日立分析儀器推出了可在NEXTA DSC系列熱分析儀上使用的偏光顯微鏡配件

2024年3月6日，日立高新技術(shù)集團(tuán)旗下的日立分析儀器有限公司（以下簡稱為“日立分析儀器”）推出了可在NEXTA DSC系列熱分析儀上使用的偏光顯微鏡配件。

NEXTA DSC被用于不同的熱分析領(lǐng)域，包括聚合物、制藥、電子、化學(xué)、學(xué)術(shù)研究、石油和天然氣、食品和金屬等，以對熱流進(jìn)行測量從而獲得材料特性。其可測量熔點(diǎn)、玻璃化轉(zhuǎn)變和結(jié)晶等熱性能。

在開發(fā)高性能材料的行業(yè)和研究設(shè)施中，作為日立NEXTA DSC可選配件的Real View偏光顯微樣品觀察裝置用途廣泛，可擴(kuò)展應(yīng)用到樣品晶體取向、多層薄膜質(zhì)量控制和故障分析等。

高級顯微分析

NEXTA DSC的Real View偏光顯微樣品觀察裝置配備一個(gè)2,000萬像素的高分辨率攝像頭，與標(biāo)準(zhǔn)Real View攝像系統(tǒng)相比，分辨率提高了10倍，數(shù)碼變焦倍率提高了50倍。

此外，可控偏光技術(shù)增強(qiáng)了圖像的對比度，使操作人員能夠探索樣品的方向性，即各向異性。

攝像頭裝置具有專門為偏光觀測設(shè)計(jì)的專用圖像處理功能。該系統(tǒng)采用與NEXTA DSC系列類似的簡單操作，可對多層薄膜進(jìn)行逐層熔點(diǎn)分析。

這些功能有助于對各種材料進(jìn)行高精度結(jié)構(gòu)分析，能夠清晰地觀測微小區(qū)域，包括多層薄膜質(zhì)量的異常。

日立分析儀器熱分析儀產(chǎn)品經(jīng)理Olivier Savard表示：“NEXTA DSC系列的Real View偏光顯微樣品觀察裝置引入了高精度結(jié)構(gòu)分析的創(chuàng)新方法，為需要增強(qiáng)材料特征的公司和研究實(shí)驗(yàn)室擴(kuò)展了差示掃描量熱儀的功能?！?/p>

日立高新科學(xué)熱分析儀產(chǎn)品經(jīng)理西村晉哉表示:“偏光顯微樣品觀察裝置采用由日立創(chuàng)新開發(fā)的圖像處理功能對微區(qū)域進(jìn)行熱分析。該產(chǎn)品為研發(fā)和質(zhì)量保證/質(zhì)量控制市場提供了創(chuàng)新應(yīng)用和解決方案。"

*“NEXTA”和“Real View”是日立分析儀器在日本、美國、歐盟及其他國家/地區(qū)的注冊商標(biāo)。

審核編輯：劉清