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CMOS源電阻及其對(duì)源極跟隨器增益的影響

星星科技指導(dǎo)員 ? 來(lái)源:ADI ? 作者:ADI ? 2023-03-08 16:27 ? 次閱讀

CMOS源極跟隨器不是容易設(shè)計(jì)的電路,但通過(guò)仔細(xì)分析并在BSIM模型中考慮源電阻,設(shè)計(jì)人員可以獲得更準(zhǔn)確的結(jié)果,從而在低噪聲放大器的設(shè)計(jì)中實(shí)現(xiàn)更好的匹配。

介紹

CMOS源跟隨器很難使用CMOS器件進(jìn)行設(shè)計(jì),因?yàn)榕c雙極結(jié)型晶體管(BJT)相比,CMOS器件的跨導(dǎo)較低。因此,非常規(guī)跟隨器必須設(shè)計(jì)為提供接近1的增益。相比之下,簡(jiǎn)單共漏極跟隨器的增益遠(yuǎn)小于1。然而,經(jīng)過(guò)分析,您可以看到,不僅跨導(dǎo)會(huì)影響放大器的增益,隨著半導(dǎo)體工藝的縮小和器件的縮小,源電阻(RS)也會(huì)導(dǎo)致增益減少。

增益測(cè)量

圖1所示電路為一個(gè)簡(jiǎn)單的共漏放大器,用于測(cè)量增益。

pYYBAGQCuqyAD8rrAAAHUiHHZ5o058.gif


圖1.用于增益測(cè)量的測(cè)試電路。

圖2所示為可從1電路得出的小信號(hào)模型。

poYBAGQCuqyAbv2iAAALQrknr_Q539.gif


圖2.圖1電路的小信號(hào)模型。

從圖2可以看出,簡(jiǎn)單共漏極跟隨器的增益(G)為:

pYYBAGQCuq2AclAVAAACiyPzKqw576.gif

其中 gL是負(fù)載的跨阻(RL), gDS是漏源電阻的跨阻(RDS) 和 gm是CMOS跨導(dǎo)。

使用臺(tái)積電0.18μm工藝和寬度為1μm、長(zhǎng)度為1.5μm的CMOS器件(圖0 nFET,M18),在100kHz下獲得10mV AC波形的預(yù)期增益和測(cè)量增益(見(jiàn)表1)。

表 1.簡(jiǎn)單共漏極跟隨器的測(cè)量增益

VG(DC) (V) Expected Gain Measured Gain
1.2 0.836 0.655
1.0 0.7490 0.63
0.9 0.703 0.612
0.75 0.631 0.56

表1結(jié)果顯示,增益存在額外的損耗,這是由RS.

計(jì)算源電阻(RS)

圖3顯示了為2小信號(hào)模型計(jì)算直流解決方案后得出的電路。

poYBAGQCuq6Ab1zhAAANdTlPxJ4295.gif


圖3.簡(jiǎn)單共漏極跟隨器的直流模型。

可以使用圖 3 模型從仿真中提取以下參數(shù)

IDC:測(cè)量的直流電流
VS:電源電壓
VIN:10kHz 時(shí)的交流輸入電壓 (100mV)
VDD:電源電壓
RDS:漏源電阻
從這些中,您可以使用以下方法計(jì)算內(nèi)在gm':

pYYBAGQCuq-AMw2hAAAB0X03NkY491.gif

其中 IDC' 只是:

poYBAGQCurCAVxQ1AAABavY0Mp4519.gif

和:

pYYBAGQCurCAEYE7AAACSe7AVR0817.gif

假設(shè):

poYBAGQCurGAWefdAAABXxuumTw778.gif

和:

pYYBAGQCurKADYLUAAAC2zJAWso447.gif

其中β是晶體管的直流增益,UO是表面遷移率,C牛是單位面積的柵極氧化物電容,W是晶體管柵極寬度,L是晶體管柵極長(zhǎng)度。

注:內(nèi)在的gm' 只能使用測(cè)量的直流電流進(jìn)行測(cè)量,因?yàn)?V一般事務(wù)人員' 沒(méi)有 R 就無(wú)法測(cè)量S.

使用圖2小信號(hào)模型,可以推導(dǎo)出以下測(cè)量增益公式。這個(gè)方程考慮了g的影響m' 由 RDS,如前所述。

poYBAGQCurOAUdR8AAAFDwAi240416.gif

測(cè)量源電阻(RS)

R型S表2中的結(jié)果是使用用于增益測(cè)量的相同晶體管獲得的(寬度= 5μm,長(zhǎng)度= 0.18μm,100kHz時(shí)輸入交流波形為10mV)。

表 2.測(cè)量簡(jiǎn)單共漏極跟隨器的源極電阻

VG(DC) (V) IDC (μA) gm' (mA/V) RS (Ω)
1.2 364 2.75 370
1.0 251 2.26 357
0.9 197 1.99 357
0.75 119 1.52 375

結(jié)論

從本文顯示的結(jié)果可以看出,RS是一個(gè)有效的關(guān)注點(diǎn),并且對(duì)源追隨者的收益有重大影響。結(jié)果顯示 R 值的分布為 5%S,這可能是由于對(duì) R 值的估計(jì)DS模擬時(shí)。還值得一提的是,R的值S影響計(jì)算的跨導(dǎo)值——這是因?yàn)榭鐚?dǎo)目前是使用測(cè)量的 V 計(jì)算的一般事務(wù)人員值,包括 R 兩端的壓降S這被假定在價(jià)值上可以忽略不計(jì)。但是,因?yàn)镽S是真實(shí)的,并且源極電阻兩端存在有效的壓降,晶體管的V一般事務(wù)人員有效降低,進(jìn)而降低CMOS器件的跨導(dǎo)性。

使用寬度為5μm至10μm的晶體管,人們會(huì)期望RS減少一半。然而,事實(shí)并非如此,由此產(chǎn)生的測(cè)量結(jié)果突出表明電阻值相似。經(jīng)過(guò)進(jìn)一步調(diào)查,發(fā)現(xiàn)所使用的設(shè)計(jì)套件基于最小源面積進(jìn)行計(jì)算。無(wú)需在晶體管模型中添加 BSIM 參數(shù),RS在大多數(shù)情況下,計(jì)算和模擬不準(zhǔn)確。這意味著在計(jì)算晶體管跨導(dǎo)等測(cè)量值時(shí),真實(shí)硅和仿真之間始終存在不匹配。RF設(shè)計(jì)(如MAX2645低噪聲放大器)已經(jīng)考慮到了這一點(diǎn),其中匹配對(duì)于防止插入和電壓波反射引起的損耗至關(guān)重要。在使用標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)套件的基帶設(shè)計(jì)中,這個(gè)問(wèn)題可能會(huì)被忽視。

審核編輯:郭婷

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