0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫(xiě)文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

華為手機(jī)項(xiàng)目測(cè)試及可靠性測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)分享

0BFC_eet_china ? 2018-06-24 09:06 ? 次閱讀

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 華為
    +關(guān)注

    關(guān)注

    215

    文章

    34189

    瀏覽量

    250610
  • 可靠性測(cè)試
    +關(guān)注

    關(guān)注

    1

    文章

    83

    瀏覽量

    14147
收藏 人收藏

    評(píng)論

    相關(guān)推薦

    AC/DC電源模塊的可靠性設(shè)計(jì)與測(cè)試方法

    OSHIDA ?AC/DC電源模塊的可靠性設(shè)計(jì)與測(cè)試方法 AC/DC電源模塊是一種將交流電能轉(zhuǎn)換為直流電能的設(shè)備,廣泛應(yīng)用于各種電子設(shè)備中,如電腦、手機(jī)充電器、顯示器等。由于其關(guān)系到設(shè)備的供電穩(wěn)定性
    的頭像 發(fā)表于 05-14 13:53 ?574次閱讀
    AC/DC電源模塊的<b class='flag-5'>可靠性</b>設(shè)計(jì)與<b class='flag-5'>測(cè)試</b>方法

    提升開(kāi)關(guān)電源可靠性:全面了解測(cè)試項(xiàng)目標(biāo)準(zhǔn)

    開(kāi)關(guān)電源可靠性測(cè)試是檢測(cè)開(kāi)關(guān)電源質(zhì)量、穩(wěn)定性和質(zhì)量的重要手段。可靠性測(cè)試也是開(kāi)關(guān)電源測(cè)試的關(guān)鍵環(huán)節(jié),以此評(píng)估開(kāi)關(guān)電源的性能和使用壽命。
    的頭像 發(fā)表于 03-21 15:50 ?727次閱讀

    可靠性測(cè)試中HALT實(shí)驗(yàn)與HASS實(shí)驗(yàn)的區(qū)別

    電子產(chǎn)品高加速壽命測(cè)試HALT、高加速應(yīng)力篩選測(cè)試HASS,都是可靠性測(cè)試的方法,用于評(píng)估電子產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的性能表現(xiàn)和可靠性。那他們之前
    的頭像 發(fā)表于 01-30 10:25 ?1105次閱讀
    <b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>中HALT實(shí)驗(yàn)與HASS實(shí)驗(yàn)的區(qū)別

    IGBT的可靠性測(cè)試方案

    在當(dāng)今的半導(dǎo)體市場(chǎng),公司成功的兩個(gè)重要因素是產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。而這兩者是相互關(guān)聯(lián)的,可靠性體現(xiàn)為在產(chǎn)品預(yù)期壽命內(nèi)的長(zhǎng)期質(zhì)量表現(xiàn)。任何制造商要想維續(xù)經(jīng)營(yíng),必須確保產(chǎn)品達(dá)到或超過(guò)基本的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)
    的頭像 發(fā)表于 01-17 09:56 ?1197次閱讀
    IGBT的<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>方案

    半導(dǎo)體封裝的可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)介紹

    本文將介紹半導(dǎo)體的可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。除了詳細(xì)介紹如何評(píng)估和制定相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)以外,還將介紹針對(duì)半導(dǎo)體封裝預(yù)期壽命、半導(dǎo)體封裝在不同外部環(huán)境中的可靠性
    的頭像 發(fā)表于 01-13 10:24 ?4723次閱讀
    半導(dǎo)體封裝的<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>及<b class='flag-5'>標(biāo)準(zhǔn)</b>介紹

    什么是汽車整車可靠性測(cè)試?

    當(dāng)今競(jìng)爭(zhēng)激烈的汽車市場(chǎng)中,汽車的品質(zhì)和可靠性已成為消費(fèi)者選擇的重要標(biāo)準(zhǔn)。通過(guò)整車可靠性測(cè)試,汽車制造商可以確保他們的產(chǎn)品在各種極端條件下都能表現(xiàn)出色,從而贏得消費(fèi)者的信任和滿意度。
    的頭像 發(fā)表于 12-22 17:16 ?838次閱讀
    什么是汽車整車<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>?

