可同時測試手機(jī)主板多個BTB連接器的模組

手機(jī)BTB連接器尺寸不斷變小面臨著不少的挑戰(zhàn)，它們的好壞直接關(guān)系到手機(jī)的質(zhì)量和其使用的可靠性。

因此，在手機(jī)主板的BTB連接器的制造和應(yīng)用中需要對其進(jìn)行性能測試，隨著人工成本的不斷增加，在工廠自動化日益完善的大環(huán)境下，所有廠商都迫切希望手機(jī)主板的BTB連接器測試能走向自動化生產(chǎn)，提高測試效率，凱智通結(jié)合彈片微針模組的優(yōu)勢，不斷的加以技術(shù)創(chuàng)新，突破了市場技術(shù)壁壘，目前彈片微針模組可以滿足同時測試手機(jī)主板多個BTB連接器的需求。

市面上已有的pogo pin探針無法滿足同時測試多個BTB連接器需求，因為手機(jī)主板的BTB連接器以母座居多，同時BTB連接器具有貼片公差問題， pogo pin探針為多配件組合結(jié)構(gòu)，接觸點多，易產(chǎn)生接觸不穩(wěn)定、阻抗一致性低等問題。

pogo pin探針測試母座時只能接觸連接器端子頂點最高位置，點對點的接觸方式易造成磨損的情況，若同時測試手機(jī)主板的多個板對板連接器穩(wěn)定性幾乎為0，測試良率低，面對這些問題，普通的探針只能測試1-2個連接器。

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