0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫(xiě)文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

電源信號(hào)的噪聲測(cè)試用例分享

冬至子 ? 來(lái)源:竹之盟 ? 作者:RM ? 2023-11-14 16:30 ? 次閱讀

示波器

TekDPO7104C (1GHz; 20GS/s)+ P6243探頭

或者DPO5104C ** (1GHz; 10GS/s)+ P6139B探頭或TPP1000探頭 **

.測(cè)試目的

依照規(guī)格手冊(cè),介紹和規(guī)范測(cè)量SSD電源信號(hào)的操作方法并驗(yàn)證產(chǎn)品在重載下(1M seq write,F(xiàn)LASH CORE 電源用1M seq read)的噪聲及電壓值是否符合產(chǎn)品設(shè)計(jì)要求。

二.測(cè)試環(huán)境配置

EUT(Equipment Under Test):

測(cè)試機(jī):一臺(tái)可外接SSD的PC機(jī)(如:Lenovo YangTianM6880N)

SSD: 1pcs SSD。

三.預(yù)置條件

1、 PC測(cè)試機(jī)上安裝win7/win8以上系統(tǒng),并安裝好IOmeter軟件用于對(duì)SSD進(jìn)行讀寫(xiě)操作,還要安裝好Allegro等軟件用于查找測(cè)試點(diǎn)

2、 SSD做為從盤(pán)接在PC機(jī)上,SSD為開(kāi)好卡,能正常找到盤(pán),并能進(jìn)行讀寫(xiě)操作即可,無(wú)其它特殊要求。

四.測(cè)試設(shè)備及測(cè)試工具

測(cè)試設(shè)備:

示波器:TekDPO7104

探棒: P6245*1或無(wú)源探頭B6139或同軸電纜(當(dāng)噪聲很大時(shí)可以用同軸電纜驗(yàn)證)

固定探棒手臂:Holder*1

轉(zhuǎn)接板:mSATA to SATA(測(cè)試mSATA樣品時(shí)需要)或NGFF to SATA(測(cè)試NGFF樣品時(shí)需要)

測(cè)試工具:

IOmeter (Vertion:2006.07.27or later)

五.測(cè)試步驟

1、 測(cè)試前準(zhǔn)備:

1) 制定好SSD硬件測(cè)試方案;

2) 測(cè)試時(shí),確認(rèn)測(cè)試人員靜電衣、靜電環(huán)是否正常穿著和佩戴,示波器接地,實(shí)驗(yàn)臺(tái)、靜電布以及測(cè)試機(jī)臺(tái)是否共地;

3) 安裝OS和驅(qū)動(dòng)到測(cè)試PC上,確認(rèn)各個(gè)設(shè)備能正常工作,安裝測(cè)試所需要的軟件,如:IOmeter (Vertion:2006.07.27or later);

4) 進(jìn)行示波器校正 ,首先打開(kāi)示波器開(kāi)關(guān)按鈕進(jìn)入示波器主界面,從示波器界面的目錄欄“Utilities”中選擇“Instrument Calibration”,進(jìn)入示波器校正界面預(yù)熱大概20分鐘顯示“Pass”后,點(diǎn)擊“Calibrate”按鈕,等待大約10分鐘后示波器自動(dòng)校正完畢顯示“Pass”。如果顯示狀態(tài)為“Temp”或“Fail”則需要重新校正示波器使其最后顯示狀態(tài)為“Pass”;

Notes:在做示波器校正之前必須將四個(gè)通道的探棒接地或者移除;

5) 進(jìn)行探棒校正 ,從示波器主界面的菜單欄的“Vertical”中選擇“Probe Cal”,然后再選擇需要校正的通道,點(diǎn)擊“Clear Probe Cal”及“Calibrate Probe”,自動(dòng)校正完畢后出現(xiàn)“Pass”字樣。如果校正不通過(guò),先檢查探棒與校正器連接是否良好,再檢查輸出的信號(hào)是否正常;

