0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

季豐電子面向客戶提供完整的半導(dǎo)體工藝可靠性測試服務(wù)

上海季豐電子 ? 來源:上海季豐電子 ? 2023-07-23 11:16 ? 次閱讀

季豐電子面向客戶提供完整的半導(dǎo)體工藝可靠性測試、驗(yàn)證和咨詢服務(wù),可有效縮短制造工藝和器件開發(fā)的時(shí)間,加速客戶產(chǎn)品投入市場的進(jìn)程周期。

工藝可靠性業(yè)務(wù)主要基于行業(yè)通用及客戶定制標(biāo)準(zhǔn)、產(chǎn)品、工藝特點(diǎn),規(guī)劃評(píng)估驗(yàn)證策略,制定認(rèn)證測試規(guī)范性準(zhǔn)則,最終完成各項(xiàng)驗(yàn)證測試項(xiàng)目,出具權(quán)威檢驗(yàn)認(rèn)證報(bào)告。

該業(yè)務(wù)結(jié)合多種測試和FA手段,確定失效模式、探究失效機(jī)理,幫助客戶定位失效根因。

測試設(shè)備介紹

1.晶圓級(jí)WLR工藝可靠性測試設(shè)備(B1500+CM300)

2.晶圓級(jí)器件可靠性測試HCI,NBTI,TDDB等

3.封裝級(jí)PLR工藝可靠性測試設(shè)備(PLRTester)

4.電遷移EM測試,封裝級(jí)器件可靠性測試HCI,NBTI等

測試項(xiàng)目介紹

季豐電子工藝可靠性可以執(zhí)行的可靠性認(rèn)證測試范圍,包括車規(guī)(AEC-Q100,D組)和 JEDEC(JEP001)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的所有項(xiàng)目,具體可參考下列表格。

7549f308-27b0-11ee-962d-dac502259ad0.jpg

GIGA FORCE

季豐電子

季豐電子成立于2008年,致力于集成電路、新能源、新材料、新裝備等領(lǐng)域內(nèi)的軟硬件及設(shè)備研發(fā)與專業(yè)技術(shù)服務(wù),為客戶提供一站式的綜合解決方案。公司的四大業(yè)務(wù)版塊包括:基礎(chǔ)技術(shù)中心、硬件軟件方案、特種封裝測試、儀器設(shè)備。

季豐電子通過國家級(jí)專精特新“小巨人”、國家高新技術(shù)企業(yè)、上海市“科技小巨人”、上海市企業(yè)技術(shù)中心、研發(fā)機(jī)構(gòu)、公共服務(wù)平臺(tái)等企業(yè)資質(zhì)認(rèn)定,通過了ISO9001、 ISO17025、CMA、CNAS等認(rèn)證。公司員工近1000人,總部位于上海,在浙江、北京、深圳、成都等地設(shè)有分公司。

責(zé)任編輯:彭菁

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 晶圓
    +關(guān)注

    關(guān)注

    52

    文章

    4778

    瀏覽量

    127566
  • 半導(dǎo)體工藝
    +關(guān)注

    關(guān)注

    19

    文章

    107

    瀏覽量

    26168
  • 季豐電子
    +關(guān)注

    關(guān)注

    2

    文章

    67

    瀏覽量

    1720

原文標(biāo)題:季豐電子工藝可靠性業(yè)務(wù)介紹

文章出處:【微信號(hào):zzz9970814,微信公眾號(hào):上海季豐電子】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

收藏 人收藏

    評(píng)論

    相關(guān)推薦

    傅里葉半導(dǎo)體榮獲電子AEC-Q100與AEC-Q006證書

    傅里葉半導(dǎo)體車規(guī)級(jí)音頻功放產(chǎn)品FS5024E在電子可靠性實(shí)驗(yàn)室的助力下,成功通過AEC-Q100與AEC-Q006認(rèn)證
    的頭像 發(fā)表于 08-02 14:31 ?693次閱讀

    電子與孤波科技攜手合作為車規(guī)量產(chǎn)提供大數(shù)據(jù)支持

    為了更好服務(wù)車規(guī)客戶,上海電子股份有限公司(以下簡稱“
    的頭像 發(fā)表于 07-02 09:45 ?1261次閱讀
    <b class='flag-5'>季</b><b class='flag-5'>豐</b><b class='flag-5'>電子</b>與孤波科技攜手合作為車規(guī)量產(chǎn)<b class='flag-5'>提供</b>大數(shù)據(jù)支持

    電子全自動(dòng)晶圓級(jí)可靠性測試服務(wù)幫助客戶提高實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證測試效率

    。 從此,電子將有能力為客戶提供以下兩方面的測試服務(wù)
    的頭像 發(fā)表于 06-04 11:40 ?751次閱讀

    第三代SiC功率半導(dǎo)體動(dòng)態(tài)可靠性測試系統(tǒng)介紹

    第三代SiC功率半導(dǎo)體動(dòng)態(tài)可靠性測試系統(tǒng)KC-3105。該系統(tǒng)憑借高效精準(zhǔn)、可靈活定制、實(shí)時(shí)保存測試結(jié)果并生成報(bào)告、安全防護(hù)等優(yōu)秀性能。嚴(yán)格遵循《AQG 324機(jī)動(dòng)車輛電力
    發(fā)表于 04-23 14:37 ?2次下載

