產(chǎn)品簡述
MS1205N 是一款高精度時間測量(TDC)電路,具有四通
道、多脈沖的采樣能力、高速 SPI 通訊、多種測量模式,適合
于激光雷達和激光測距。
主要特點
? 單精度模式 60ps
? 雙精度模式 30ps
? 非校準(zhǔn)測量范圍 3.5ns(0ns)至 25μs
? 單精度校準(zhǔn)測量范圍 3.5ns(0ns)至 16μs
? 雙精度校準(zhǔn)測量范圍 3.5ns(0ns)至 4μs
? 20ns 最小脈沖間隔,四通道最多可接收 40 個脈沖
? 4 線 SPI 通信接口
? 工作電壓 2.5V 至 3.6V
? 工作溫度-40°C 至+125°C
? QFN40 封裝
應(yīng)用
? 激光雷達
? 激光測距
? 脈沖測量
產(chǎn)品規(guī)格分類
管腳圖
管腳說明
內(nèi)部框圖
極限參數(shù)
芯片使用中,任何超過極限參數(shù)的應(yīng)用方式會對器件造成永久的損壞,芯片長時間處于極限工作
狀態(tài)可能會影響器件的可靠性。極限參數(shù)只是由一系列極端測試得出,并不代表芯片可以正常工作在
此極限條件下。
推薦工作條件
沒有特別規(guī)定,環(huán)境溫度為 Ta = 25°C ±2°C 。
*包括晶振管腳 XIN, XOUT
電氣參數(shù)
直流特性
Vcc = Vdd = 3.0 V, Tj = -40 到 +85°C。
如有需求請聯(lián)系——三亞微科技 王子文(16620966594)
功能描述
1. SPI接口
MS1205N 有 2 個 SPI 接口,分別控制 1# 和 2#,SPI 接口是與 4 線制 SPI 兼容的,它需要一個 Serial
Select Not(SSN)信號,因此不能工作在 3-線制 SPI 接口。
SSN 的下降沿或者第一個 SCK 的上升沿將會復(fù)位 INTN 管腳(中斷管腳)狀態(tài)。
從最高位(MSB)開始傳輸,以最低位(LSB)結(jié)束。傳輸是以字節(jié)方式完成的。通過給 SSN 發(fā)送一個
LOW-HIGH-LOW 的電平,數(shù)據(jù)傳輸可以在每個字節(jié)后停止。
4. 電源電壓
為了達到最佳測量效果,好的電源非常重要。電源應(yīng)該具有高電容性和低電感性。MS1205N 提供
兩對電源供應(yīng)端口:VCC - I/O 供電電壓 ,VDD - 內(nèi)核供電電壓。
所有的 Ground 引腳都應(yīng)該連接到印刷電路板的地層上。 VCC 和 VDD 應(yīng)該通過一個電池或者固定
的線性電壓調(diào)節(jié)器給出。不要應(yīng)用開關(guān)式的調(diào)節(jié)器,避免由于 IO 電壓引起的干擾。
時間數(shù)字轉(zhuǎn)換器能夠有好的測量效果,完全取決于好的電源供電。芯片測量主要是脈沖式的電
流,因此雙通濾波非常重要:VCC 47 μF(最小 22 μF),VDD 100 μF(最小 22 μF)。
電壓應(yīng)該通過一個模擬的調(diào)節(jié)器給出,推薦不要使用開關(guān)式的電壓調(diào)節(jié)。
5. 操作碼及寄存器
5.1 配置寄存器
MS1205N 有 2×1 組 32 位的配置寄存器,分別對應(yīng) 1#和 2#的寄存器設(shè)置。
如有需求請聯(lián)系——三亞微科技 王子文(16620966594)
6. 時間測量
6.1. 概述
非校準(zhǔn)模式測量范圍,從 3.5ns 到 25μs(0-25μs 在兩個 stop 通道之間測量)。
校準(zhǔn)模式單精度測量范圍,從 3.5ns 到 16μs(0-16μs 在兩個 stop 通道之間測量)。
校準(zhǔn)模式雙精度測量范圍,從 3.5ns 到 4μs(0-4μs 在兩個 stop 通道之間測量)。
單精度模式典型精度為 60ps,2 個 stop 通道相對于 start 通道。
雙精度模式典型精度為 30ps,僅 stop1 通道相對應(yīng) start 通道。
內(nèi)置特殊防抖技術(shù),使測量時間高度精準(zhǔn)。
20ns 的脈沖之間最小間隔。
四個 stop 通道可同時采集,且每個 stop 通道最多 10 個脈沖。
每個 stop 通道可選擇上升或下降沿捕獲,或者選擇上升和下降沿同時捕獲。
自動測量 START 和 STOP 脈沖之間的時間間隔,無需再進行寄存器設(shè)置。