6) 根據(jù)測(cè)試報(bào)告,在SSD上找到相應(yīng)的測(cè)試點(diǎn)。在找點(diǎn)時(shí),找到靠近終端即可,且只需要找1個(gè)測(cè)試點(diǎn)。測(cè)試點(diǎn)選擇電源塊的小電容上,在離測(cè)試點(diǎn)最近的地方找個(gè)地,用信號(hào)線做根地線焊接在GND上,測(cè)試焊接線遠(yuǎn)離電感等高頻元器件。將SSD連接到測(cè)試機(jī)臺(tái)上,然后將被測(cè)信號(hào)接到相應(yīng)的探棒上,地線要盡量靠近測(cè)試點(diǎn)且盡量短(暴露在探棒外面的部分約2cm)。檢查信號(hào)是否連接正確,確定測(cè)試點(diǎn)準(zhǔn)確無(wú)誤且是最合理的測(cè)試位置;

7) 在固定探棒時(shí)用Holder來(lái)作為固定工具,不能用手直接拿探棒接觸信號(hào)點(diǎn)測(cè)試,因?yàn)槭稚嫌徐o電存在的風(fēng)險(xiǎn),容易使探棒被靜電損壞或?qū)е滦盘?hào)量測(cè)不準(zhǔn),且手如果用力不均會(huì)導(dǎo)致探棒物理?yè)p壞;

2、 開(kāi)機(jī)并用管理員身份運(yùn)行IOmeter軟件

選擇要操作的磁盤(pán),選擇“ 1M seq write ”的測(cè)試模型(若是FLASH CORE電源則選擇1M seq read的測(cè)試模型),然后在“Results Display”菜單中的“Results Since”選項(xiàng)選擇“Last update”、“Update Frequency”選項(xiàng)選擇1s,最后點(diǎn)擊“run”開(kāi)始測(cè)試。

3、 示波器設(shè)置:

1) 測(cè)試電壓信號(hào)所對(duì)應(yīng)的通道需要命名,命名與所測(cè)電壓名稱保持一致。在示波器的“Vertical Setup”菜單的“Label”處輸入所測(cè)試的信號(hào)名;

2) 示波器的“Vertical Setup”菜單中的 “Coupling”選項(xiàng)中選擇“DC耦合模式 ,“Position”的值設(shè)置為0, “Offset”的值設(shè)置為被測(cè)信號(hào)的電壓值,微調(diào)“Offset”,使電壓波形位于示波器顯示屏的中間位置 ;

3) 在示波器的“Vertical Setup”菜單的“Scale”處設(shè)置垂直刻度即電壓刻度。 “Vertical Scale”應(yīng)盡可能小,一般設(shè)置在10~50mV

4) 在示波器的“Vertical Setup”菜單的“Bandwidth”處設(shè)置示波器的帶寬。 示波器的“Bandwidth”設(shè)置為最大帶寬 ;

5) 在示波器“Measure”功能表中的“Amplitude”中選擇 “Max、Min、Mean、PK-PK” 測(cè)試參數(shù);

6) 在示波器面板上的水平快捷欄框中選擇“Scale”快捷旋鈕設(shè)置水平刻度即時(shí)間刻度。 “Time scale”一般設(shè)置在5ms~10ms之間 ,采樣率MS/s或是GS/s,使波形占屏幕的2/3以內(nèi)為主;

7) 旋扭示波器面板上的水平快捷欄框中選擇“Resolution”快捷旋鈕設(shè)置屏幕的分辨率和記錄長(zhǎng)度,一般 調(diào)節(jié)到記錄長(zhǎng)度“RL”為至少1M ;

8) 在示波器面板上的觸發(fā)快捷欄框中的“Source”處選擇觸發(fā)通道,在“Slope”處選擇觸發(fā)的邊沿,一般選擇上升沿觸發(fā),旋扭“Level”旋鈕決定觸發(fā)電平的位置,觸發(fā)電平的位置在被測(cè)信號(hào)電壓幅值的附近;

