硬件測試顧名思義就是對(duì)于硬件產(chǎn)品的測試,一個(gè)好的產(chǎn)品想要正常流通到市場上進(jìn)行售賣,那售賣前是必須要進(jìn)行想要的產(chǎn)品測試的,不然就是產(chǎn)品最終順利流通到市場,也會(huì)出現(xiàn)各種各樣的問題,比如說常??吹降钠嚹骋恍吞?hào)或者某一批次的產(chǎn)品質(zhì)量存在問題,產(chǎn)品設(shè)計(jì)不合理而導(dǎo)致大量召回的新聞。
所以硬件測試是對(duì)于產(chǎn)品研發(fā)過程中的重要把關(guān),保證最終產(chǎn)品上市是一個(gè)相對(duì)完美的狀態(tài)。
那這個(gè)硬件測試到底是測試個(gè)什么東西呢?接下來會(huì)分幾期來詳細(xì)分析一下硬件測試的相關(guān)知識(shí)內(nèi)容。
前面《硬件那些事之硬件測試(五)》 有補(bǔ)充介紹了PCBA板級(jí)測試中的電氣性能測試項(xiàng)目中的負(fù)載測試,饋電測試,主芯片復(fù)位電平等的測試 。接下來會(huì)繼續(xù)介紹PCBA板級(jí)測試中的信號(hào)波形測試項(xiàng)目。
信號(hào)波形的測試是根據(jù)電路板中有包含設(shè)計(jì)的關(guān)鍵信號(hào)的測試,比如說主板中有I2C信號(hào),那就需要測一下I2C的信號(hào)波形質(zhì)量,或者有其他的信號(hào)也是一樣。
波形測試一般會(huì)使用示波器進(jìn)行量測觀察,主要需要測試觀察波形幅度,邊沿和毛刺,時(shí)間時(shí)序等等,通過測試波形的參數(shù)可以看出幅度,邊沿時(shí)間等,來驗(yàn)證是不是滿足器件接口電平的要求,會(huì)不會(huì)存在信號(hào)毛刺,導(dǎo)致信號(hào)質(zhì)量下降等。
- 信號(hào)波形測試
I2C波形
I2C協(xié)議是一種常見的信號(hào)協(xié)議,通常只需要兩線式串行雙向總線,用于連接微控制器和外部設(shè)備,所以需要的引腳數(shù)僅僅需要兩條(CLK和DATA),對(duì)于I2C波形的測試需要根據(jù)I2C的基本特征著手,它的工作過程中整個(gè)流程通常會(huì)是這樣的。
1,Master(主設(shè)備)發(fā)送起始信號(hào)
2,Master發(fā)送7bit address地址加1bit Write信號(hào)
3,找到符合地址的Slaver(從設(shè)備)響應(yīng)ACK
4,然后就可以正式發(fā)送數(shù)據(jù)了,Master發(fā)送8bit數(shù)據(jù)(數(shù)據(jù)幀大小為8位)
5,Slaver響應(yīng)ACK
6,最后Master發(fā)送停止信號(hào)(若Master僅發(fā)送一個(gè)字節(jié)的數(shù)據(jù))
***起始信號(hào):***SCL處于高電平,SDA從高電平向低電平轉(zhuǎn)換。
***停止信號(hào):***SCL處于高電平,SDA由低電平向高電平轉(zhuǎn)換(與起始信號(hào)相反)。
***幀地址:***每個(gè)從屬設(shè)備有唯一的7位或10位地址,用于主從設(shè)備之間的地址識(shí)別。一般地址的位長是7或10位,7位用的更廣泛。
***讀/寫位:***1bit,一般會(huì)伴隨著地址幀發(fā)送。如果主機(jī)是向從機(jī)發(fā)送數(shù)據(jù)(寫)則為低電平,請求數(shù)據(jù)(讀)則為高電平。
***ACK/NACK:***響應(yīng)數(shù)據(jù),確保數(shù)據(jù)有被正常發(fā)送且接受到。I2C的數(shù)據(jù)和地址傳輸都帶有響應(yīng)(先響應(yīng)地址,后響應(yīng)數(shù)據(jù))。響應(yīng)包括“應(yīng)答(ACK)”和“非應(yīng)答(NACK)”兩種信號(hào)。ACK時(shí)DATA為低電平,NACK時(shí)DATA為高電平。
***數(shù)據(jù)有效:***數(shù)據(jù)的傳輸有分有效和無效,只有在SCL為高電平時(shí),SDA的數(shù)據(jù)才有效,此時(shí)SDA高電平表示數(shù)據(jù)“1”,低電平表示數(shù)據(jù)“0”.當(dāng)SCL為低電平時(shí),數(shù)據(jù)無效,此時(shí)通常需要對(duì)SDA進(jìn)行電平切換。
以下是對(duì)于I2C信號(hào)質(zhì)量,信號(hào)時(shí)序要求的測試內(nèi)容,在實(shí)際的測試中會(huì)量取相應(yīng)的I2C波形,來觀察實(shí)際量測到的波形是否符合預(yù)期,是否存在較大干擾,時(shí)間方面,電壓方面都需要進(jìn)行觀察檢驗(yàn),如下表。
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