可任意設(shè)置溢出時間,從而減少高速測量時溢出時間等待。
在非校準(zhǔn)模式下,可以任意測量比預(yù)期脈沖數(shù)少的脈沖。
典型應(yīng)用: 激光測距、激光雷達、脈沖測量。
6.2. 高精度時間測量原理
數(shù)字式 TDC 運用內(nèi)部的邏輯門延時來進行高精度的時間間隔的測量,下圖闡述了這種絕對時間
TDC 的測量原理結(jié)構(gòu)。該電路結(jié)構(gòu)確保電路通過特殊的測量方法,使信號通過邏輯門的時間可以非常
精確。最高的測量精度完全取決于內(nèi)部通過邏輯門的傳播時間。
時間測量是通過一個 start 信號觸發(fā),經(jīng)過內(nèi)部防抖處理后,TDC 的門電路開始高速計數(shù),直到
stop 信號產(chǎn)生記錄計數(shù)結(jié)果,達到 STOP 預(yù)期脈沖數(shù)后停止計數(shù)。
3.3V 和 25°C 時,MS1205N 的單精度最小分辨率是 60ps。溫度和電壓對門電路的傳播延時時間有
很大的影響。通常是通過校準(zhǔn)來補償由溫度和電壓變化而引起的誤差。在校準(zhǔn)過程中,TDC 測量 0.5
個和 1.5 個時鐘周期,相減后得一個時鐘周期的 TDC 計數(shù)結(jié)果,即為校準(zhǔn)值。測量范圍受計數(shù)器大小
的限制,以下是非校準(zhǔn)模式下的最大測量范圍:tyy = 60 ps x 442368 ≈ 25 μs。
每一個輸入端均可以被單獨設(shè)置成上升沿、下降沿或上下沿同時觸發(fā)有效??赏ㄟ^設(shè)置寄存器的
bit8-10 位(EG_START,NEG_STOP1,NEG_STOP2)和寄存器的 bit0-1 位(REFDGEx) 來選擇觸發(fā)沿。
時間測量結(jié)束后,MS1205N 會自動將各個脈沖的測量結(jié)果順序?qū)懙较鄳?yīng)的結(jié)果寄存器,無需再進
行寄存器操作設(shè)置。在計算結(jié)果的過程中,先計算 STOP1 通道的脈沖,然后計算 STOP2 通道的脈沖,
所以當(dāng)使用單通道時,必須使用 STOP1。
6.3. 非校準(zhǔn)時間測量
6.3.1 非校準(zhǔn)時間測量概述
非校準(zhǔn)時間測量,實際上就是應(yīng)用數(shù)字式 TDC 內(nèi)部的邏輯門延時來實現(xiàn)高精度時間測量,非校準(zhǔn)
模式下的最大測量范圍是 3.5ns-25μs。單精度模式下,可以同時測量兩個 STOP 通道,且每個通道最多
可以測量 10 個 STOP 脈沖。雙精度模式下,僅可以使用 STOP1 通道。
非校準(zhǔn)時間測量過程中,無需高速時鐘參與,所以可以通過寄存器設(shè)置來關(guān)閉高速時鐘
(START_CLKHS=0)。在該模式下,測量速度最快,結(jié)果寄存器直接輸出門延時個數(shù)。在非校準(zhǔn)模式下,
結(jié)果寄存器有效位為 20 位,測量時間計算如下,該測量時間受溫度和電壓影響。
測量時間=RES_X × 60ps (DOUBLE_RES=0)
測量時間=RES_X × 30ps (DOUBLE_RES=1)
非校準(zhǔn)模式下也可以實現(xiàn)時間測量和 CAL 值的同時測量,在該模式下,需要開啟高速時鐘
(START_CLKHS=1)和開啟自動校準(zhǔn)(NO_CAL_AUTO=0),這樣就會在測量時間的同時,產(chǎn)生一個 Tref× N 周
期的門延時個數(shù),然后將 CAL 值 RES_Tref 存在指定的結(jié)果寄存器中。測量時間如下計算,該測量時間
和溫度和電壓無關(guān),僅和高速時鐘抖動有關(guān)。
測量時間=RES_X/RES_Tref×Tref× N, N = 1,2,4,8
非校準(zhǔn)模式測量溢出,當(dāng)溢出時間功能關(guān)閉(EN_SEL_TIMO=0)的情況下,溢出時間相當(dāng)于 TDC 溢
出,也就是要 25μs 后產(chǎn)生溢出,并且狀態(tài)寄存器 Bit13=1(TDC 溢出);當(dāng)溢出時間功能開啟
(EN_SEL_TIMO=1)的情況下,溢出時間由溢出時間選擇(SEL_TIMO)進行設(shè)置,溢出時間僅和高速時鐘相
關(guān),不受時鐘分頻(DIV_CLKHS)的影響。例如,高速時鐘為 8MHz,SEL_TIMO=0 的情況下,溢出時間為
