stb分析可以得到環(huán)路增益的bode圖,但卻不能看到環(huán)路中其他位置的AC增益大小,這在需要分析不同級的放大倍數(shù)時造成了困難。解決這個問題,可以按照下圖所示的方法設(shè)計testbench。
圖1
以圖1a為例,對環(huán)路斷環(huán)進(jìn)行仿真時,除了用stb分析方式之外,可以用如圖1b所示添加L、C的辦法進(jìn)行環(huán)路增益仿真。L的作用是通直流交流,所以電路可以認(rèn)為存在直流連接,此時負(fù)反饋環(huán)路認(rèn)為沒有斷開,因此可以保證電路直流工作點的正常。但交流時,由于L設(shè)定值很大,呈現(xiàn)出很大的交流阻抗,相當(dāng)于“斷路”,所以在交流角度此處路徑又是斷開的。再看電容C,它的作用是通交流隔直流。直流時,所加的AC激勵源直流電平被電容隔開,不會對環(huán)路造成影響。交流時的信號可以通過電容、RF、R1的網(wǎng)絡(luò)施加到OP輸入端。
使用圖1的仿真辦法,激勵源AC=1V,收集到的Vo即為環(huán)路增益大小。除了這點之外,可以看到電路中任何一點的小信號增益和相位情況,這一點對分析電路尤其有幫助。
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