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應(yīng)用指南 | 使用LTSSM功能表征PCIe設(shè)備性能 (附直播回顧)

泰克科技 ? 來源:未知 ? 2023-11-30 12:15 ? 次閱讀
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二十年前,PCI-SIG組織首次定義了PCIe標(biāo)準(zhǔn)。PCIe的引入旨在實(shí)現(xiàn)CPU與外圍組件之間的高速串行通信。自2003年以來,為適應(yīng)現(xiàn)代計(jì)算機(jī)的帶寬需求,PCIe標(biāo)準(zhǔn)幾經(jīng)迭代。PCIe最初作為一種串行接口引入,用于替代眾多主板架構(gòu)使用的并行總線,但PCIe擁有一項(xiàng)獨(dú)特特性:通道數(shù)量可從1個(gè)擴(kuò)展至32個(gè)。借助這一并行總線特性,PCIe兼容設(shè)備之間可以根據(jù)數(shù)據(jù)傳輸要求,建立寬度為1個(gè)、2個(gè)、4個(gè)、8個(gè)、16個(gè)甚至高達(dá)32個(gè)通道的鏈路。

隨著數(shù)據(jù)傳輸速率的不斷增加,物理層協(xié)議的復(fù)雜性也與日俱增,以確保在符合PCIe規(guī)范基本原則的同時(shí)(包括通道寬度靈活性和向下兼容“傳統(tǒng)”設(shè)備,即使用早期版本PCIe開發(fā)的設(shè)備),實(shí)現(xiàn)高效的數(shù)據(jù)傳輸。例如,使用PCIe Gen4 規(guī)范開發(fā)的設(shè)備必須向下兼容早期版本PCIe(如Gen1和Gen2)開發(fā)的設(shè)備。

先來回顧一下今年的泰克云上大講堂—PCIe測(cè)試面面觀

本期應(yīng)用指南則說明講述了如何使用泰克TMT4 PCIe性能綜合測(cè)試儀提供的高級(jí)鏈路訓(xùn)練狀態(tài)機(jī)(LTSSM)監(jiān)視信息。借助這一高級(jí)功能,結(jié)合硬件觸發(fā)輸入/觸發(fā)輸出功能,用戶可以根據(jù)PCIe狀態(tài)機(jī)的描述,識(shí)別物理層與數(shù)據(jù)鏈路層交互中的異常。

LTSSM監(jiān)視器可就TMT4 PCIe性能綜合測(cè)試儀在與被測(cè)設(shè)備(DUT)交互過程中實(shí)現(xiàn)的各種狀態(tài)提供相關(guān)信息(無論是作為根復(fù)合體(RC)還是端點(diǎn) (EP))。

實(shí)際調(diào)試流程可能包括以下一個(gè)或多個(gè)步驟:

A. 檢驗(yàn)DUT能否按照PCIe規(guī)范或“允許的轉(zhuǎn)換”中的序列,在可用狀態(tài)間進(jìn)行轉(zhuǎn)換。

B. 如果DUT沒有按照預(yù)期序列轉(zhuǎn)換狀態(tài),確定DUT最后已知的正常運(yùn)行狀態(tài)。

C. “可疑”狀態(tài)或轉(zhuǎn)換被隔離后,用戶可以選擇在進(jìn)入特定狀態(tài)時(shí),通過發(fā)出硬件觸發(fā)輸出,在示波器上捕獲數(shù)據(jù)。

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PCI Express架構(gòu)和鏈路訓(xùn)練的必要性