125ns,溢出時狀態(tài)寄存器 Bit14=1(時間溢出)。
非校準(zhǔn)模式下,當(dāng)測量脈沖個數(shù)小于預(yù)期脈沖個數(shù)時,可以正常輸出測量脈沖的值,雖然這時狀
態(tài)寄存器溢出,但測量到的脈沖的產(chǎn)生的結(jié)果是正確的,這種應(yīng)用可以解決在測距過程中多個不定目
標(biāo)的問題。
6.3.2 寄存器設(shè)置
主要的設(shè)置為:
(1)選擇測量預(yù)期脈沖個數(shù)
寄存器 bit 31-28 設(shè)置 STOP2 預(yù)期脈沖個數(shù) HITIN2=0 或者 2-B;
寄存器 bit 27-24 設(shè)置 STOP1 預(yù)期脈沖個數(shù) HITIN1=2-B,不能設(shè)置為 0;否則無法開啟測量。
(2)選擇測量精度
寄存器 bit 18, DOUBLE_RES = 1 選擇雙精度模式,測量精度為典型 30ps,但僅有一個 stop 通道
可用。DOUBLE_RES = 0 選擇單精度模式,測量精度為典型 60ps,這時兩個 stop 通道都可用。
(3)校準(zhǔn)選擇
在非校準(zhǔn)模式下,校準(zhǔn)將關(guān)閉,寄存器 bit 13 CALIBRATE=0;
(4)產(chǎn)生 CAL 值
在非校準(zhǔn)模式下,可以選擇產(chǎn)生 CAL 值和不產(chǎn)生 CAL 值,寄存器 bit 12 NO_CAL_AUTO=0 時,產(chǎn)
生 CAL 值,NO_CAL_AUTO=1 時,不產(chǎn)生 CAL 值。
(5)溢出選擇
在非校準(zhǔn)模式下,寄存器 bit 7 EN_SEL_TIMO=0 溢出時間關(guān)閉,這時,溢出時間為 TDC 溢出。當(dāng)
EN_SEL_TIMO=1 時,開啟溢出時間,且溢出時間和寄存器 bit 23-22 SEL_TIMO 設(shè)置有關(guān)。
(6)選擇輸入觸發(fā)方式
可通過設(shè)置寄存器的 Bit 8-10(NEG_X),在每一個輸入端口(Start,Stop1,Stop2)選擇邊沿觸發(fā)方式。
當(dāng) RFEDGE=0 時,NEG_X=0 則上升沿觸發(fā),NEG_X=1 則下降沿觸發(fā)。還可以通過設(shè)置寄存器的
Bit0&1(REFDGE1 & FEDGE2),選擇 STOP 是由上升沿或下降沿單獨觸發(fā)(RFEDGE=0),還是上升沿和下
降沿同時觸發(fā)(RFEDGE=1)。當(dāng) RFEDGE=1 時,Bit 9-10 選擇無效。
(7)中斷
中斷引腳 INTN 可以有不同的中斷源,在寄存器的 Bits4-6(EN_INT)中進行選擇,非校準(zhǔn)模式選擇
bit 6 = 1 和 bit 5= 1;
Reg bit 4 = 1 ALU 已經(jīng)準(zhǔn)備好
Reg bit 5 = 1 預(yù)期脈沖個數(shù)全部被接收到
Reg bit 6 = 1 測量時間溢出
6.3.3 測量流程
6.4 校準(zhǔn)時間測量
注:校準(zhǔn)測量單精度最大測量范圍 16μs,雙精度最大測量范圍 4μs。
6.4.1 校準(zhǔn)時間測量概述
在高速振蕩器開啟情況下進行校準(zhǔn)時間測量,測量的門延時數(shù)量和 Tref 門延時數(shù)量通過 ALU 進行
計算并輸出到結(jié)果寄存器。輸出的結(jié)果為 24 位浮點數(shù),高 8 位為整數(shù)位,低 16 位為小數(shù)位。校準(zhǔn)模
式下的最大測量范圍是 3.5ns-16μs,單精度模式下,可以同時測量兩個 STOP 通道,且每個通道最多可
以測量 10 個 STOP 脈沖,雙精度模式下,僅可以使用 STOP1 通道。
校準(zhǔn)時間測量過程中,需要開啟高速時鐘(START_CLKHS=1)和校準(zhǔn)開啟(CALIBRATE=1)。當(dāng)產(chǎn)生校準(zhǔn)
值關(guān)閉(NO_CAL_AUTOCALIBRATE=1),結(jié)果寄存器輸出非校準(zhǔn)值(可參考非校準(zhǔn)部分介紹)。當(dāng)產(chǎn)生校
準(zhǔn)值開啟(NO_CAL_AUTOCALIBRATE=0)時,結(jié)果寄存器輸出校準(zhǔn)后的值 RES_X,測量時間如下計算,被
