01|檢測(cè)需求:掃描薄膜圓圈的高度差
立儀光譜共焦傳感器行業(yè)應(yīng)用|薄膜高度差掃描
02|檢測(cè)方式
客戶要求掃描薄膜圓圈的高度差,根據(jù)觀察樣品我們選擇立儀科技D40A30鏡頭搭配H系列控制器進(jìn)行測(cè)量
03|光譜共焦測(cè)量結(jié)果
薄膜圓圈的高度差輪廓
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04|光譜共焦側(cè)頭
D40A30側(cè)頭相關(guān)參數(shù)
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05|H系列控制器
H系列控制器相關(guān)參數(shù)
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審核編輯 黃宇
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