集成電路工業(yè)水平和規(guī)模是一個(gè)國(guó)家綜合國(guó)力的標(biāo)志,也是大國(guó)戰(zhàn)略競(jìng)爭(zhēng)的制高點(diǎn)。目前我國(guó)集成電路與光電芯片產(chǎn)業(yè)從材料、設(shè)備、工藝到設(shè)計(jì)的電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化工具都面臨諸多問(wèn)題,不能完全支撐國(guó)民經(jīng)濟(jì)、社會(huì)發(fā)展、國(guó)家信息安全,以及國(guó)防裝備的快速發(fā)展。
要想電子行業(yè)飛速發(fā)展,借助數(shù)字化工具是必不可少的。
我們以A芯片公司為例(以下簡(jiǎn)稱A公司),一起了解下芯片行業(yè)的LIMS實(shí)驗(yàn)室管理系統(tǒng):
1. 高頻數(shù)據(jù)智能采集
A公司在芯片測(cè)試過(guò)程中部分實(shí)驗(yàn)會(huì)產(chǎn)生近百萬(wàn)條的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),如此龐大的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)一般的數(shù)據(jù)庫(kù)系統(tǒng)難以支撐。金現(xiàn)代LIMS系統(tǒng)創(chuàng)造性地將時(shí)序數(shù)據(jù)庫(kù)、關(guān)系型數(shù)據(jù)庫(kù)和MONGO數(shù)據(jù)庫(kù)相結(jié)合,相比普通數(shù)據(jù)庫(kù),時(shí)序數(shù)據(jù)庫(kù)對(duì)高頻數(shù)據(jù)的采集效率提高了4倍,存儲(chǔ)效率提高了15倍,查詢效率提高了3倍,可以幫助企業(yè)實(shí)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)室原始數(shù)據(jù)的穩(wěn)定采集、科學(xué)存儲(chǔ)和便捷查詢。
2. 自定義實(shí)驗(yàn)流程
芯片測(cè)試領(lǐng)域的FA實(shí)驗(yàn)等特殊實(shí)驗(yàn)的檢測(cè)流程不固定,對(duì)實(shí)驗(yàn)室管理系統(tǒng)的靈活性要求性非常高。金現(xiàn)代LIMS系統(tǒng)基于輕騎兵低代碼平臺(tái)研發(fā)設(shè)計(jì),具備良好的靈活性,用戶可以通過(guò)簡(jiǎn)單的拖拉拽操作來(lái)自定義實(shí)驗(yàn)流程、自定義實(shí)驗(yàn)記錄模板,助力企業(yè)實(shí)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)流程的無(wú)紙化、規(guī)范化,避免了線上線下兩套體系的局面。
3. 滿足CNAS體系要求
A公司已獲得CNAS認(rèn)可資質(zhì),在LIMS系統(tǒng)的加持下可以更好地進(jìn)行規(guī)范化管理。金現(xiàn)代LIMS系統(tǒng)是在CNAS評(píng)審委員的指導(dǎo)和參與設(shè)計(jì)下,基于2018版CNAS規(guī)范進(jìn)行升級(jí)改造的,系統(tǒng)完美適配新版CNAS規(guī)范,可按照CNAS規(guī)范對(duì)實(shí)驗(yàn)室“人、機(jī)、料、法、環(huán)”各項(xiàng)要素進(jìn)行規(guī)范化管理。系統(tǒng)按照規(guī)范內(nèi)置了上百個(gè)常用的表單模板,并針對(duì)容易出問(wèn)題的環(huán)節(jié)設(shè)置了提醒類功能。上線以來(lái),已經(jīng)幫助近百家實(shí)驗(yàn)室通過(guò)了CNAS評(píng)審和復(fù)審,贏得了眾多用戶和CNAS評(píng)委的好評(píng)。
4. 自動(dòng)化的審計(jì)追蹤
金現(xiàn)代LIMS的審計(jì)追蹤不需要用戶做任何操作,操作負(fù)擔(dān)為零。團(tuán)隊(duì)將醫(yī)藥領(lǐng)域的審計(jì)追蹤理念應(yīng)用到半導(dǎo)體領(lǐng)域,系統(tǒng)自動(dòng)記錄實(shí)驗(yàn)過(guò)程中的所有操作日志、數(shù)據(jù)日志和審批日志。打開一個(gè)實(shí)驗(yàn)的審計(jì)日志,可以查看從委托登記到實(shí)驗(yàn)報(bào)告發(fā)布的全過(guò)程,選擇其中的任意一個(gè)環(huán)節(jié),都可立即知道是什么人、什么時(shí)間做了什么具體操作,確保實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)完整、準(zhǔn)確、可追溯。
目前,金現(xiàn)代LIMS實(shí)驗(yàn)室管理系統(tǒng)已在醫(yī)藥、能源、建材、電子、第三方檢測(cè)等眾多領(lǐng)域成功應(yīng)用,在芯片領(lǐng)域的數(shù)智化建設(shè)方面也開始發(fā)力,進(jìn)一步深化深化整體解決方案,積極驅(qū)動(dòng)電子行業(yè)的實(shí)驗(yàn)室轉(zhuǎn)型與發(fā)展。
審核編輯 黃宇
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