P60.X200系列高精度一維壓電納米定位臺應(yīng)用于光學(xué)測量

光學(xué)測量是利用光的性質(zhì)如光的傳播、反射、折射、干涉、衍射等，進行長度、形狀、角度、顏色等精確測量的非接觸式測量技術(shù)，在工業(yè)、醫(yī)療、航空航天等領(lǐng)域獲得廣泛的應(yīng)用。隨著技術(shù)的不斷進步與革新，光學(xué)測量技術(shù)在向更高精度、更高效的方向發(fā)展，芯明天納米定位臺以其高精度和快速的響應(yīng)速度特點，在光學(xué)測量技術(shù)中提供納米級精密定位，可使測量結(jié)果更精確。

注：圖片來源于網(wǎng)絡(luò)

P60.X200系列高精度一維壓電納米定位臺

P60.X200系列壓電納米定位臺采用機構(gòu)放大設(shè)計原理，柔性鉸鏈連接支撐傳動，內(nèi)部采用高可靠性壓電陶瓷驅(qū)動，可產(chǎn)生一維X軸直線運動，位移可達200μm，分辨率可達2nm，承載可達1.3kg，開環(huán)狀態(tài)下，空載階躍時間可達30ms，可配置閉環(huán)傳感實現(xiàn)高精度掃描與定位。P60.X200系列壓電納米定位臺為一維X向運動平臺，可以通過疊加轉(zhuǎn)接的方式實現(xiàn)二維、三維運動。產(chǎn)品外觀如下所示。

產(chǎn)品特點

一維X向運動，行程可達200μm

承載可達1.3kg

分辨率可達2nm

開/閉環(huán)可選，真空版本可選

可組多維使用

產(chǎn)品應(yīng)用

光學(xué)測量

光學(xué)檢測

顯微掃描

激光干涉

生物科技

技術(shù)參數(shù)

配套控制器

E53.D系列壓電控制器非常適用于驅(qū)動P60.X200系列壓電納米定位臺。E53.D系列是針對小體積應(yīng)用要求而設(shè)計的單通道控制器，體積小巧，外形尺寸僅為148×27.5×80mm^3，重量為350g，供電電壓24VDC/1A。機身帶有散熱區(qū)域，可迅速導(dǎo)出產(chǎn)生的熱量，上位機軟件支持二次開發(fā)，體積小巧，易于集成。

審核編輯 黃宇