盡管PCIe為點(diǎn)對(duì)點(diǎn)協(xié)議,但數(shù)據(jù)源與目標(biāo)之間的交互有著明確的層次結(jié)構(gòu)。PCIe系統(tǒng)由大量點(diǎn)對(duì)點(diǎn)接口組成,通過一個(gè)基礎(chǔ)架構(gòu)或Fabric接口連接多個(gè)外圍設(shè)備和模塊。主CPU(或處理器子系統(tǒng))位于頂端,通過適當(dāng)?shù)挠脩艚涌谶B接到一個(gè)RC。此RC是頂層PCIe互連組件,通常連接主內(nèi)存,CPU通過RC訪問主內(nèi)存。PCIe接口直接或通過一個(gè)交換器連接RC(圖 1)。

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圖1. PCIe層次結(jié)構(gòu)

每個(gè)互連都有一個(gè)下行鏈路(來自上游組件,如 RC)和一個(gè)上行鏈路(來自下游組件,如上行鏈路(來自下游組件,如EP)。最典型的RC設(shè)備包括 PC 主板或嵌入式系統(tǒng)控制板。對(duì)于EP,顯卡或網(wǎng)絡(luò)接口卡等設(shè)備可通過交換器連接RC,這有助于擴(kuò)展規(guī)范內(nèi)的可尋址設(shè)備數(shù)量。EP設(shè)備也可直接與RC通信,如圖1所示。通常,這種通信并非100%的直接通信,而是在RC與EP設(shè)備之間插入一個(gè)信號(hào)調(diào)節(jié)設(shè)備(一個(gè)重定時(shí)器,或一個(gè)重驅(qū)動(dòng),圖2),以確保信號(hào)質(zhì)量,補(bǔ)償高速傳輸下的信號(hào)質(zhì)量損失。

PCIe規(guī)范建立了鏈路訓(xùn)練過程,用于確定給定通道是否適用于接口支持的各種數(shù)據(jù)速度傳輸,有多少這樣的通道可用,以及物理層的各種其他因素,從而確定特定PCIe設(shè)備是否有可以配對(duì)的鏈路伙伴。

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圖2. 重定時(shí)設(shè)備的PCIe物理層連接

PCIe中如何建立和監(jiān)控鏈路?

當(dāng)對(duì)所有設(shè)備(至少一個(gè)RC和一個(gè)或多個(gè)EP)供電并提供參考時(shí)鐘,PCIe設(shè)備就會(huì)開始鏈路訓(xùn)練。整個(gè)鏈路訓(xùn)練過程包括接收器檢測(cè)、輪詢、配置和恢復(fù)。這一過程中,可以通過觀察“LTSSM狀態(tài)”確定鏈路狀態(tài)。如PCIe規(guī)范所述,共有十一個(gè)頂層狀態(tài),每個(gè)狀態(tài)進(jìn)一步細(xì)化,包含多個(gè)子狀態(tài)。

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圖3. 鏈路訓(xùn)練狀態(tài)機(jī)

總結(jié)

?PCIe鏈路狀態(tài)由鏈路訓(xùn)練和狀態(tài)機(jī)(LTSSM)定義。從初始狀態(tài)開始,狀態(tài)機(jī)經(jīng)歷一系列主狀態(tài)(檢測(cè)、輪詢、配置、恢復(fù)),訓(xùn)練和配置鏈路,直到完全進(jìn)入鏈接狀態(tài)(L0)。

?其他狀態(tài)還包括電源管理狀態(tài)“Lx”,一種用于測(cè)試和調(diào)試的“回環(huán)”模式,或“熱重置”狀態(tài),用于使鏈路返回初始狀態(tài)。禁用狀態(tài)是針對(duì)經(jīng)配置暫停通信的鏈路。

?初始狀態(tài)通常由數(shù)據(jù)鏈路層確定,但一般來說,PCIe鏈路的默認(rèn)初始狀態(tài)為“檢測(cè)”。

泰克TMT4 PCIe性能綜合測(cè)試儀用戶界面可顯示狀態(tài)機(jī)示意圖,如上圖所示,當(dāng)選擇發(fā)起LTSSM監(jiān)控測(cè)試時(shí),可以看到它進(jìn)入各種狀態(tài)的實(shí)時(shí)進(jìn)度。

