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探秘紫光天線檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室,設(shè)計(jì)精密的暗室中如何進(jìn)行手機(jī)輻射性能測(cè)試?

iIeQ_mwrfnet ? 來(lái)源:YXQ ? 2019-04-15 14:07 ? 次閱讀

我們使用的每一部手機(jī),背后都經(jīng)過(guò)了精密而嚴(yán)苛的層層測(cè)試。而天線作為接收信號(hào)的設(shè)備,對(duì)手機(jī)來(lái)說(shuō)是非常重要的,因此天線的測(cè)試也是必不可少的重要環(huán)節(jié)。天線的測(cè)試必須要在專(zhuān)業(yè)的實(shí)驗(yàn)室中進(jìn)行,它到底長(zhǎng)什么樣子?接下來(lái)就跟著展銳一起去探秘下這些高精尖的實(shí)驗(yàn)室吧!

天線檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室實(shí)景

時(shí)尚的幾何圖形,大膽的撞色搭配,濃濃的科技感——你沒(méi)看錯(cuò),這就是今天的主角:天線檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室。

手機(jī)作為通訊工具的第一要點(diǎn),當(dāng)然是確保信號(hào)的穩(wěn)定。天線檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室便是用“無(wú)源測(cè)試”與“有源測(cè)試”兩種方法檢測(cè)天線以及終端設(shè)備的輻射性能。

無(wú)源測(cè)試

無(wú)源測(cè)試側(cè)重從手機(jī)天線的增益、效率、方向圖等天線的輻射參數(shù)方面考察手機(jī)的輻射性能。

有源測(cè)試:

有源測(cè)試則側(cè)重從天線整體的發(fā)射功率和接收靈敏度,即TRP和TIS等,這種方法更能直接地反映天線整機(jī)的輻射性能。

終端生產(chǎn)廠家必須對(duì)所生產(chǎn)手機(jī)的輻射性能有清楚的了解,才能通過(guò)各種措施提高手機(jī)輻射的發(fā)射和接收指標(biāo)。如果手機(jī)輻射性能不好,將產(chǎn)生信號(hào)不好、語(yǔ)音通話質(zhì)量差、容易掉線等多方面的問(wèn)題。

另外,在手機(jī)通話時(shí),由于人腦靠近手機(jī)天線,將降低手機(jī)的發(fā)射和接收性能,手機(jī)整機(jī)輻射的發(fā)射和接收性能都會(huì)降低。通過(guò)輻射性能檢測(cè)可以在手機(jī)研發(fā)過(guò)程中定量測(cè)量人腦對(duì)手機(jī)的發(fā)射和接收性能的影響,進(jìn)行優(yōu)化設(shè)計(jì),減少發(fā)射和接收性能的降低幅度,即減少人體和天線的電磁耦合效應(yīng)。

在設(shè)計(jì)精密的暗室中如何進(jìn)行

手機(jī)輻射性能測(cè)試?

1.將手機(jī)放在轉(zhuǎn)臺(tái)上,并通過(guò)紅外線進(jìn)行定位。測(cè)試過(guò)程中,轉(zhuǎn)臺(tái)會(huì)作水平方向360度的旋轉(zhuǎn)。

手機(jī)在轉(zhuǎn)臺(tái)上旋轉(zhuǎn)

2.轉(zhuǎn)臺(tái)垂直方向的紅色圓環(huán)上有24個(gè)黑色十字,這些便是暗室的標(biāo)準(zhǔn)天線測(cè)試以及通信探頭。其中23個(gè)用于檢測(cè)手機(jī)天線性能,1個(gè)用于建立通訊。

標(biāo)準(zhǔn)天線測(cè)試以及通信探頭

3.吸波材料制成的凹凸墻面,有效吸收電磁波,避免無(wú)線信號(hào)的反射。

吸波材料墻面

4.采集到的射頻信號(hào)進(jìn)入矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(無(wú)源測(cè)試)以及綜合測(cè)試儀(有源測(cè)試)。

矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀

5.測(cè)試完成后通過(guò)測(cè)試軟件將被測(cè)物的輻射性能以直觀的輻射方向圖展示出來(lái)。

輻射方向圖

可以看到,通過(guò)旋轉(zhuǎn)的手機(jī)與環(huán)上的標(biāo)準(zhǔn)天線探頭,可以得到360度全方位的輻射信息,幫助工程師直觀的了解測(cè)試手機(jī)的輻射性能,并成為了保障手機(jī)使用體驗(yàn)的重要參考。

所以經(jīng)過(guò)一系列的測(cè)試后,手機(jī)天線性能的好壞、信號(hào)的強(qiáng)度以及對(duì)人體輻射的影響就一目了然了。只有測(cè)試通過(guò)后的手機(jī)才能夠達(dá)到上市要求。紫光展銳全球創(chuàng)新測(cè)試中心就是為大家嚴(yán)把質(zhì)量關(guān),加速產(chǎn)品的研發(fā)和上市速度

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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原文標(biāo)題:探秘紫光展銳天線檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室

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