù)據(jù)信號保護相關(guān)的挑戰(zhàn)。然后,它提出了一個高度集成的2 x SPDT開關(guān),可以以最小的BOM和PCB占用來應(yīng)對這些挑戰(zhàn)。

USB-C PD 系統(tǒng)

圖 2顯示了一個典型的便攜式電源管理設(shè)備前端,該設(shè)備配備連接到 USB-C 電纜并由鋰離子 (Li+) 電池供電。

當(dāng) VBUS 存在時,它會為充電器、系統(tǒng)和其余模塊供電。在此階段,電池充電。當(dāng) VBUS 斷開連接時,電池將為系統(tǒng)供電。使用 USB-C 電纜,CC1 和 CC2 引腳確定端口連接、電纜方向、角色檢測和端口控制。D+/D-線路是標(biāo)準(zhǔn)的USB-C通信線路,以480Mbps的速度處理數(shù)據(jù),并受D+/D-保護設(shè)備保護。PD 控制器實現(xiàn)供電協(xié)議。

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圖2.USB PD 電源管理系統(tǒng)。

保護挑戰(zhàn)

電源中的電涌和靜電放電 (ESD) 很常見,可能會干擾或損壞電子負載和設(shè)備。ESD是由靜電電荷從身體轉(zhuǎn)移到電子電路引起的,是手持電子設(shè)備的一大問題。浪涌可能是由雷電引起的,也可能是在雷擊附近鋪設(shè)的長電纜中引起的。開關(guān)或繼電器在開和關(guān)操作期間可能會導(dǎo)致浪涌。負載突降是通過切斷汽車上的電池連接而產(chǎn)生的浪涌。一個好的數(shù)據(jù)線保護IC應(yīng)該提供足夠的保護,而不會顯著降低數(shù)據(jù)。

集成解決方案

例如,MAX20334是一款具有過壓保護功能的2 x SPDT開關(guān),適用于便攜式設(shè)備(圖3)。該 IC 設(shè)計用于保護下游數(shù)據(jù)線免受高壓短路、ESD 或浪涌事件的影響。該器件結(jié)合了便攜式電子產(chǎn)品中高性能開關(guān)應(yīng)用所需的低導(dǎo)通電容和低導(dǎo)通電阻。該 IC 具有內(nèi)部正過壓和浪涌保護功能。該器件可處理 USB 低速/全速/高速信號傳輸,采用 2.7V 至 5.5V 電源供電。該 IC 采用 12 焊球 (1.23mm x 1.63mm) 晶圓級封裝 (WLP),工作溫度范圍為 -40°C 至 +85°C。

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圖3.2 x SPDT 開關(guān),帶擴展保護。

擴展保護

所有引腳均采用ESD保護結(jié)構(gòu),以防止在處理和組裝過程中遇到高達±2kV(人體模型)的靜電放電。COMA和COMB(圖2和3)進一步防止高達±15kV(人體模型),±15kV(IEC 61000-4-2中描述的氣隙放電方法)和±8kV(IEC61000-4-2中描述的接觸放電方法)的ESD,而不會損壞。ESD 結(jié)構(gòu)可承受高 ESD,無論是在正常工作時還是在器件斷電時。ESD事件發(fā)生后,IC繼續(xù)工作,無需閂鎖。該IC具有-30V至+45V浪涌保護(IEC61000-4-5)和高達+20.5V的過壓保護。

圖4將這種高度集成的擴展保護解決方案的PCB布局與提供僅正電涌保護以及較低OV和ESD保護的典型競爭器件進行了比較。后者將需要額外的電路來滿足ESD/浪涌/OV規(guī)范,從而導(dǎo)致更昂貴的BOM和5倍的PCB有效占用。

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圖4.擴展保護優(yōu)勢。

數(shù)據(jù)完整性

圖5中的眼圖一目了然地顯示了數(shù)據(jù)信號的良好完整性水平,因為彎曲的藍線與禁止的紅色區(qū)域保持接近最大距離。保護IC的高帶寬導(dǎo)致信號上升和下降時間和抖動的減速最小,從而產(chǎn)生良好的誤差余量,這對于通過USB一致性測試非常重要。

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圖5.D+/D-眼圖。

結(jié)論

USB Type-C在互連,電源和保護我們的電子產(chǎn)品(如數(shù)碼相機和超薄平板電腦)方面帶來了新的挑戰(zhàn)。新連接器的間距比USB Micro-B小,導(dǎo)致VBUS機械短路的風(fēng)險增加。此外,由于與USB PD相關(guān)的高電壓,需要更強大的保護。最后,電子負載的復(fù)雜性不斷增加,需要增強ESD和電壓浪涌保護。在該設(shè)計解決方案中,我們展示了具有高達±15kV ESD保護、-30V至+45V浪涌保護和+20.5V過壓保護的增強型保護器件可以單手保護數(shù)據(jù)線,并且與集成度較低的器件相比,滿足ESD/浪涌/OV規(guī)范,具有更低的BOM和更小的PCB有效面積占用。

審核編輯:郭婷

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