在信息技術飛速發(fā)展的今天,簡化操作、提高效率成為了企業(yè)追求的目標。納米軟件公司響應這一趨勢,推出了革命性的ATECLOUD測試平臺,利用0代碼技術,為電測行業(yè)帶來了全新的測試模式。
ATECLOUD智能測試平臺
納米軟件在電測行業(yè)深耕16年,始終以客戶為中心,在多年項目經驗累積下開發(fā)出ATECLOUD測試平臺,為混合集成電路測試提供軟硬件一體化解決方案,打破傳統(tǒng)測試系統(tǒng)信息零散、數(shù)據(jù)孤島、無法靈活變更的限制,真正做到任何時間、任何地點都可以完成自動化測試,為電測行業(yè)的發(fā)展貢獻一份力量。
目前,ATECLOUD專注于為電源模塊、電源管理芯片和射頻組件測試提供自動化測試方案。同時,也支持定制開發(fā),如電機驅動測試、元器件測試等,滿足客戶多樣化的測試需求。
ATECLOUD智能云測試平臺
0代碼開發(fā)平臺:便捷、高效
區(qū)別于傳統(tǒng)測試系統(tǒng),ATECLOUD的特點之一就是0代碼開發(fā)。顧名思義,在使用過程中,用戶無需編寫復雜代碼,只需通過拖、拉、拽、點擊等基礎電腦操作便可快速完成被測產品的測試、數(shù)據(jù)分析、報告導出等測試流程,讓測試變的更加簡單、便捷。
拖拽式項目搭建,便捷迅速
傳統(tǒng)測試系統(tǒng)對人員的專業(yè)度要求高,不僅要了解業(yè)務流程,還需要熟練代碼編寫,這無疑增加了企業(yè)成本,而且可能需要長時間來搭建測試項目,降低測試效率。
ATECLOUD采取無代碼模式,建立儀器標準指令以及各種節(jié)點,用戶只需拖拽儀器指令以及相應節(jié)點,15分鐘即可迅速搭建測試項目。這種方式不僅操作簡單,而且對人員要求低,只需了解業(yè)務流程即可。
測試項目搭建簡單
方便系統(tǒng)維護,快速查找問題
如果在系統(tǒng)使用中遇到問題,代碼開發(fā)的測試系統(tǒng)可能難以快速定位問題;尤其是遇到人員變動的情況,由于對之前的代碼不了解,系統(tǒng)維護更是難上加難,從而影響測試效率和生產進度。
ATECLOUD平臺支持測試項目流程圖的可視化,業(yè)務流程以及測試參數(shù)都可追溯,因此可以迅速發(fā)現(xiàn)問題,判斷測試流程是否有誤,參數(shù)、閾值設置等是否有問題,從而提高解決問題的效率。
測試數(shù)據(jù)回溯查看
靈活調整,滿足測試需求
隨著技術的發(fā)展與產品的升級迭代,在測試項目或者業(yè)務流程發(fā)生變化時,代碼開發(fā)的測試系統(tǒng)需要通過復雜編程來調整,甚至一些特定需求可能無法通過代碼實現(xiàn),需要額外開發(fā)系統(tǒng),無法靈活適應產品的變更。
而在ATECLOUD平臺中,簡單拖拽點擊便可快速新增測試項目,無需代碼。測試項目工步搭建會對用戶開放,可以隨時修改閾值、參數(shù)、流程等,靈活調整項目。
ATECLOUD智能測試平臺,以其獨特的0代碼開發(fā)模式,不僅極大地提升了電測工作的效率,還為企業(yè)打開了通往智能化生產的大門。納米軟件將繼續(xù)致力于技術創(chuàng)新,為電測行業(yè)的未來發(fā)展貢獻力量。
審核編輯 黃宇
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