測時差不能超過 2 ×Tref× DIV_CLKHS。
測量時間= RES_X × Tref × N, N = 1, 2,4,8;
在校準(zhǔn)時間測量中,必須開啟溢出時間功能(EN_SEL_TIMO=1),溢出時間由溢出時間選擇
(SEL_TIMO)進行選擇,這里的時間僅和高速時鐘相關(guān),不受時鐘分頻(DIV_CLKHS)的影響。例如,高速
時鐘為 8MHz,SEL_TIMO=0 的情況下,溢出時間為 250ns,這時狀態(tài)寄存器 Bit14=1(時間溢出)。
校準(zhǔn)模式下,測量脈沖個數(shù)必須大于或者等于預(yù)期脈沖個數(shù)。當(dāng)測量脈沖小于預(yù)期脈沖個數(shù)時,
ALU 不進行計算,這時,狀態(tài)寄存器 Bit14=1(時間溢出),且 EN_ERR_VAL=1 的情況下,結(jié)果寄存器
0 輸出全 F。
6.4.2 寄存器設(shè)置
主要的設(shè)置為:
(1)選擇測量預(yù)期脈沖個數(shù)
寄存器 bit 31-28 設(shè)置 STOP2 預(yù)期脈沖個數(shù) HITIN2=0 或者 2-B;
寄存器 bit 27-24 設(shè)置 STOP1 預(yù)期脈沖個數(shù) HITIN1=2-B,不能設(shè)置為 0,否則無法開啟測量。
(2)選擇測量精度
寄存器 bit 18, DOUBLE_RES = 1 選擇雙精度模式,測量精度為典型 30ps,但僅有一個 stop 通道
可用。DOUBLE_RES = 0 選擇單精度模式,測量精度為典型 60ps,這時兩個 stop 通道都可用。
(3)校準(zhǔn)選擇
在校準(zhǔn)模式下,高速晶振和校準(zhǔn)都必須開啟,寄存器 bit 13 CALIBRATE=1 和 bit 19 START_CLKHS=1
(4)產(chǎn)生 CAL 值
在校準(zhǔn)模式下,必須選擇產(chǎn)生 CAL 值,寄存器 bit 12 NO_CAL_AUTO=0 時,產(chǎn)生 CAL 值。
(5)溢出選擇
在校準(zhǔn)模式下,必須開啟溢出,寄存器 bit 7 EN_SEL_TIMO=1 開啟溢出時間,且溢出時間和寄存
器 bit 23-22 SEL_TIMO 設(shè)置有關(guān)。
(6)選擇輸入觸發(fā)方式
可通過設(shè)置寄存器的 Bit 8-10(NEG_X),在每一個輸入端口(Start,Stop1,Stop2)選擇邊沿觸發(fā)方式。
當(dāng) RFEDGE = 0 時,NEG_X = 0 則上升沿觸發(fā),NEG_X = 1 則下降沿觸發(fā)。還可以通過設(shè)置寄存器的
Bit0&1(REFDGE1 & FEDGE2),可以選擇 STOP 下降沿單獨觸發(fā)(RFEDGE=0),還是上升沿和下降沿同時
觸發(fā)(RFEDGE=1)。當(dāng) RFEDGE=1 時,Bit 9-10 選擇無效。
(7)中斷
中斷引腳 INT 可以有不同的中斷源,在寄存器的 Bits4-6(EN_INT)中進行選擇。由于 Reg bit 5=1 中
斷輸出最早,Reg bit 4=1 輸出最晚,用戶可以根據(jù)實際情況進行選擇。
Reg bit 4 = 1 ALU 已經(jīng)準(zhǔn)備好
Reg bit 5 = 1 預(yù)期脈沖個數(shù)全部被接收到
Reg bit 6 = 1 測量時間溢出&TDC 溢出
(8)高速時鐘分頻
由于校準(zhǔn)測量時間小于 2 ×Tref× DIV_CLKHS(Tref 只與外接高速晶振相關(guān),如外接 4M,則 Tref =
250ns),所以如果需要增長測量時間,則需要設(shè)置高速時鐘分頻,在寄存器的 Bits20-21(DIV_CLKHS)
中進行設(shè)置,但 2 ×Tref× DIV_CLKHS 不能超出測量范圍的最大值 16μs。
6.4.3 測量流程
典型應(yīng)用圖
封裝外形圖
審核編輯 黃宇
——愛研究芯片的小王
-
激光測距
+關(guān)注
關(guān)注
9文章
154瀏覽量
27471 -
TDC
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
37瀏覽量
13747 -
時間測量
+關(guān)注
關(guān)注
0文章
10瀏覽量
6347
發(fā)布評論請先 登錄
相關(guān)推薦
評論