技術(shù)迭代,驅(qū)動挑戰(zhàn)
用芯智測,啟智未來
立足根本,測試為先
TIF 2023 是一個融合性、持續(xù)性的全方位共創(chuàng)交流平臺。
我們邀請半導(dǎo)體,汽車行業(yè)的領(lǐng)導(dǎo)者與泰克公司的測試專家匯聚一堂,共同見證新形態(tài)和新生態(tài)下,如何從測試維度及大數(shù)據(jù)來加速新技術(shù)的迭代!
論壇時間:2023年6月29-30日
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2023泰克創(chuàng)新論壇
6月29日線下峰會
會議地址:上海市黃浦區(qū)西藏中路555號雅居樂萬豪侯爵酒店5F宴會廳
與大咖面對面
- 業(yè)界先鋒與資深KOL圓桌共話
- "水哥測試局"硬核赴約
- 遠(yuǎn)程連線先進(jìn)半導(dǎo)體實(shí)驗(yàn)室
- 半導(dǎo)體芯片全產(chǎn)業(yè)鏈應(yīng)用方案解析
- 從測試維度洞見汽車行業(yè)新生態(tài)典型應(yīng)用
2023泰克創(chuàng)新論壇
6月30日云上論壇
國際重磅大咖主題演講
NASA航天工程師
火星探索經(jīng)歷分享
斯坦福大學(xué)教授
自動駕駛未來誰將掌舵?
馬薩諸塞大學(xué)教授
探究AI終身學(xué)習(xí)
2023泰克創(chuàng)新論壇
三大熱門分論壇
泰克致力于成為智能汽車測試的領(lǐng)跑者,走在行業(yè)發(fā)展趨勢前沿,聚焦智能座艙、自動駕駛和汽車三電領(lǐng)域,持續(xù)投入和專注于智能汽車測試的重要測試點(diǎn),為客戶提供安全、可靠、高效的智慧出行測試解決方案。
本分會場中,將為您帶來技術(shù)分享課程:
■800V電驅(qū)SiC測試挑戰(zhàn)
■智能網(wǎng)聯(lián)汽車高速總線應(yīng)用測試方案
■電池直流內(nèi)阻:源表測試三步法
■無刷直流電機(jī)的全新測試技術(shù)分享
■...
以SiC,GaN為代表的第三代半導(dǎo)體給客戶帶來更多的測試和應(yīng)用挑戰(zhàn),泰克推出的動靜態(tài)測試與可靠性測試方案,幫助客戶在研發(fā)設(shè)計、失效分析、進(jìn)廠檢測和試產(chǎn)階段快速評估器件性能,更快應(yīng)對市場需求改善產(chǎn)品性能,也幫助客戶快速驗(yàn)證自研驅(qū)動電路,加速應(yīng)用端解決方案落地。
本分會場中,將為您帶來技術(shù)分享課程:
■功率電子市場概況及主要趨勢
■雙脈沖測試:智能探測免受連線困擾
■三代半導(dǎo)體可靠性測試方案
■...
高速數(shù)字標(biāo)準(zhǔn)正在迅速發(fā)展,以支持?jǐn)?shù)據(jù)驅(qū)動世界的性能需求。下一代串行標(biāo)準(zhǔn)和數(shù)據(jù)通信要求帶來了新的測試挑戰(zhàn),突破了當(dāng)今合規(guī)性和調(diào)試工具的極限。從設(shè)計和模擬、分析、調(diào)試到一致性測試,泰克提供自動化電氣測試解決方案,以優(yōu)化性能、加快驗(yàn)證周期并加速產(chǎn)品上市。
本分會場中,將為您帶來技術(shù)分享課程:
■PCIe 6.0圓桌討論:面向64 GT/s及更高速率的未來設(shè)計
■USB4 v2.0和PAM3信號傳輸?shù)奈锢韺訙y試挑戰(zhàn)及應(yīng)對
■全新IEEE 802.3ck電氣標(biāo)準(zhǔn)和測試方案
■如何應(yīng)對LPDDR5X的測試挑戰(zhàn)
■...
6月29日現(xiàn)場彩蛋
玩轉(zhuǎn)TIF周邊限量盲盒
各類技術(shù)白皮書待您解鎖!!
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我們提供專業(yè)的測量洞見信息,旨在幫助您提高績效以及將各種可能性轉(zhuǎn)化為現(xiàn)實(shí)。
泰克設(shè)計和制造能夠幫助您測試和測量各種解決方案,從而突破復(fù)雜性的層層壁壘,加快您的全局創(chuàng)新步伐。我們攜手共進(jìn),一定能夠幫助各級工程師更方便、更快速、更準(zhǔn)確地創(chuàng)造和實(shí)現(xiàn)技術(shù)進(jìn)步。
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原文標(biāo)題:啟智未來 測試為先!2023泰克創(chuàng)新論壇等你來!
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