宏展 Lab Companion 電子元器件老化試驗(yàn)的目的

如今，隨著科學(xué)的進(jìn)步，電子制造技術(shù)也越來越發(fā)達(dá)，其集成化程度越來越高，工序越來越多，結(jié)構(gòu)也越來越細(xì)微，制造工藝越來越復(fù)雜，錯(cuò)綜復(fù)雜的因素勢必會(huì)導(dǎo)致在制造過程中潛伏缺陷，作為電子產(chǎn)品廠家，不僅要保證各性能的高精準(zhǔn)性，也要保證其質(zhì)量的穩(wěn)定性。所以對其做相關(guān)測試也是必要的，那么為什么要做老化測試呢？

一般這種缺陷需要在元器件工作于額定功率和正常工作溫度下運(yùn)行一千個(gè)小時(shí)左右才能全部被激活(暴露)。顯然，對每只元器件測試一千個(gè)小時(shí)是不現(xiàn)實(shí)的，所以需要對其施加熱應(yīng)力和偏壓，例如進(jìn)行高溫功率應(yīng)力試驗(yàn)，來加速這類缺陷的提早暴露。也就是給電子產(chǎn)品施加熱的、電的、機(jī)械的或多種綜合的外部應(yīng)力，模擬嚴(yán)酷工作環(huán)境，消除加工應(yīng)力和殘余溶劑等物質(zhì)，使?jié)摲收咸崆俺霈F(xiàn)，盡快使產(chǎn)品通過失效浴盆特性初期階段，進(jìn)入高可靠的穩(wěn)定期。

通過高溫老化可以使元器件的缺陷、焊接和裝配等生產(chǎn)過程中存在的隱患提前暴露，老化后再進(jìn)行電氣參數(shù)測量，篩選剔除失效或變值的元器件，盡可能把產(chǎn)品的早期失效消滅在正常使用之用，從面保證出廠的產(chǎn)品能經(jīng)得起時(shí)間的考驗(yàn)。

概括來說，電子產(chǎn)品通過生產(chǎn)制造后，形成了完整的產(chǎn)品，已經(jīng)可以發(fā)揮使用價(jià)值了，但使用以后發(fā)現(xiàn)會(huì)有這樣那樣的毛病，又發(fā)現(xiàn)這些毛病絕大部分發(fā)生開始的幾小時(shí)至幾十小時(shí)之內(nèi)，后來干脆就規(guī)定了電子產(chǎn)品的老化和測試，仿照或者等效產(chǎn)品的使用狀態(tài)，這個(gè)過程由產(chǎn)品制造者來完成。通過再測試，把有問題的產(chǎn)品留在工廠，沒問題的產(chǎn)品給用戶，以保證買給用戶的產(chǎn)品是可靠的或者是問題較少的。

這就是老化測試的意義。