多功能推拉力測試機可實現(xiàn)芯片貼裝剪切力測試

LB-8100A多功能推拉力測試機廣泛應于與 LED封裝測試、IC半導體封 裝測試、TO封裝測試、IGBT功率模塊封裝測試、光電子元器件封裝測試、汽 車領(lǐng)域、航天航空領(lǐng)域、研究機構(gòu)的測試及各類院校的測試 研究等應用。

多功能推拉力測試機設置主要結(jié)構(gòu)：
1.主機
2.顯微鏡系統(tǒng)
3.X、Y、Z移動平臺
4.力傳感系統(tǒng)
5.計算機控制處理系統(tǒng)
6.測試治具

設備硬件及軟件同時具備芯片貼裝剪切力測試、鍵合推拉力測試、焊球推力測度、剝離力測試等功能，選擇相應功能的測試模塊即可輕松實現(xiàn)。

設備型號：LB-8100A
外形尺寸：650mm*600mm*760mm（含左右操作手柄）
設備重量：約 80KG
電源供應：110V/220V@3.0A 50/60HZ
氣壓供應：4.5-6Bar
控制電腦：聯(lián)想/惠普原裝PC
電腦系統(tǒng)：Windows7/Windowsl0 正版系統(tǒng)
顯微鏡：標配高清連續(xù)變倍顯微鏡（可選配三目顯微鏡+高清CCD相機）
傳感器更換方式：手動更換（根據(jù)測試需要選擇相應的測試模組，軟件自動識別模組量程）
平臺治具：360度旋轉(zhuǎn)，平臺可共用各種測試治具
XY軸絲桿有效行程：100mm* 100mm 配真空平臺可拓展至200mm*200mm，大測試力200KG
XY軸大移動速度：采用霍爾搖桿對XY軸自由控制，大移動速度為6mm/S
XY軸絲桿精度：重復精度±5um 分辨率≤0.125 ： 2mm以內(nèi)精度±2um
Z軸絲桿有效行程：100mm 分辨率≤0.125um，大測試力20KG
Z軸大移動速度：采用霍爾搖桿對Z軸自由控制，大移動速度為8mm/S
Z軸絲桿精度：±2um 剪切精度：2mm以內(nèi)精度±2um
傳感器精度：傳感器精度土0.003%：綜合測試精度土0.25%
設備治具：根據(jù)樣品或圖紙按產(chǎn)品設計治具（出廠標配一套）
設備校正：設備出廠標配相應校正治具及砝碼一套
質(zhì)量保證：設備整機質(zhì)保2年，軟件身免費升級（人為損壞不含）

設備標配高清連續(xù)變倍顯微鏡及CCD拍照與錄像功能，可記錄測試的完整過程

設備出廠標配各測試模組校正治具及砝碼一套，以方便后期對設備精度的校驗。

平臺夾具：夾具可 360度旋轉(zhuǎn)，平臺可共用各種夾具，治具按客戶圖紙或樣品設計。

四向運動平臺，采用進口傳動部件，確保機臺高速、長久穩(wěn)定運行。

雙搖桿控制機器四向運動，操作簡單快捷

機器自帶電腦，windows操作系統(tǒng)，軟件操作簡單，顯示屏可一次顯示多組測試數(shù)據(jù)及力值分布曲線；并可實時導出、保存數(shù)據(jù)；

工作環(huán)境要求

工作溫度：20~30℃

相對濕度：40%~70%

電源要求：

交流220V~240V 50/60Hz