9) 量測(cè)“Voltage”時(shí)打累積 ,選擇示波器菜單欄的“Display->Display Persistence->Infinite Persistence”,按示波器控制面板的最上面一排按鈕中的“Clear”按鈕清除屏幕中采集的數(shù)據(jù),然后按“Run/Stop”按鈕開(kāi)始采集數(shù)據(jù), 累計(jì)采集次數(shù)要大于200次 ;

Notes:測(cè)試波形如下圖所示:

圖片

備注:一般用有源探頭P6245測(cè)試即可,當(dāng)噪聲很大時(shí),可以用同軸電纜驗(yàn)證測(cè)試一下。如果用無(wú)源探頭或是同軸電纜測(cè)試則示波器的設(shè)置如下:

1) 測(cè)試電壓信號(hào)所對(duì)應(yīng)的通道需要命名,命名與所測(cè)電壓名稱保持一致。在示波器的“Vertical Setup”菜單的“Label”處輸入所測(cè)試的信號(hào)名;

2) 示波器的“Vertical Setup”菜單中的“Coupling”選項(xiàng)中選擇“AC”耦合模式,“Position”的值設(shè)置為0,“Offset”的值設(shè)置為0,微調(diào)“Offset”,使波形位于示波器顯示屏的中間位置;

3) 在示波器的“Vertical Setup”菜單的“Scale”處設(shè)置垂直刻度即電壓刻度?!癡ertical Scale”應(yīng)盡可能小,一般設(shè)置在10~50mV;

4) 在示波器的“Vertical Setup”菜單的“Bandwidth”處設(shè)置示波器的帶寬。示波器的“Bandwidth”設(shè)置為最大帶寬;

5) 在示波器“Measure”功能表中的“Amplitude”中選擇“Max、Min、Mean、PK-PK”測(cè)試參數(shù);

6) 在示波器面板上的水平快捷欄框中選擇“Scale”快捷旋鈕設(shè)置水平刻度即時(shí)間刻度?!癟ime scale”一般設(shè)置在5ms~10ms之間;

7) 旋扭示波器面板上的水平快捷欄框中選擇“Resolution”快捷旋鈕設(shè)置屏幕的分辨率和記錄長(zhǎng)度,一般調(diào)節(jié)到記錄長(zhǎng)度“RL”為50k;

8) 在示波器面板上的觸發(fā)快捷欄框中的“Source”處選擇觸發(fā)通道,在“Slope”處選擇觸發(fā)的邊沿,一般選擇上升沿觸發(fā),旋扭“Level”旋鈕決定觸發(fā)電平的位置,觸發(fā)電平的位置在被測(cè)信號(hào)電壓幅值的附近;

9) 量測(cè)“Voltage”時(shí)打累積,選擇示波器菜單欄的“Display->Display Persistence->Infinite Persistence”,按示波器控制面板的最上面一排按鈕中的“Clear”按鈕清除屏幕中采集的數(shù)據(jù),然后按“Run/Stop”按鈕開(kāi)始采集數(shù)據(jù),累計(jì)采集次數(shù)要大于200次;

Note:AC耦合模式只能測(cè)量電源的PK-PK值。

4、 停止運(yùn)行IOmeter ,量測(cè)SSD Idle狀態(tài)下的噪聲,方法同上。

5、 把測(cè)試好的波形保存下來(lái) ,關(guān)機(jī),收拾實(shí)驗(yàn)臺(tái)。

6、 整理測(cè)試報(bào)告 。

六.通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)(預(yù)期結(jié)果)

保證電壓幅值,噪聲符合SPEC要求。

Notes:

1、模擬信號(hào)電源噪聲:<3%*Vout

2、3.3V電源噪聲:<3%*Vout

3、其他電源噪聲:<5%*Vout。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 示波器
    +關(guān)注

