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發(fā)聲晶體管測試儀電路原理圖

CHANBAEK ? 來源:circuit-diagramz ? 作者:circuit-diagramz ? 2023-12-13 17:35 ? 次閱讀

測試儀的操作特性:最少的控制和電流消耗

該測試儀無需任何用戶操作的控件即可運行,僅在揚聲器激活時才汲取電流。它由三個振蕩器組成,每個振蕩器都包含一個永久安裝的晶體管和被測晶體管 (TOT)。這些振蕩器通過緩沖或門共同驅動共享揚聲器。每個振蕩器的頻率取決于相應 RC 網(wǎng)絡(R5C2、R11C4 或 R15C5)的時間常數(shù)以及 TOT 的電流放大倍數(shù)。雖然 npn 部分幾乎相同,但電源線卻相反。

區(qū)分緩沖級:確保正確的揚聲器連接

緩沖級表現(xiàn)出輕微的變化,以保證揚聲器的正確連接。設計用于測試 n 溝道 FET 的級基本上源自 npn 級的設計。在操作期間,柵極必須保持相對于源極的負極性。高增益類型對于晶體管 T1、T3 和 Tc 至關重要,以防止低 f3 的 TOT 被錯誤地識別為無功能。

晶體管發(fā)聲測試儀示意圖

安全晶體管測試:測試儀設計和引腳排列變化

該測試儀經(jīng)過專門設計,可促進未知晶體管的安全測試,而不會造成損壞。雙極晶體管的引腳排列可能為 EBC 或 BCE。為了適應這種變化,建議使用帶有端子 EBCE 甚至 CEBCE(適用于 npn 和 pnp)的測試引線。待檢查的晶體管連接到不同的端子,直到揚聲器激活。這不僅可以識別引腳排列,還可以識別 TOT 是 npn 還是 pnp 類型。發(fā)出的音調的頻率可以作為發(fā)射器和收集器之間正確連接的指示器。不正確的連接會導致電流增益較低和振蕩器頻率較高,這可以通過互換兩個連接來糾正。

n 溝道 FET 的對稱性挑戰(zhàn):連接源極和漏極

n 溝道 FET 的對稱性給區(qū)分源極和漏極帶來了挑戰(zhàn)。當揚聲器啟動時,表明柵極連接正確,但無法區(qū)分源極和漏極。測試引線具有靈活性,可端接到鱷魚夾或快速釋放的彈簧端子上。

晶體管發(fā)聲測試儀示意圖

晶體管發(fā)聲測試儀示意圖

晶體管發(fā)聲測試儀示意圖

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