什么是test point
Test point指的是在電路或芯片設(shè)計(jì)中特別添加的電路元件或邏輯,以便在測(cè)試時(shí)可以輕松地檢測(cè)電路的正確性。Test point的添加有助于提高測(cè)試覆蓋率和測(cè)試效率,從而減少測(cè)試成本,加快產(chǎn)品上市時(shí)間。
使用test point的目的
使用test point的目的有:
1、減少確定性pattern的數(shù)量。在某些情況下,測(cè)試覆蓋率也可能會(huì)提高,但通常提高幅度很小;
2、提高random pattern resistant faults的測(cè)試覆蓋率。插入測(cè)試點(diǎn)是為了提高隨機(jī)性pattern控制給定故障點(diǎn)、觀察給定故障點(diǎn)或兩者兼有的概率;
3、提高ATPG期間undetected故障的覆蓋率。
Test Point Insertion****介紹
插入的test point分為control point 和observe point兩類,而其中的control point又可以分為OR control point和AND control point。
Control Point
先來(lái)看一下插入OR control point整個(gè)過(guò)程中電路的變化情況。
在做完ATPG的report中看到測(cè)試覆蓋率不滿足要求,報(bào)告中一個(gè)例化名為U1024的四輸入與門(mén)的輸出端Y有故障。分析該故障點(diǎn),發(fā)現(xiàn)該點(diǎn)可以單獨(dú)控制或觀察,但當(dāng)將兩種情況結(jié)合在一起時(shí)便無(wú)法檢測(cè)到。
于是,我們決定在輸出Y處插入一個(gè)OR control point,調(diào)出電路圖,發(fā)現(xiàn)工具將輸出端Y和一些電路基本單元通過(guò)一個(gè)或門(mén)連接在一起。
做完Scan后,再次調(diào)出電路圖,發(fā)現(xiàn)左下角的SFF被連接至Scan Chain了。
OR control point的工作原理為:先將Scan_en信號(hào)置為1,通過(guò)Scan chain向F1024配值為1。當(dāng)需要控制Y的值時(shí),可以將test_point_en信號(hào)置1,這樣就可以將最右側(cè)或門(mén)的一個(gè)輸入端口控制為1,便可以將輸出控制為1。
AND control point的工作原理與OR control point類似,只是電路結(jié)構(gòu)稍有不同,在此不作過(guò)多贅述。
Observe Point
再來(lái)介紹一下插入observe point整個(gè)過(guò)程中的電路變化。假設(shè)上述U1024四輸入與門(mén)的輸入端A0無(wú)法觀測(cè)。于是,我們?cè)谳斎攵薃0處插入一個(gè)observe point后,調(diào)出電路圖。
做完Scan后,再次調(diào)出電路圖,同樣發(fā)現(xiàn)右側(cè)的SFF被連接至Scan Chain了。
Observe point的工作原理為:將test_point_en信號(hào)置1,便可以將A0處的值通過(guò)與門(mén)傳遞至F0001的D端,再將Scan_en信號(hào)置0,將A0處的值暫存在F0001中。最后將Scan_en信號(hào)置1,通過(guò)Scan chain將值傳播出去,實(shí)現(xiàn)了對(duì)輸入端A0觀測(cè)的目的。
總結(jié)
插入test point 可能對(duì)電路帶來(lái)的一些不利影響:
1、在設(shè)計(jì)中插入 test point 可能需要占用更多的空間,因?yàn)樾枰砑宇~外的電路或信號(hào)線路,這可能會(huì)導(dǎo)致芯片大小的增加,從而增加成本和復(fù)雜性;
2、在設(shè)計(jì)中插入 test point 可能會(huì)影響性能,因?yàn)樾枰砑宇~外的電路或信號(hào)線路,這可能會(huì)引入噪聲或延遲,從而影響芯片的性能。
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