高加速壽命測試HALT、高加速應(yīng)力篩選測試HASS和高加速應(yīng)力稽核測試HASA,都是可靠性測試的方法,用于評估電子產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的性能表現(xiàn)和可靠性。
HALT測試
高加速壽命測試(HALT)是一種利用快速高、低溫變換的震蕩體系來揭示電子和機(jī)械裝配件設(shè)計(jì)缺陷和不足的過程。HALT的目的是在產(chǎn)品開發(fā)的早期階段識別出產(chǎn)品的功能和破壞極限,從而優(yōu)化產(chǎn)品的可靠性。這種方法是由Gregg K. Hobbs于1988年提出的。
HALT測試通常利用階梯應(yīng)力加諸于試品,并在早期發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品缺陷、操作設(shè)計(jì)邊際及結(jié)構(gòu)強(qiáng)度極限。試品通過HALT所暴露的缺陷,涉及線路設(shè)計(jì)、工藝、元部件和結(jié)構(gòu)等方面。HALT的主要目的是在產(chǎn)品設(shè)計(jì)和試產(chǎn)階段,通過試驗(yàn),快速發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的潛在缺陷,并加以改進(jìn)和驗(yàn)證,從而增加產(chǎn)品的極限值,提高其堅(jiān)固性及可靠性。
在HALT測試中,施加于試品的應(yīng)力包括振動、高低溫、溫度循環(huán)、電力開關(guān)循環(huán)、電壓邊際及頻率邊際測試等,采用步進(jìn)方式施加應(yīng)力,在產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段快速發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品故障,幫助提前暴露產(chǎn)品設(shè)計(jì)缺陷,鑒別低質(zhì)量可靠性的元器件,優(yōu)化產(chǎn)品研發(fā)設(shè)計(jì)。
HASS測試
高加速應(yīng)力篩選HASS測試,是一種可靠性測試方法,用于評估電子產(chǎn)品在使用過程中的可靠性和耐久性。它通過對樣品施加高溫、高濕和高壓的方式,模擬產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的性能表現(xiàn),以揭示產(chǎn)品潛在的缺陷和薄弱環(huán)節(jié),提高產(chǎn)品的可靠性和耐久性。
HASS測試通常在高度受控的壓力容器內(nèi)進(jìn)行,設(shè)定和創(chuàng)建不同的溫度、濕度和壓力條件,以加速水分穿透外部保護(hù)性塑料包裝并將這些應(yīng)力條件施加到產(chǎn)品內(nèi)部。這種測試方法能夠加速溫濕度的老化效果,如遷移、腐蝕、絕緣劣化、材料老化等,從而在短時(shí)間內(nèi)評估產(chǎn)品的可靠性,大大縮短測試周期,節(jié)約時(shí)間成本。
步入式大批量溫濕度循環(huán)測試實(shí)驗(yàn)室 圖源:華南檢測中心
HASA測試
高加速應(yīng)力稽核HASA測試,也是一種可靠性測試方法,用于評估電子產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的性能表現(xiàn)。它通過對樣品施加高溫、高濕和高壓的方式,模擬產(chǎn)品在使用過程中的應(yīng)力條件,以檢測產(chǎn)品在這些條件下的可靠性和穩(wěn)定性。
HASA測試通常在高度受控的壓力容器內(nèi)進(jìn)行,通過設(shè)定和創(chuàng)建不同的溫度、濕度和壓力條件,以加速產(chǎn)品內(nèi)部的各種物理、化學(xué)和電學(xué)過程。這種測試方法能夠加速產(chǎn)品的老化效果,如遷移、腐蝕、絕緣劣化、材料老化等,從而在短時(shí)間內(nèi)評估產(chǎn)品的可靠性,大大縮短測試周期,節(jié)約時(shí)間成本。
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