光學(xué)檢測(cè)作為智能制造的關(guān)鍵一環(huán),一直以來(lái)肩負(fù)著工業(yè)制造過(guò)程中產(chǎn)品質(zhì)量、精度和性能等方面的重要保證。近年來(lái),更是被廣泛用于消費(fèi)電子、半導(dǎo)體芯片,汽車零部件等質(zhì)量檢測(cè)中,為制造業(yè)從材料分析到生產(chǎn),再到裝配及失效分析全面賦能,向高質(zhì)量發(fā)展努力轉(zhuǎn)型。
蔡司代理三本精密儀器獲悉,在即將于上海新國(guó)際博覽中心(3月20-22日)舉辦的2024慕尼黑“上海光博會(huì)”(LASER WORLD of PHOTONICS CHINA2024)上,「質(zhì)量」專家蔡司將再度攜一眾質(zhì)量解決方案重磅登場(chǎng)——屆時(shí),您將領(lǐng)略蔡司最新光學(xué)系統(tǒng)復(fù)合式檢測(cè)解決方案,,顯微分析質(zhì)量解決方案,連接器無(wú)損檢測(cè)解決方案,藍(lán)光三維光學(xué)掃描質(zhì)量解決方案等。
而更值得期待的是,展會(huì)首日,蔡司還將正式發(fā)布旗下顯微鏡家族的新品ZEISS Axio Zoom.V16,這款兼具高分辨率與高效率的蔡司數(shù)碼顯微鏡究竟將帶來(lái)哪些創(chuàng)新?3月20日上午11:00,蔡司展臺(tái)W4102,我們將現(xiàn)場(chǎng)為您揭曉,敬請(qǐng)期待!
先劇透現(xiàn)場(chǎng)部分精彩
看點(diǎn)1
復(fù)合式質(zhì)量解決方案 | 電子器材
挑戰(zhàn):電子領(lǐng)域背板連接器測(cè)量挑戰(zhàn)
蔡司解決方案 | O-DETECT 322復(fù)合式檢測(cè)
高效光學(xué)測(cè)量 更高檢測(cè)效率
全景相機(jī)導(dǎo)航 方便編程
軟件系統(tǒng) 功能強(qiáng)大卻簡(jiǎn)單易學(xué)
看點(diǎn)2
CT檢測(cè)質(zhì)量解決方案 | 電子產(chǎn)品
連接器產(chǎn)業(yè)鏈的測(cè)量挑戰(zhàn)(從生產(chǎn)到裝配及失效分析)
蔡司解決方案 | ZEISS METROTOM | 生產(chǎn)過(guò)程
一臺(tái)設(shè)備具備多種功能包括但不限于GD&T檢測(cè),失效分析,非破壞性測(cè)試
借助孔隙率分析功能優(yōu)化注塑工藝參數(shù)
低使用成本、低維護(hù)成本、較小占地面積(1.6㎡)
多工件批量掃描、自動(dòng)化檢測(cè)腳本,有效節(jié)約人力和時(shí)間
蔡司解決方案 | ZEISS METROTOM + ZEISS INSPECT X-Ray | 裝配及失效分析
在整個(gè)測(cè)量范圍內(nèi)具備可追溯的計(jì)量精度
ZEISS INSPECT X-Ray 簡(jiǎn)便易用,功能強(qiáng)大
無(wú)損檢測(cè),無(wú)需剖切
ZEISS Metrotom多樣產(chǎn)品序列滿足客戶各種需求
AMMAR 及BHC各類偽影校正功能,顯著提升圖像質(zhì)量
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