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會議名稱：

會議時間：

2023年03月28日 09:00–16:40

會議地點：

北京市海淀區(qū)西土城路1號院1號樓，北京泰富酒店，3層泰富廳

峰會關鍵詞：

本次峰會，將會探討6G前沿技術，5G與B5G行業(yè)發(fā)展概況，R16/17/18標準發(fā)展概覽，RedCap，NTN，高算力，汽車芯片與消費類芯片測試，涉及的標準包括UCIe，PCIe 5.0/6.0，存儲技術DDR，智能汽車Serdes，MIPI，USB，DP，HDMI等。

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會議日程：

上午主會場：

時間	議題	演講人、單位
0930	簽到
0940	歡迎致辭	鄭紀峰是德科技
0910	展望6G，迎接未來的挑戰(zhàn)	封翔是德科技
1040	B5G發(fā)展趨勢及R16/R17/R18標準進展介紹	祝思婷泰爾終端實驗室
1010	數智時代的芯片趨勢和未來	何進北京大學深圳系統(tǒng)芯片設計重點實驗室
1140	是德科技芯片測試方案概覽	李凱是德科技
1100	午餐，交流

下午5G分會場：

時間	主題	演講人
1340	5G Rel 16/17/18 標準概述和測試解決方案更新	孫長明
1320	助力物聯(lián)網發(fā)展5G RedCap技術	路志義
1400	使用全面的測試解決方案加速 NTN 設計	張坤利
1510	休息，demo展示
1550	克服終端設備和基站之間的大規(guī)模 MIMO 波束成形挑戰(zhàn)	宋迎賓
1530	Network Digital Twins for 5G	張坤利
1640	抽獎，答疑

下午芯片測試分會場：

時間	IC 專場	演講人
1340	2023推陳出新，是德科技新產品，新方案概覽	陽任平米洪波
1320	全面評估第三代半導體，從靜態(tài)到動態(tài)參數測試	孫承志
1400	計算芯片與接口測試 UCIe，PCIe, CXL, DDR	趙傳猛
1510	休息，demo展示
1550	智能汽車與消費類終端芯片測試MIPI, USB, 車載Serdes	朱夢
1530	微波毫米波單片測試	米洪波
1640	抽獎，答疑

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原文標題：分享有禮【3月28日|北京】是德科技通信與芯片測試行業(yè)峰會

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