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inTEST ATS-710 車載芯片高低溫測試解決方案

伯東企業(yè)(上海)有限公司 ? 2023-12-01 14:24 ? 次閱讀

上海伯東美國 inTEST ThermoStream 高低溫沖擊熱流儀, 為車載芯片提供穩(wěn)定和高效的溫度測試解決方案, 保證車規(guī)產(chǎn)品的高安全性, 高可靠性和高穩(wěn)定性, inTEST 高度適配各類測試平臺, 協(xié)助企業(yè)生產(chǎn)研發(fā)符合 AEC-Q100 可靠性認(rèn)證的車載芯片.

inTEST ATS-710E車載芯片高低溫測試解決方案
由于車載電子產(chǎn)品基本覆蓋汽車產(chǎn)品的全生命周期, 因此需要符合汽車功能安全標(biāo)準(zhǔn), 而高低溫沖擊測試是其用于量產(chǎn)車上安全相關(guān)零部件的必要條件. 美國 inTEST 熱流儀是一種用于車規(guī)級芯片高低溫測試的設(shè)備. 它可以快速模擬汽車在使用過程中可能遇到的各種極端溫度環(huán)境, 從而對芯片進(jìn)行高溫和低溫測試.

上海伯東某客戶是一家汽車動力系統(tǒng)研發(fā)商, 致力于為整車廠和動力系統(tǒng)供應(yīng)商提供發(fā)動機(jī)及變速系統(tǒng)關(guān)鍵部件. 目前正在開發(fā)和研究潔凈高效的未來車行技術(shù), 尤其致力于車載電子系統(tǒng)解決方案, 不斷提升電動汽車和混合動力汽車技術(shù). 客戶使用 inTEST ATS-710E 高低溫沖擊測試機(jī), 為相關(guān)測試工作提供 -75°C 至 +225°C 快速溫度沖擊范圍, 滿足各類車規(guī)產(chǎn)品的高低溫沖擊要求.

inTEST ATS-710 車載芯片高低溫測試解決方案

ATS-710E-M
溫度范圍 °C: -75 至 + 225(50 HZ)
變溫速率: -55至 +125°C 約 10 S 或更少
+125至 -55°C 約 10 S 或更少
輸出氣流量: 4 至 18 scfm
溫度精度: ±1℃ 通過美國 NIST 校準(zhǔn)
溫度顯示分辨率: ±0.1℃
溫度傳感器: T或K型熱電偶
遠(yuǎn)程控制:IEEE 488 , RS232


inTEST ATS-710E 提供 Air Mode 和 DUT Mode 兩種測試方式. 在實際測試中, 如果是單顆待測器件, 則將熱電偶探頭放置于器件周邊, 越靠近器件越好, 此時, 設(shè)備輸出的氣體溫度將使此熱電偶處的溫度達(dá)到設(shè)定值.

與傳統(tǒng)高低溫試驗箱對比,上海伯東 inTEST 熱流儀主要優(yōu)勢:
1. 變溫速率更快, 每秒可快速升溫/降溫 15 °C
2. 溫控精度: ±1℃
3. 實時監(jiān)測待測元件真實溫度,可隨時調(diào)整沖擊氣流溫度
4. 針對 PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個IC (模塊), 可單獨進(jìn)行高低溫沖擊, 而不影響周邊其它器件
5. 對測試機(jī)平臺 load board上 的 IC 進(jìn)行溫度循環(huán) / 沖擊; 傳統(tǒng)高低溫箱無法針對此類測試
6. 對整塊集成電路板提供準(zhǔn)確且快速的環(huán)境溫度

上海伯東美國 inTEST ThermoStream 系列高低溫沖擊熱流儀, 移動設(shè)計, 通過輸出快速, 清潔干燥的冷熱循環(huán)沖擊氣流, 為芯片溫度測試提供快速準(zhǔn)確的溫度環(huán)境, 適合模擬芯片在各種溫度測試和調(diào)節(jié)的應(yīng)用, 廣泛應(yīng)用于 RF 射頻, 微波, 電子, 功率器件, 通信芯片等的循環(huán)試驗 Thermal cycle, 高低溫沖擊測試 thermal shock, 滿足芯片特性和故障分析的需求.
上海伯東是美國inTEST中國總代理.

若您需要進(jìn)一步了解inTEST 熱流儀詳細(xì)信息或討論, 請聯(lián)絡(luò)上海伯東葉女士 分機(jī) 107

現(xiàn)部分品牌誠招合作代理商, 有意向者歡迎聯(lián)絡(luò)上海伯東 葉女士

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