基于安捷倫CXA信號(hào)分析儀的EMI預(yù)兼容測(cè)試方案

　　概述

　　越來(lái)越多的電子制造公司認(rèn)識(shí)到頻繁地進(jìn)行電磁兼容（EMC）/ 電磁干擾（EMI ）檢測(cè)，整改，已經(jīng)成為了降低產(chǎn)品研發(fā)成本，縮短產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期的主要瓶頸。而在從研發(fā)，樣品生產(chǎn)到正式生產(chǎn)的整個(gè)過(guò)程中進(jìn)行EMI 預(yù)兼容測(cè)試就是突破這一瓶頸的最常規(guī)的手段。

　　盡管進(jìn)行EMI 預(yù)兼容測(cè)試已經(jīng)成為了電子行業(yè)的共識(shí)， 但是大多數(shù)公司的嘗試都遭遇了成本的阻礙。只有很少的大型電子企業(yè)有足夠的經(jīng)費(fèi)建造，購(gòu)買電波暗室，標(biāo)準(zhǔn)接收機(jī)以及相應(yīng)外設(shè)，從而建設(shè)一套和EMC 標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室類似的測(cè)試系統(tǒng)。而大量中小型的企業(yè)和電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)室一直在尋找一套低成本而高效的EMI 預(yù)兼容測(cè)試方案。

　　典型的EMI測(cè)試系統(tǒng)

　　大多數(shù)的電子產(chǎn)品都需要通過(guò)傳導(dǎo)泄露和輻射泄露兩類EMI測(cè)試。其本質(zhì)都是使用頻譜分析儀或者接收機(jī)測(cè)量由測(cè)量附件拾取到的干擾信號(hào)。

圖一 傳導(dǎo)泄露測(cè)試

　　圖一是典型的傳導(dǎo)測(cè)試儀器連接配置

　　拾取電源線上傳播干擾信號(hào)的最常用設(shè)備是線性阻抗匹配網(wǎng)絡(luò)（LISN） 。而瞬態(tài)限幅器可以有效的避免頻譜分析儀或者接收機(jī)被LISN 產(chǎn)生的大功率瞬態(tài)信號(hào)損 壞。而傳導(dǎo)測(cè)試的被測(cè)件，附件和頻譜儀完全是通過(guò)電纜連接，所以非常容易實(shí)現(xiàn)且不易受到干擾。我們用類似的方法進(jìn)行預(yù)兼容測(cè)試，得出的結(jié)果往往可以和EMC 認(rèn)證機(jī)構(gòu)得出的測(cè)試結(jié)果很好吻合。

圖二 輻射泄露測(cè)試

　　圖二是典型的輻射泄露測(cè)試的連接

　　一般在電波暗室或者開(kāi)放空間中使用雙錐天線和對(duì)數(shù)周期天線拾取空間的輻射干擾。電波暗室是最理想的測(cè)試環(huán)境，可以有效的消除環(huán)境干擾和反射共振的影響。但是對(duì)于多數(shù)公司，電波暗室的投資都過(guò)于高昂。傳統(tǒng)的替代方法是在開(kāi)放空間進(jìn)行測(cè)試，以減

　　小發(fā)射和共振的影響，但是復(fù)雜的環(huán)境電磁波干擾始終難以完全消除。

　　安捷倫N9000A CXA 信號(hào)分析儀和 W6141A