晶振常用標(biāo)稱頻率在1~200MHz之間。如果需要更高更穩(wěn)定的輸出頻率,可以使用鎖相環(huán)PLL將低頻晶振進(jìn)行倍頻到1GHz以上的標(biāo)稱頻率。鎖相環(huán)PLL電路由以下幾部分組成:
晶振輸出頻率偏差過大,會(huì)怎么樣?
振蕩器是通信系統(tǒng)中一個(gè)極其重要的元件,能夠產(chǎn)生高純度無諧波失真的正弦波,作為載波。如果晶振頻偏超差,鎖相環(huán)PLL鎖偏導(dǎo)致頻率出錯(cuò),通信就會(huì)異常。晶振失效,則會(huì)導(dǎo)致通信中斷。
除了頻率誤差的因素,我們可以從以下幾點(diǎn)分析失效晶振的原因:負(fù)載電容,負(fù)性阻抗,激勵(lì)電平,噪聲,焊接等。
晶振測(cè)試報(bào)告中,頻率偏差是哪一項(xiàng)?
晶振各項(xiàng)參數(shù)的分析應(yīng)使用專業(yè)晶振測(cè)試儀器。S&A250B網(wǎng)絡(luò)分析儀可以測(cè)量各尺寸直插及貼片石英晶體諧振器,可以提供精確的,重復(fù)性好的晶體測(cè)量方式,測(cè)量超過40種不同的參數(shù)。S&A280B測(cè)量石英晶體振蕩器,分析輸出波形及各類電性能參數(shù)。
每顆晶振都有不同的精度。在測(cè)試報(bào)告中,F(xiàn)L的含義是負(fù)載頻率/調(diào)制頻差,指常溫25℃和標(biāo)準(zhǔn)負(fù)載電容條件下的振蕩頻率。
KOAN晶振公司配備了S&A280B/S&A250B測(cè)試儀器等。我們能夠檢測(cè)在溫度、負(fù)載和功率電壓變化條件下的頻率穩(wěn)定性。
晶振的總頻差包含哪些?
頻率穩(wěn)定性表示晶振的輸出頻率因溫度變化、頻率老化、電壓變化、輸出負(fù)載變化等外部條件而發(fā)生的變化。我們常說的總頻差就是這些工作和非工作參數(shù)全部結(jié)合起來而引起晶振頻率和給定標(biāo)稱頻率的最大偏差。
審核編輯:湯梓紅
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原文標(biāo)題:晶振輸出頻率偏差過大,會(huì)怎么樣?
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