蔡司掃描電鏡顯微鏡用于AI人工智能設(shè)備檢測中

科技日新月異，2024年諾貝爾獎(jiǎng)的聚光燈正聚焦于人工智能（AI）領(lǐng)域，期待那些能引領(lǐng)行業(yè)深刻變革的突破性創(chuàng)新。

人工智能（AI ）憑借其強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力、機(jī)器學(xué)習(xí)及優(yōu)化算法，正逐步滲透至鋰電池行業(yè)的各個(gè)環(huán)節(jié)，從電池設(shè)計(jì)、制造到性能驗(yàn)證，全程賦能，顯著提升研發(fā)生產(chǎn)效率，推動(dòng)產(chǎn)業(yè)升級(jí)。

當(dāng)AI與蔡司顯微設(shè)備強(qiáng)強(qiáng)聯(lián)合，讓我們一起打開新世界的大門。

負(fù)極材料智能分析分析難點(diǎn)：一鍵進(jìn)行拍圖，測量并獲得報(bào)告
解決方案：定制化的軟件

負(fù)極材料形貌分析難點(diǎn)：顆粒表面和內(nèi)部形貌的觀察
解決方案：二次電子探測器和背散射探測器

負(fù)極材料摻雜分布分析分析難點(diǎn)：負(fù)極顆粒摻雜分布的快速識(shí)別
解決方案：多探測器同時(shí)成像

負(fù)極材料添加劑分布分析難點(diǎn)：負(fù)極添加劑的高分辨觀察
解決方案：低電壓高分辨成像輕松表征易損傷輔材

負(fù)極極片顆粒統(tǒng)計(jì)和分析分析難點(diǎn)：負(fù)極顆粒的智能量化分析
解決方案：AI自動(dòng)識(shí)別和統(tǒng)計(jì)

負(fù)極材料內(nèi)部孔隙率分析分析難點(diǎn)：負(fù)極內(nèi)部孔隙的快速識(shí)別
解決方案：AI機(jī)器學(xué)習(xí)定制化方案

負(fù)極材料成分分布分析難點(diǎn)：鋰電截面整體的高效元素分布分析
解決方案：高分辨EDS mapping

負(fù)極材料關(guān)聯(lián)分析分析難點(diǎn)：同一位置的多信息分析
解決方案：設(shè)備關(guān)聯(lián)使用解決方案

負(fù)極材料清潔度分析分析難點(diǎn)：自動(dòng)精準(zhǔn)識(shí)別負(fù)極材料內(nèi)部的異物解決方案：清潔度分析方案

負(fù)極材料內(nèi)部缺陷表征分析難點(diǎn)：在宏觀電池中找到指定缺陷并加工暴露
解決方案：蔡司X射線顯微鏡和雙束電鏡關(guān)聯(lián)解決方案，利用AI重構(gòu)DeepRecon加速4倍以上三維成像速度

原料檢測——大視野、高分辨
電極結(jié)構(gòu)——圖像智能化分析
組分雜質(zhì)——高效清潔度分析
結(jié)構(gòu)失效——多設(shè)備關(guān)聯(lián)分析