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圖4. LTSSM測(cè)試配置

LTSSM監(jiān)控可以手動(dòng)發(fā)起,或在發(fā)出有效的硬件觸發(fā)輸入信號(hào)時(shí)發(fā)起。此外,當(dāng)發(fā)生與LTSSM狀態(tài)相關(guān)的選定事件時(shí),可以生成觸發(fā)輸出信號(hào)(圖4)。測(cè)試完成后,測(cè)試結(jié)果存檔(*.zip)中將包含觀察到的 LTSSM 狀態(tài)日志。

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TMT4作為鏈路伙伴

TMT4 PCIe性能綜合測(cè)試儀是一款符合PCIe規(guī)范的靈活儀器,既可作為RC設(shè)備,也可配置為支持PCIe Gen3和Gen4速度的EP設(shè)備。與DUT建立連接的關(guān)鍵在于選擇正確的適配器配置。

例如,當(dāng)擴(kuò)展卡(AIC)是DUT時(shí),TMT4 PCIe性能綜合測(cè)試儀為RC設(shè)備(圖5)。

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圖5. TMT4作為RC設(shè)備

而當(dāng)對(duì)典型的RC設(shè)備進(jìn)行評(píng)估時(shí)(如計(jì)算機(jī)主板),TMT4將作為EP設(shè)備與DUT進(jìn)行交互(圖6)。

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圖6. TMT4作為EP設(shè)備

深入了解鏈路訓(xùn)練過程

當(dāng)PCIe設(shè)備開啟鏈路訓(xùn)練過程時(shí),鏈路兩端之間會(huì)進(jìn)行雙向數(shù)據(jù)交換。隨著測(cè)試數(shù)據(jù)和模式(TS=訓(xùn)練集)從鏈接的一端發(fā)送到另一端,接收端會(huì)響應(yīng)發(fā)送端,并在從一個(gè)狀態(tài)進(jìn)入下一個(gè)狀態(tài)時(shí)切換發(fā)送和接收數(shù)據(jù)的角色(圖7)。

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圖7. RC與EP之間的鏈路訓(xùn)練序列

執(zhí)行LTSSM監(jiān)控測(cè)試時(shí),日志始終會(huì)從TMT4 PCIe性能綜合測(cè)試儀的視角記錄達(dá)成的狀態(tài)。

使用TMT4監(jiān)控鏈路訓(xùn)練狀態(tài)機(jī)

在鏈路訓(xùn)練過程中,DUT與TMT4之間的交互包括生成各種測(cè)試模式,使DUT從初始的檢測(cè)狀態(tài),經(jīng)過輪詢和配置狀態(tài),最終達(dá)成L0狀態(tài),這表明RC設(shè)備與EP可以成功通信。

?對(duì)于正常/有效鏈路(如下方LTSSM測(cè)試結(jié)果中所示),TMT4是作為RC設(shè)備運(yùn)行。正常運(yùn)行條件下,鏈路訓(xùn)練過程中的DUT和鏈路伙伴都處于L0狀態(tài),只有在鏈路配置的任何重要物理層屬性發(fā)生變更時(shí)才會(huì)轉(zhuǎn)換到其他狀態(tài),如通道寬度,鏈路速度或通道反轉(zhuǎn)等。

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當(dāng)顯示.csv格式的LTSSM日志數(shù)據(jù)文件時(shí),用戶可依據(jù)DUT的有關(guān)信息確定LTSSM狀態(tài)的序列,判斷是否嚴(yán)重偏離預(yù)期流程。

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在這個(gè)示例日志中,有三個(gè)實(shí)例的DUT達(dá)成L0狀態(tài)(如在TMT4上所見):

?第一個(gè),達(dá)到基本的PCIe Gen1速度和“四通道”(×4)寬度,從檢測(cè)狀態(tài)轉(zhuǎn)換為輪詢狀態(tài),最后進(jìn)入配置狀態(tài)。