    船舶產(chǎn)品可靠性測(cè)試:保障海上航行的安全之錨

    在進(jìn)行船舶產(chǎn)品可靠性測(cè)試之前,需要進(jìn)行了充分的準(zhǔn)備工作。需要準(zhǔn)備各種先進(jìn)的測(cè)試設(shè)備和儀器。得以模擬真實(shí)使用環(huán)境中的條件,如溫度、濕度、壓力等,以確保測(cè)試的準(zhǔn)確
    的頭像 發(fā)表于 12-22 17:14 ?398次閱讀
    船舶產(chǎn)品<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>:保障海上航行的安全之錨

    半導(dǎo)體可靠性測(cè)試項(xiàng)目有哪些

    半導(dǎo)體可靠性測(cè)試主要是為了評(píng)估半導(dǎo)體器件在實(shí)際使用過(guò)程中的可靠性和穩(wěn)定性。這些測(cè)試項(xiàng)目包括多種測(cè)試
    的頭像 發(fā)表于 12-20 17:09 ?2033次閱讀

    SD NAND?可靠性驗(yàn)證測(cè)試

    SDNAND可靠性驗(yàn)證測(cè)試的重要SDNAND可靠性驗(yàn)證測(cè)試至關(guān)重要。通過(guò)檢驗(yàn)數(shù)據(jù)完整、設(shè)備壽
    的頭像 發(fā)表于 12-14 14:29 ?589次閱讀
    SD NAND?<b class='flag-5'>可靠性</b>驗(yàn)證<b class='flag-5'>測(cè)試</b>

    電源模塊測(cè)試分享之電源可靠性測(cè)試方法

    可靠性測(cè)試是電源模塊測(cè)試的一項(xiàng)重要測(cè)試內(nèi)容,是檢測(cè)電源模塊穩(wěn)定性、運(yùn)行狀況的重要測(cè)試方法。隨著對(duì)電源模塊的
    的頭像 發(fā)表于 12-13 15:36 ?1280次閱讀

    淺談車規(guī)級(jí)芯片的可靠性測(cè)試方法

    加速環(huán)境應(yīng)力可靠性測(cè)試:需要對(duì)芯片進(jìn)行加速環(huán)境應(yīng)力測(cè)試,模擬高溫、低溫、濕熱和溫度循環(huán)等極端環(huán)境條件。這些測(cè)試旨在評(píng)估芯片在極端溫度條件下的可靠性
    的頭像 發(fā)表于 12-05 14:05 ?1760次閱讀

    淺談通信設(shè)備用光電子器件可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)(下)

    器件可靠性驗(yàn)證是GR-468最重要的一個(gè)項(xiàng)目,標(biāo)準(zhǔn)對(duì)光電子器件可靠性試驗(yàn)的執(zhí)行程序與主要項(xiàng)目測(cè)試
    的頭像 發(fā)表于 11-10 17:47 ?1615次閱讀
    淺談通信設(shè)備用光電子器件<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b><b class='flag-5'>標(biāo)準(zhǔn)</b>(下)

    半導(dǎo)體可靠性測(cè)試有哪些測(cè)試項(xiàng)目?測(cè)試方法是什么?

    可靠性測(cè)試是半導(dǎo)體器件測(cè)試的一項(xiàng)重要測(cè)試內(nèi)容,確保半導(dǎo)體器件的性能和穩(wěn)定性,保證其在各類環(huán)境長(zhǎng)時(shí)間工作下的穩(wěn)定性。半導(dǎo)體可靠性
    的頭像 發(fā)表于 11-09 15:57 ?2490次閱讀
    半導(dǎo)體<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>有哪些<b class='flag-5'>測(cè)試</b><b class='flag-5'>項(xiàng)目</b>?<b class='flag-5'>測(cè)試</b>方法是什么?

    芯片的老化試驗(yàn)及可靠性如何測(cè)試?

    芯片的老化試驗(yàn)及可靠性如何測(cè)試? 芯片的老化試驗(yàn)及可靠性測(cè)試是評(píng)估芯片性能和使用壽命的關(guān)鍵步驟。老化試驗(yàn)旨在模擬芯片在長(zhǎng)期使用過(guò)程中可能遭遇的各種環(huán)境和應(yīng)激,并確定芯片的
    的頭像 發(fā)表于 11-09 09:12 ?2900次閱讀

    電子產(chǎn)品的生命之源:可靠性測(cè)試的力量

    半導(dǎo)體器件可靠性測(cè)試指的是評(píng)估半導(dǎo)體器件在不同工作條件下的長(zhǎng)期穩(wěn)定性和可靠性的一系列測(cè)試和分析方法。這些測(cè)試旨在確保半導(dǎo)體器件在其設(shè)計(jì)壽命內(nèi)
    的頭像 發(fā)表于 10-25 09:19 ?876次閱讀
    電子產(chǎn)品的生命之源:<b class='flag-5'>可靠性</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>的力量