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動態(tài)

• 發(fā)布了文章 2022-07-23 07:43

  解決方案|半導(dǎo)體晶體生長測溫

  

  場景半導(dǎo)體晶體生長測溫要解決的問題還原爐應(yīng)用中，需多點(diǎn)位測溫，有的點(diǎn)位位置較高對準(zhǔn)目標(biāo)比較困難。升溫過程中，材料狀態(tài)可能發(fā)生變化，導(dǎo)致發(fā)射率隨之發(fā)生變化導(dǎo)致測溫失準(zhǔn)。建議使用雙色測溫儀。直拉法應(yīng)用中，一般集成于內(nèi)部溫控系統(tǒng)，安裝空間有限。建議使用分體光纖式設(shè)備。需透視窗測量反應(yīng)物。建議使用近紅外短波測溫。場景特點(diǎn)SCENEFEATURES01反應(yīng)溫度需維持在

  半導(dǎo)體

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• 發(fā)布了方案 2022-07-21 13:09

  半導(dǎo)體紅外測溫|IMPAC紅外測溫儀解決方案

  

  半導(dǎo)體晶體生長測溫要解決的問題還原爐應(yīng)用中，需多點(diǎn)位測溫，有的點(diǎn)位位置較高對準(zhǔn)目標(biāo)比較困難。需透視窗測量反應(yīng)物。建議使用近紅外短波測溫。直拉法應(yīng)用中，一般集成于內(nèi)部溫控系統(tǒng)，安裝空間有限。建議使用分體光纖式設(shè)備。升溫過程中，材料狀態(tài)可能發(fā)生變化，導(dǎo)致發(fā)射率隨之發(fā)生變化導(dǎo)致測溫失準(zhǔn)。建議使用雙色測溫儀半導(dǎo)體氧化擴(kuò)散測溫要解決的問題測溫設(shè)備集成于設(shè)備內(nèi)部，對準(zhǔn)目標(biāo)有些許困難需透視窗測溫，需考慮測溫儀響

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• 發(fā)布了產(chǎn)品 2022-07-21 10:55

  半導(dǎo)體紅外測溫儀|impac紅外測溫儀

  

  產(chǎn)品型號：IGAR 6 Smart 測溫范圍:：100-2550 °C ；250- 2550°C 子范圍:：任何溫度范圍內(nèi)可調(diào)范圍，最小量程50°C 發(fā)射率：：0.050 到 1.000 ，0.001調(diào)節(jié)(單色模式)

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