?第二個(gè),從PCIe Gen1(2.5Gt/s)轉(zhuǎn)換為PCIe Gen3(8GT/s),首先進(jìn)入恢復(fù)狀態(tài),然后進(jìn)行鏈路均衡。

?第三個(gè), 從PCIe Gen3(8Gt/s) 轉(zhuǎn) 換 為PCIe Gen4(16GT/s),同樣是首先進(jìn)入恢復(fù)狀態(tài),然后進(jìn)行鏈路均衡。

從以上三個(gè)實(shí)例來看,所有連接的PCIe設(shè)備都經(jīng)歷了初始鏈路訓(xùn)練過程,以建立基本功能(第一步),然后進(jìn)行額外的鏈路均衡,以在設(shè)備之間建立穩(wěn)定可靠的連接(第二和第三步)。當(dāng)PCIe鏈路中的所有設(shè)備都支持PCIe Gen 3或更高的數(shù)據(jù)速率時(shí),就會(huì)進(jìn)行鏈路均衡。由于高于Gen 3的每一代PCIe連接都需要優(yōu)化(鏈接),鏈路均衡可能發(fā)生多次,從最小通道寬度(×1)開始,如果成功,逐步擴(kuò)展到最大可用通道數(shù)。

當(dāng)然,也可能有其他情況,例如觀察到一個(gè)或多個(gè)狀態(tài)轉(zhuǎn)換并不能表明DUT正常運(yùn)行。

例如,以下日志源于一塊無法達(dá)到16通道Gen4數(shù)據(jù)傳輸速率的主板DUT,因此發(fā)起了一個(gè)下行鏈路過程,最終在Gen3 (8Gt/s) 的速度下穩(wěn)定在16通道。

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DMI是在已知損耗的通道上測(cè)量的,該通道代表物理通道。ISI/DMI/SJ共同用于以確定性方式設(shè)置EH和EW。

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在第一個(gè)藍(lán)色箭頭處,DUT退出均衡過程,直接返回“預(yù)檢測(cè)靜默”配置(可能是受數(shù)據(jù)鏈路層指示,并非預(yù)期的PCIe行為)。

?在第二個(gè)藍(lán)色箭頭處,DUT使用正常的鏈路均衡過程,使所有16個(gè)通道都達(dá)到Gen3速度,在達(dá)成L0狀態(tài)前進(jìn)入恢復(fù)空閑狀態(tài)。

?然而,在第三個(gè)藍(lán)色箭頭處,DUT似乎無法在一個(gè)或多個(gè)通道上繼續(xù)均衡過程,并直接從恢復(fù)接收器配置跳到L0狀態(tài),表明可能與Rx設(shè)置不匹配(并未受數(shù)據(jù)鏈路層指示返回檢測(cè)狀態(tài))。

為了更好地理解Tx與Rx設(shè)置之間的交互,這種情況下LTSSM監(jiān)視器可以就異常行為提供可能的原因分析。其他LTSSM功能還包括使用硬件觸發(fā)信號(hào)開始和停止實(shí)時(shí)示波器的模擬數(shù)據(jù)收集。

|結(jié)論|

泰克TMT4 PCIe性能綜合測(cè)試儀作為穩(wěn)定可靠的鏈路伙伴,可觀察鏈路訓(xùn)練和均衡過程中的LTSSM狀態(tài),并支持使用硬件觸發(fā)信號(hào)獲取波形,提供關(guān)于鏈路狀態(tài)的準(zhǔn)確信息,從而解決可能的鏈路不一致問題。

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    Banana Pi BPI-W3 RK3588平臺(tái)驅(qū)動(dòng)調(diào)試篇 [ <b class='flag-5'>PCIE</b>篇二 ] - <b class='flag-5'>PCIE</b>的開發(fā)<b class='flag-5'>指南</b>