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DC-DC電源測(cè)試系統(tǒng)軟件之負(fù)載調(diào)整率自動(dòng)化測(cè)試

納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 來源:納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 作者:納米軟件(系統(tǒng)集 ? 2023-09-20 16:13 ? 次閱讀

一款優(yōu)秀的DC-DC電源模塊它的可靠性、穩(wěn)定性良好,并且符合功能規(guī)格、保護(hù)特性、安全規(guī)范等設(shè)計(jì)要求。今天天宇微納就帶你了解如何進(jìn)行DC-DC電源模塊負(fù)載調(diào)整率測(cè)試。

電源模塊的負(fù)載調(diào)整率測(cè)試是屬于功能測(cè)試中的一種,它是電源模塊中非常重要的一項(xiàng)指標(biāo),可以直觀的反應(yīng)當(dāng)負(fù)載電流變化時(shí),電源模塊的輸出電壓的變化情況。而電源模塊的主要功能就是穩(wěn)壓,所以負(fù)載調(diào)整率的大小直接影響著電源模塊的整體質(zhì)量。

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DC-DC電源模塊測(cè)試

電源模塊負(fù)載調(diào)整率計(jì)算公式:

負(fù)載調(diào)整率=(滿載輸出電壓-空載輸出電壓)/額定輸出電壓 *100%

測(cè)量電源模塊的負(fù)載調(diào)整率需要根據(jù)電源模塊的規(guī)格提前選擇需要的硬件儀器,以單進(jìn)單出電源模塊的測(cè)試為例,單價(jià)單出電源模塊的負(fù)載調(diào)整率測(cè)試測(cè)試需要一臺(tái)電源、一臺(tái)萬用表以及一臺(tái)電子負(fù)載。如果電源模塊是單價(jià)雙出或三出,則需要多添加一臺(tái)電子負(fù)載和萬用表,或者設(shè)計(jì)出相應(yīng)的工裝以滿足不同輸出端口電壓的測(cè)試。

在自動(dòng)化測(cè)試之前需要通過電源給電源模塊進(jìn)行供電,讓電源模塊正常工作,之后需要把電子負(fù)載和萬用表并聯(lián)在電源模塊的輸出端,從而對(duì)電源模塊的輸出電壓進(jìn)行測(cè)試。

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電源測(cè)試系統(tǒng)

連接好硬件儀器之后,我們需要打開天宇微納的ATECLOUD系統(tǒng),直接啟動(dòng)電壓模塊負(fù)載調(diào)整率測(cè)試的方案,系統(tǒng)會(huì)根據(jù)內(nèi)部的參數(shù)自動(dòng)進(jìn)行配置,從而直接讀取到電源模塊的滿載輸出和空載輸出,并且系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)進(jìn)行算法計(jì)算,直接得出電源模塊的負(fù)載調(diào)整率。整個(gè)過程只需2-3秒即可完成。

天宇微納的ATECLOUD系統(tǒng)可以滿足電源模塊產(chǎn)線批量化測(cè)試的需求,可以解決企業(yè)測(cè)試經(jīng)驗(yàn)依賴個(gè)人,無法形成固定標(biāo)準(zhǔn);測(cè)試設(shè)備種類繁多,無法完成日常維護(hù); 測(cè)試數(shù)據(jù)龐大零散,無法進(jìn)行數(shù)據(jù)洞察等問題,針對(duì)不同電源模塊的測(cè)試,只需修改參數(shù)即可直接進(jìn)行測(cè)試,測(cè)試流程標(biāo)準(zhǔn)化;系統(tǒng)中的儀器庫(kù)包含200多款儀器,超2000+儀器指令,滿足企業(yè)對(duì)不同儀器的需求,同時(shí)系統(tǒng)中的數(shù)據(jù)報(bào)告和數(shù)據(jù)洞察功能,可以直接生產(chǎn)數(shù)據(jù)報(bào)告并導(dǎo)出,也可以對(duì)所有數(shù)據(jù)進(jìn)行綜合分析,從效率曲線、調(diào)整率圖表、線性直方圖等方面更直觀的分析產(chǎn)品。

天宇微納是一家專注為電源模塊企業(yè)提供一站式測(cè)試方案的科技公司,已為眾多電源模塊生產(chǎn)公司解決生產(chǎn)測(cè)試中的問題。

審核編輯 黃宇

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