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什么是溫升極限測(cè)試?開(kāi)關(guān)電源溫升極限測(cè)試步驟是什么?

納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 來(lái)源:納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 作者:納米軟件(系統(tǒng)集 ? 2024-04-18 13:54 ? 次閱讀

開(kāi)關(guān)電源溫升極限測(cè)試是指開(kāi)關(guān)電源在沒(méi)有過(guò)溫保護(hù)的條件下,逐漸升高電源的測(cè)試溫度,直到開(kāi)關(guān)電源損壞。溫升極限測(cè)試是為了研究開(kāi)關(guān)電源能夠承受的最高環(huán)境溫度,從而評(píng)估開(kāi)關(guān)電源的性能,優(yōu)化提升開(kāi)關(guān)電源的工藝設(shè)計(jì)。

溫升極限測(cè)試步驟

1. 去掉開(kāi)關(guān)電源的溫度保護(hù)裝置,并把電源放在溫箱中。

2. 調(diào)整開(kāi)關(guān)電源輸入電壓為最低電壓,輸出為最大功率點(diǎn)。

3. 檢測(cè)開(kāi)關(guān)電源溫度保護(hù)繼電器的溫度。

4. 從開(kāi)關(guān)電源最高環(huán)境溫度開(kāi)始,以5oC/30min的速度逐漸升高環(huán)境溫度,直到開(kāi)關(guān)電源損壞。

5. 記錄開(kāi)關(guān)電源損壞時(shí),內(nèi)部各個(gè)關(guān)鍵器件的溫升和損壞情況,分析故障點(diǎn)。

6. 如果在規(guī)定的工作溫度上限,開(kāi)關(guān)電源屏蔽過(guò)溫保護(hù),長(zhǎng)時(shí)間滿(mǎn)載工作下電源沒(méi)有損壞,則合格;否則不合格。

由于溫升極限測(cè)試需要逐步升高溫度,監(jiān)測(cè)每個(gè)溫度下開(kāi)關(guān)電源的性能,如果用傳統(tǒng)測(cè)試方法測(cè)試,測(cè)試過(guò)程繁瑣、耗時(shí)長(zhǎng),而且也無(wú)法保證測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確可靠。因此,自動(dòng)化測(cè)試至關(guān)重要。NSAT-8000開(kāi)關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)不僅簡(jiǎn)化了測(cè)試程序,規(guī)范測(cè)試流程,而且還可以自動(dòng)采集存儲(chǔ)數(shù)據(jù),繪畫(huà)溫升曲線(xiàn),分析溫度變化下開(kāi)關(guān)電源的性能表現(xiàn),自動(dòng)判別開(kāi)關(guān)電源性能是否合格。

溫升極限測(cè)試的結(jié)果可以為開(kāi)關(guān)電源的優(yōu)化提升提供數(shù)據(jù)參考。如果開(kāi)關(guān)電源損壞時(shí)的最高溫度與保護(hù)模塊繼電器溫度之間的距離差值為負(fù),說(shuō)明溫度保護(hù)功能沒(méi)有起作用;如果兩者相差6~10oC,說(shuō)明組件的熱裕量太小;如果溫差大于40度,則表示裕量太大。

審核編輯 黃宇

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