納米軟件帶你了解電源模塊測(cè)試方法——電源高溫高濕儲(chǔ)存測(cè)試

電源高溫高濕存儲(chǔ)測(cè)試的目的是為了測(cè)量環(huán)境對(duì)電源結(jié)構(gòu)、元件以及整機(jī)電氣的影響，從而判斷電源結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和零件選用的合理性。在測(cè)試過程中需要用到的設(shè)備有：

交流電源、電子負(fù)載、功率表、溫控室、高壓測(cè)試儀

測(cè)試條件：

溫度：70±2℃

濕度：90-95%

測(cè)試時(shí)間：24Hrs（非操作條件）

測(cè)試步驟：

1. 測(cè)試前記錄待測(cè)品的輸入功率、輸出電壓及HI-POT狀況；

2. 將確認(rèn)后的待測(cè)品放入恒溫恒濕機(jī)內(nèi)，按照規(guī)格設(shè)定溫度和濕度，然后啟動(dòng)溫控室；

3. 開始測(cè)試，測(cè)試24小時(shí)后待測(cè)品需要在空氣中放置至少4Hrs，然后再確認(rèn)待測(cè)品外觀、結(jié)構(gòu)以及電氣性能是否正常。

在該測(cè)試過程中需要注意，電源性能在測(cè)試期間及結(jié)束后不能有降級(jí)和退化現(xiàn)象，而且測(cè)試結(jié)束后電源模塊的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測(cè)試需要符合規(guī)格書的要求。

電源高溫高濕存儲(chǔ)測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)，用電源模塊測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試可以解放人力，提高測(cè)試速度和精度，并以指標(biāo)形式反饋測(cè)試結(jié)果。電源測(cè)試系統(tǒng)靈活性高、兼容性強(qiáng)，用戶可以自由選擇儀器型號(hào)、操作簡(jiǎn)單，程序開發(fā)和測(cè)試不用集中于一人，實(shí)現(xiàn)高效能測(cè)試。

審核編輯 黃宇