    關(guān)注

    113

    文章

    6149

    瀏覽量

    184076
  • SSD
    SSD
    +關(guān)注

    關(guān)注

    20

    文章

    2815

    瀏覽量

    117001
  • PC機(jī)
    +關(guān)注

    關(guān)注

    2

    文章

    201

    瀏覽量

    28469
  • 同軸電纜
    +關(guān)注

    關(guān)注

    1

    文章

    209

    瀏覽量

    21331
  • 電源信號(hào)
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    19

    瀏覽量

    7355
收藏 人收藏

    評(píng)論

    相關(guān)推薦

    基于base test如何來(lái)構(gòu)造測(cè)試用

    在設(shè)計(jì)仿真用時(shí),有限制條件的激勵(lì)相比漫無(wú)目的的仿真更加有效的找出RTL的bug。因此,同一份測(cè)試方案,不同的sequence往往代表著不同的test_case。真正的測(cè)試用都是基于
    的頭像 發(fā)表于 09-19 09:16 ?2258次閱讀

    基于UML的生成場(chǎng)景測(cè)試用研究

    使用UML生成場(chǎng)景測(cè)試用,有利于測(cè)試者設(shè)計(jì)測(cè)試用。使用UML的類圖、狀態(tài)圖和順序圖來(lái)說(shuō)明DHCP實(shí)例的場(chǎng)景
    發(fā)表于 03-31 09:49 ?15次下載

    手機(jī)硬件測(cè)試用

    手機(jī)硬件測(cè)試用 1.RF 測(cè)試 2.BB測(cè)試 3.Audio 測(cè)試 4.EMC測(cè)試
    發(fā)表于 04-28 16:59 ?55次下載

    基于跨平臺(tái)系統(tǒng)中測(cè)試用復(fù)用的解決方法

    在軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程中,測(cè)試做為一種保障產(chǎn)品質(zhì)量的有效手段,被越來(lái)越多的人所重視。測(cè)試通常需要依據(jù)若干已經(jīng)設(shè)計(jì)好的測(cè)試用逐步展開(kāi),使用測(cè)試用
    發(fā)表于 11-14 15:55 ?10次下載
    基于跨平臺(tái)系統(tǒng)中<b class='flag-5'>測(cè)試用</b><b class='flag-5'>例</b>復(fù)用的解決方法

    基于DSEA的弱變異測(cè)試用集生成方法

    為解決基于集合進(jìn)化算法(SEA)的弱變異測(cè)試用集生成過(guò)程中個(gè)體規(guī)模固定和執(zhí)行開(kāi)銷大的問(wèn)題,提出一種基于動(dòng)態(tài)集合進(jìn)化算法( DSEA)的弱變異測(cè)試用集生成方法。以
    發(fā)表于 11-28 16:11 ?0次下載

    基于碰撞域檢測(cè)優(yōu)化的測(cè)試用自動(dòng)生成方法

    隨著軟件行業(yè)的快速發(fā)展,軟件測(cè)試的作用也越來(lái)越大,自動(dòng)化測(cè)試用生成方法也越來(lái)越多。如何找到一種高效的測(cè)試用生成算法,一直是
    發(fā)表于 01-15 10:38 ?2次下載
    基于碰撞域檢測(cè)優(yōu)化的<b class='flag-5'>測(cè)試用</b><b class='flag-5'>例</b>自動(dòng)生成方法

    基于二分K-means的測(cè)試用集約簡(jiǎn)方法

    測(cè)試用集約簡(jiǎn)是軟件測(cè)試中的重要研究問(wèn)題之一,目的是以盡量少的測(cè)試用達(dá)到測(cè)試目標(biāo)。為此,提出一
    發(fā)表于 03-12 15:06 ?0次下載
    基于二分K-means的<b class='flag-5'>測(cè)試用</b><b class='flag-5'>例</b>集約簡(jiǎn)方法

    數(shù)據(jù)測(cè)試:輸入數(shù)據(jù)的設(shè)計(jì)方法和測(cè)試用設(shè)計(jì)方法

    測(cè)試用的設(shè)計(jì)是測(cè)試設(shè)計(jì)的重要內(nèi)容,關(guān)于測(cè)試用的設(shè)計(jì)方法,當(dāng)前不少出版的測(cè)試書(shū)和發(fā)表的
    的頭像 發(fā)表于 06-29 10:22 ?2875次閱讀

    詳談Web測(cè)試中的界面測(cè)試用設(shè)計(jì)

