邏輯數(shù)字部分的自檢功能之LBIST

英飛凌的TC3xx系列是符合ASIL D的MCU，自身帶有很多自檢功能，今天我們來(lái)分享下LBIST，邏輯數(shù)字部分的自檢功能。代碼使用AURIX Development studio V1.8版本

TC334平臺(tái)LBIST簡(jiǎn)介

英飛凌Aurix TC3xx作為滿(mǎn)足ASIL D的32位高性能MCU，提供了大量安全機(jī)制來(lái)覆蓋MCU不同的失效模式。針對(duì)潛在失效部分，TC3xx有PBIST（電源自檢），LBIST (邏輯自檢), MBIST(內(nèi)存自檢)，MONBIST(二級(jí)電壓監(jiān)控自檢)等特性來(lái)滿(mǎn)足客戶(hù)系統(tǒng)級(jí)的功能安全需求。

LBIST是一種片上硬件機(jī)制,可用于檢測(cè)MCU潛在故障。AURIX TC3xx平臺(tái)的LBIST實(shí)現(xiàn)允許對(duì)MCU邏輯執(zhí)行定期自檢。LBIST在MCU應(yīng)用模式下的執(zhí)行基于為生產(chǎn)測(cè)試而實(shí)施的DFT結(jié)構(gòu),因此可重復(fù)使用MCU中已有的掃描鏈、控制和狀態(tài)機(jī)制。啟動(dòng)LBIST有兩種可配置的方式:作為啟動(dòng)序列的一部分或由MCU功能模式下的應(yīng)用軟件啟動(dòng)。LBIST的執(zhí)行結(jié)果在LBIST結(jié)果和狀態(tài)寄存器中提供,應(yīng)用軟件可利用這些結(jié)果在檢測(cè)到潛在故障時(shí)達(dá)到 MCU安全狀態(tài)。

LBIST功能開(kāi)啟

LBIST執(zhí)行函數(shù)存放于Ifx_Cfg_Ssw.c文件，根據(jù)函數(shù)定義只需將Ifx_Cfg_Ssw.h文件中的IFX_CFG_SSW_ENABLE_LBIST定義改為1，程序就會(huì)在SSW執(zhí)行過(guò)程中進(jìn)行邏輯自檢。

LBIST功能執(zhí)行函數(shù)

默認(rèn)值為0，寫(xiě)1打開(kāi)LBIST

結(jié)果驗(yàn)證

期望簽名

LBISTDONE位顯示為1，表明自上電復(fù)位以來(lái)，至少有一次LBIST過(guò)程成功執(zhí)行。且SCU_LBISTCTRL3.SIGNATURE為0x740ef25a，與期望配置中的簽名一致，代表邏輯自檢成功。

如若邏輯自檢不成功，則用戶(hù)在此處可以進(jìn)行相關(guān)處理。

通過(guò)查看以上寄存器的的值，表明LBIST功能成功執(zhí)行。

審核編輯：黃飛