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蔡司ZEN core電鏡圖片量化分析解決方案

jf_57082133 ? 來源:jf_57082133 ? 作者:jf_57082133 ? 2023-12-29 13:07 ? 次閱讀

ZEN core軟件處理的不僅僅是顯微鏡成像。也是一個綜合性的軟件套件,它集成了成像、圖像分割、分析和數(shù)據(jù)連接工具。它可以分析來自所有蔡司顯微鏡和任意來源的圖像,輕松實(shí)現(xiàn)互聯(lián)材料實(shí)驗(yàn)室中的多模態(tài)顯微技術(shù)。

產(chǎn)品優(yōu)勢:

?易于配置——得益于自適應(yīng)用戶界面,操作簡單

?高級成像和自動化分析——使用內(nèi)置采集程序,充分利用可重復(fù)工作流程一致

?互聯(lián)實(shí)驗(yàn)室的基礎(chǔ)設(shè)施解決方案——您可以將來自不同儀器、不同實(shí)驗(yàn)室和不同地點(diǎn)的重要數(shù)據(jù)匯集在一起

wKgaomWOU-KAdC3LAALhJIXAI8s166.png


圖像分析

圖像分析模塊提供引導(dǎo)圖像自動測量功能??蓽y量面積、顆粒大小和百分比含量。通用分析模塊,適用于各個行業(yè),如:增材制造、新能源電池、金屬、聚合物等行業(yè)。

▲粉末冶金/增材制造金屬顆粒的自動分析
鋰電池負(fù)極,硅顆粒和石墨顆粒,硅顆粒占9.38%
▲聚合物粒徑的統(tǒng)計分析


多相測量

多相測量模塊分析樣品的相含量。完全自動化和精確地測定相尺寸、形狀和取向。通用分析模塊,適用于各個行業(yè),如:增材制造、新能源電池、金屬、聚合物等行業(yè)。

膜厚測量

膜厚測量模塊可以測量涂層和鍍層的厚度,軟件可以自動識別邊界并提供測量統(tǒng)計數(shù)據(jù)。支持的標(biāo)準(zhǔn):DIN EN ISO 1463:2004,ASTM B487-2007。通用分析模塊,適用于各個行業(yè),如:新能源電池、半導(dǎo)體、聚合物等行業(yè)。

離線評估測量

離線評估測量模塊可實(shí)現(xiàn)微觀尺度的精確測量。隨著工件日益小型化,生產(chǎn)工具能夠以非常嚴(yán)格的公差生產(chǎn)出極其精細(xì)的產(chǎn)品特征。為了確保產(chǎn)品質(zhì)量,制造商需要測量那些太小而不能被人眼識別的特征。蔡司ZAPHIRE軟件集成了離線評估功能,它優(yōu)化了顯微鏡數(shù)據(jù)的導(dǎo)入,并為顯微鏡配備了計量功能——幫助您獲得更高的質(zhì)量和更好的輸出,并可應(yīng)用于半導(dǎo)體微納和機(jī)械加工。和其他行業(yè)。

優(yōu)點(diǎn):

?分析結(jié)果可避免人為錯誤

?快速自動測量?自動邊緣檢測

?自動生成ZEISS PiWeb報告

?ZEN核心批處理

?統(tǒng)計數(shù)據(jù)和趨勢分析

?CAD輸入和輸出

機(jī)器學(xué)習(xí)細(xì)分

機(jī)器學(xué)習(xí)模塊為包括3D數(shù)據(jù)集在內(nèi)的多維圖像分割提供了強(qiáng)大的機(jī)器學(xué)習(xí)功能。

GxP-審計線索

GxP模塊使顯微鏡硬件和軟件無縫集成的可追蹤工作流程,以滿足行業(yè)監(jiān)管要求。ZEN核心中的任何現(xiàn)有工作流都與GxP模塊兼容。

優(yōu)點(diǎn):

?審核,可記錄用戶的顯微鏡操作過程。質(zhì)量檢測經(jīng)理可以重復(fù)檢測結(jié)果和檢測過程。

?用戶管理/用戶角色,實(shí)驗(yàn)室管理人員可以創(chuàng)建具有不同操作模式功能的賬戶,質(zhì)檢管理人員可以針對不同的賬戶發(fā)布不同的工作流程和驗(yàn)證電子簽名,方便不同用戶的使用和管理。

?數(shù)據(jù)恢復(fù),IT經(jīng)理可以實(shí)現(xiàn)備份/數(shù)據(jù)恢復(fù)功能和存檔/數(shù)據(jù)庫功能。

?制藥公司實(shí)施符合FDA 21 CFR Part 11要求的測試規(guī)范

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