    詳談Web測(cè)試中的界面測(cè)試用設(shè)計(jì)
    的頭像 發(fā)表于 06-29 10:48 ?2052次閱讀

    數(shù)據(jù)測(cè)試:代替測(cè)試用的檢查表

    前幾年在大連出差的時(shí)候,幫一個(gè)項(xiàng)目做測(cè)試,順便寫(xiě)下這個(gè)檢查表,這個(gè)檢查表對(duì)測(cè)試的初學(xué)者積累經(jīng)驗(yàn)比較有用,實(shí)際對(duì)于有經(jīng)驗(yàn)的測(cè)試人員尤其對(duì)于測(cè)試業(yè)務(wù)管理信息系統(tǒng),基本上大量的
    的頭像 發(fā)表于 06-29 10:50 ?2663次閱讀

    測(cè)試用的管理 介紹測(cè)試用的幾種管理方法

    摘要 隨著軟件系統(tǒng)規(guī)模的持續(xù)增大,業(yè)務(wù)復(fù)雜度的持續(xù)增加,軟件測(cè)試的復(fù)雜度也隨之越來(lái)越大。而軟件測(cè)試工作復(fù)雜度的直接體現(xiàn),就是測(cè)試用編寫(xiě)、維護(hù)、執(zhí)行和管理,所以編寫(xiě)易讀、易維護(hù)和易管理
    的頭像 發(fā)表于 11-26 15:13 ?6567次閱讀
    <b class='flag-5'>測(cè)試用</b><b class='flag-5'>例</b>的管理 介紹<b class='flag-5'>測(cè)試用</b><b class='flag-5'>例</b>的幾種管理方法

    測(cè)試用質(zhì)量的重要性

    在進(jìn)行測(cè)試時(shí),通常會(huì)花很多精力選擇“正確”的測(cè)試工具。這其實(shí)只是為了實(shí)現(xiàn)次要目標(biāo)。當(dāng)然,一個(gè)適合開(kāi)發(fā)環(huán)境、項(xiàng)目和流程的工具是重要的。然而,對(duì)于良好測(cè)試而言,最重要的是測(cè)試用
    的頭像 發(fā)表于 09-03 15:13 ?809次閱讀
    <b class='flag-5'>測(cè)試用</b><b class='flag-5'>例</b>質(zhì)量的重要性

    篇 | 單元測(cè)試用復(fù)用到集成測(cè)試?Testlet Library來(lái)助力!(上)

    作者:fox小編:吃不飽作為一名測(cè)試工程師,在做MiL測(cè)試時(shí),編寫(xiě)測(cè)試用的效率影響整個(gè)測(cè)試項(xiàng)目的進(jìn)度,如何有效提升編寫(xiě)
    的頭像 發(fā)表于 11-04 10:14 ?784次閱讀
    用<b class='flag-5'>例</b>篇 | 單元<b class='flag-5'>測(cè)試用</b><b class='flag-5'>例</b>復(fù)用到集成<b class='flag-5'>測(cè)試</b>?Testlet Library來(lái)助力?。ㄉ希? />    </a>
</div>                            <div   id=

    磁盤(pán)eCryptfs加密測(cè)試用

    apt安裝用戶態(tài)工具ecryptfs-utils即可。 4.1、測(cè)試用 下圖是一個(gè)腳本基礎(chǔ)測(cè)試用。先創(chuàng)建test目錄和文件hello,
    的頭像 發(fā)表于 11-29 11:27 ?1037次閱讀
    磁盤(pán)eCryptfs加密<b class='flag-5'>測(cè)試用</b><b class='flag-5'>例</b>

    端到端測(cè)試用怎么寫(xiě)

    編寫(xiě)端到端測(cè)試用是確保軟件系統(tǒng)從頭到尾能夠正常工作的關(guān)鍵步驟。以下是一個(gè)詳細(xì)的指南,介紹如何編寫(xiě)端到端測(cè)試用: 一、理解端到端測(cè)試 端到
    的頭像 發(fā)表于 09-20 10:29 ?237次閱讀