泰克SiC性能評(píng)估整體測(cè)試解決方案，為汽車檢測(cè)認(rèn)證護(hù)航！

同其他車用電子零部件一樣，車規(guī)級(jí)功率半導(dǎo)體也須通過AEC-Q100認(rèn)證規(guī)范所涵蓋的7大類別41項(xiàng)測(cè)試要求。對(duì)于傳統(tǒng)的硅基半導(dǎo)體器件，業(yè)界已經(jīng)建立了一套成熟有效的測(cè)試評(píng)估流程。而對(duì)于近兩年被普遍應(yīng)用于開發(fā)800V超充技術(shù)的三代半導(dǎo)體碳化硅（SiC）材料而言，由于其面世時(shí)間較短，缺陷暴露不充分，失效機(jī)理不清晰，對(duì)其進(jìn)行科學(xué)有效的評(píng)估和驗(yàn)證至關(guān)重要。

為了幫助產(chǎn)業(yè)更好的應(yīng)對(duì)SiC所帶來的測(cè)試驗(yàn)證挑戰(zhàn)，各大汽車檢測(cè)認(rèn)證機(jī)構(gòu)正逐步建立起符合AEC-Q100認(rèn)證規(guī)范要求的完整SiC器件/模塊測(cè)試評(píng)估能力；而動(dòng)態(tài)可靠性測(cè)試作為整個(gè)評(píng)估體系的重要一環(huán)，往往是機(jī)構(gòu)在搭建相關(guān)驗(yàn)證能力時(shí)所關(guān)注的焦點(diǎn)。泰克作為全球領(lǐng)先的測(cè)試測(cè)量設(shè)備商，針對(duì)SiC器件/模塊可提供以下全流程測(cè)試驗(yàn)證解決方案，相關(guān)方案已被各大汽車檢測(cè)認(rèn)證機(jī)構(gòu)廣泛采用，備受好評(píng)。

DPT1000A功率器件動(dòng)態(tài)測(cè)試系統(tǒng)由泰克科技領(lǐng)銜開發(fā)，專門用于針對(duì)三代半導(dǎo)體功率器件的動(dòng)態(tài)特性分析測(cè)試，旨在解決客戶在功率器件動(dòng)態(tài)特性表征中常見的疑難問題，包括如何設(shè)計(jì)高速工作的驅(qū)動(dòng)電路，如何適配多種芯片封裝形式，如何選擇和連接探頭進(jìn)行信號(hào)測(cè)試，如何優(yōu)化和抑制測(cè)試過程中的噪聲和干擾。幫助客戶在研發(fā)設(shè)計(jì)和試產(chǎn)階段，快速評(píng)估器件性能，更快應(yīng)對(duì)市場(chǎng)需求改善產(chǎn)品性能。

定制化系統(tǒng)設(shè)計(jì) , 豐富的硬件配置和高靈活性的驅(qū)動(dòng)電路

自動(dòng)化測(cè)試軟件，測(cè)試功能豐富 , 可以自動(dòng)配置參數(shù)，測(cè)試和生成數(shù)據(jù)報(bào)告

高帶寬/高分辨率測(cè)試設(shè)備 , 在高速開關(guān)條件下準(zhǔn)確表征功率器件

覆蓋高壓、中壓、低壓、pmos、GaN 等不同類型，不同封裝芯片測(cè)試

可以提供單脈沖、雙脈沖、反向恢復(fù)、Qg、短路測(cè)試、雪崩參數(shù)、RBSOA等測(cè)試功能

HTXB-1000D動(dòng)靜態(tài)綜合老化測(cè)試系統(tǒng)針對(duì)以 SiC/GaN 為首的新型三代半導(dǎo)體功率器件，根據(jù)其特有的器件結(jié)構(gòu)和失效機(jī)理，在加速老化條件下，有針對(duì)性的施加特定壓力條件（包括靜態(tài)壓力和動(dòng)態(tài)壓力），用以測(cè)試功率器件器件的漏流指標(biāo)，以及其他典型特性參數(shù)（例如閾值開啟電壓，導(dǎo)通電阻等關(guān)鍵指標(biāo)），以表征器件的老化特性和工作壽命?？梢宰屍骷a(chǎn)廠商和器件使用者在較短時(shí)間內(nèi)了解新型功率器件的老化特性，以及長期使用條件下的性能變化，為器件實(shí)際應(yīng)用過程中可能出現(xiàn)的故障進(jìn)行預(yù)判和分析。

該動(dòng)靜態(tài)壓力綜合老化測(cè)試系統(tǒng)用于批量SiC/GaN器件老化測(cè)試，通過測(cè)試數(shù)據(jù)可以研究SiC/GaN器件的典型參數(shù)在不同壓力條件下的變化特性，幫助客戶了解器件可靠性相關(guān)信息并表征老化特性。

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