    電子獲得MCC BIB設(shè)計(jì)制造Inhouse License

    電子與老化測試設(shè)備供應(yīng)商MCC繼續(xù)合作,為雙方的共同客戶提供專業(yè)的Burn-In
    的頭像 發(fā)表于 04-16 09:48 ?646次閱讀

    ATE測試插座通過測試廠量產(chǎn)驗(yàn)證

    近日,由電子精密機(jī)械部門自主設(shè)計(jì)和制造的ATE測試插座(ATE Socket)通過嘉善
    的頭像 發(fā)表于 04-01 09:47 ?502次閱讀

    半導(dǎo)體可靠性手冊

    電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供半導(dǎo)體可靠性手冊.pdf》資料免費(fèi)下載
    發(fā)表于 03-04 09:35 ?21次下載

    IGBT的可靠性測試方案

    標(biāo)準(zhǔn)。安森美 (onsemi) 作為一家半導(dǎo)體供應(yīng)商,為高要求的應(yīng)用提供能在惡劣環(huán)境下運(yùn)行的產(chǎn)品,且這些產(chǎn)品達(dá)到了高品質(zhì)和高可靠性。
    的頭像 發(fā)表于 01-17 09:56 ?1193次閱讀
    IGBT的<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測試</b>方案

    半導(dǎo)體后端工藝半導(dǎo)體封裝的可靠性測試及標(biāo)準(zhǔn)(下)

    導(dǎo)致半導(dǎo)體產(chǎn)品失效的外部環(huán)境條件誘因有許多。因此,產(chǎn)品在被運(yùn)往目的地之前,需接受特定環(huán)境條件下的可靠性測試,以確保其能夠經(jīng)受住不同環(huán)境條件的考驗(yàn)。
    的頭像 發(fā)表于 01-13 11:25 ?3114次閱讀
    <b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b>后端<b class='flag-5'>工藝</b>:<b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b>封裝的<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測試</b>及標(biāo)準(zhǔn)(下)

    半導(dǎo)體封裝的可靠性測試及標(biāo)準(zhǔn)介紹

    本文將介紹半導(dǎo)體可靠性測試及標(biāo)準(zhǔn)。除了詳細(xì)介紹如何評(píng)估和制定相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)以外,還將介紹針對(duì)半導(dǎo)體封裝預(yù)期壽命、半導(dǎo)體封裝在不同外部環(huán)境中的
    的頭像 發(fā)表于 01-13 10:24 ?4719次閱讀
    <b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b>封裝的<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測試</b>及標(biāo)準(zhǔn)介紹

    半導(dǎo)體可靠性測試項(xiàng)目有哪些

    半導(dǎo)體可靠性測試主要是為了評(píng)估半導(dǎo)體器件在實(shí)際使用過程中的可靠性和穩(wěn)定性。這些測試項(xiàng)目包括多種
    的頭像 發(fā)表于 12-20 17:09 ?2024次閱讀

    瑞納斯半導(dǎo)體可靠性報(bào)告

    電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《瑞納斯半導(dǎo)體可靠性報(bào)告.pdf》資料免費(fèi)下載
    發(fā)表于 12-19 15:22 ?1次下載
    瑞納斯<b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b><b class='flag-5'>可靠性</b>報(bào)告

    SD NAND?可靠性驗(yàn)證測試

    SDNAND可靠性驗(yàn)證測試的重要SDNAND可靠性驗(yàn)證測試至關(guān)重要。通過檢驗(yàn)數(shù)據(jù)完整性、設(shè)備壽
    的頭像 發(fā)表于 12-14 14:29 ?587次閱讀
    SD NAND?<b class='flag-5'>可靠性</b>驗(yàn)證<b class='flag-5'>測試</b>

    半導(dǎo)體可靠性測試有哪些測試項(xiàng)目?測試方法是什么?

    可靠性測試半導(dǎo)體器件測試的一項(xiàng)重要測試內(nèi)容,確保半導(dǎo)體器件的性能和穩(wěn)定性,保證其在各類環(huán)境長時(shí)
    的頭像 發(fā)表于 11-09 15:57 ?2482次閱讀
    <b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b><b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測試</b>有哪些<b class='flag-5'>測試</b>項(xiàng)目?<b class='flag-5'>測試</b>方法是什么?

    電子產(chǎn)品的生命之源:可靠性測試的力量

    半導(dǎo)體器件可靠性測試指的是評(píng)估半導(dǎo)體器件在不同工作條件下的長期穩(wěn)定性和可靠性的一系列測試和分析方
    的頭像 發(fā)表于 10-25 09:19 ?875次閱讀
    <b class='flag-5'>電子</b>產(chǎn)品的生命之源:<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測試</b>的力量