--- 產(chǎn)品參數(shù) ---
- 服務(wù)區(qū)域 全國
- 服務(wù)資質(zhì) CNAS
- 發(fā)票 可提供
- 加急服務(wù) 可提供
--- 產(chǎn)品詳情 ---
服務(wù)范圍
MOSFET、IGBT、DIODE、BJT,第三代半導(dǎo)體器件等分立器件,以及上述元件構(gòu)成的功率模塊。
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
l AEC-Q101分立器件認(rèn)證
l MIL-STD-750半導(dǎo)體器件試驗(yàn)?法
l IEC60747系列SemiconductorDevices,DiscreteDevices
l GB/T29332半導(dǎo)體器件-分立器件-第9部分:絕緣柵雙極晶體管(IGBT)
l AQG324功率模塊?規(guī)認(rèn)證
檢測(cè)項(xiàng)目
試驗(yàn)類型 | 試驗(yàn)項(xiàng)? |
靜態(tài)參數(shù) | BVDSS、IDSS、IGSS、VGS(th)、RDS(on)、VDS(on)、VSD、Rg、Cies、Coes、Cres、gfs、Vgs(pl)… |
動(dòng)態(tài)參數(shù) | td(on)、tr、td(off)、tf、Eon、Eoff、trr、Qrr、Irrm、dirr/dt、QG、QGC、QGE… |
其他參數(shù) | Rth(j-c)、Unclamped Inductive Switching、RBSOA、SCSOA… |
相關(guān)資質(zhì)
CNAS
服務(wù)背景
功率器件在新能源汽車、智能電網(wǎng)等領(lǐng)域有廣泛應(yīng)用,其中,IGBT技術(shù)瓶頸不斷被打破,第三代半導(dǎo)體功率器件也開始由實(shí)驗(yàn)室階段步?商業(yè)應(yīng)用。通常這些新型器件測(cè)試要求更?的電壓和功率?平,更快的開關(guān)時(shí)間,對(duì)測(cè)試設(shè)備及人員技術(shù)要求?,在研發(fā)時(shí)間與成本的雙重壓力下,全參數(shù)測(cè)試成為不少制造商的難題。
我們的優(yōu)勢(shì)
廣電計(jì)量積極布局新型IGBT及第三代半導(dǎo)體功率器件的測(cè)試業(yè)務(wù),引進(jìn)國際先進(jìn)的測(cè)試技術(shù),為功率半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)上下游企業(yè)提供器件全參數(shù)檢測(cè)服務(wù)。同時(shí),廣電計(jì)量通過構(gòu)筑檢測(cè)認(rèn)證與分析?體化平臺(tái),為客?提供器件可靠性驗(yàn)證及失效分析,幫助客戶分析失效機(jī)理,指導(dǎo)產(chǎn)品設(shè)計(jì)及?藝改進(jìn)。
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人工智能安全第一!隨著人工智能(AI)技術(shù)的迅猛發(fā)展,AI芯片正逐漸成為推動(dòng)智能化應(yīng)用的重要引擎。它們被廣泛應(yīng)用于自動(dòng)駕駛、機(jī)器人、智能家居、醫(yī)療診斷等關(guān)鍵領(lǐng)域,賦能各類復(fù)雜計(jì)算任務(wù)。然而,AI芯片復(fù)雜的硬件架構(gòu)、算法依賴性以及高效處理大量數(shù)據(jù)的能力,既帶來了前所未有的性能提升,也帶來了潛在的功能安全挑戰(zhàn)。AI芯片集成了大規(guī)模并行計(jì)算單元,能夠?qū)崿F(xiàn)高效的深度 -
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廣電計(jì)量|功率場(chǎng)效應(yīng)管過壓失效機(jī)理及典型特征分析2024-09-18 10:55
失效分析最常觀察到的現(xiàn)象是EOS過電失效,分為過壓失效及過流失效的兩種失效模式。對(duì)于以功率器件為代表的EOS過電失效樣品,其失效表征往往表現(xiàn)為芯片的大面積熔融,導(dǎo)致難以進(jìn)一步判定其失效模式。本文以常規(guī)MOS、IGBT場(chǎng)效應(yīng)管為例,從芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析和明確過壓擊穿容易出現(xiàn)的失效位置及機(jī)理解釋。671瀏覽量 -
新技術(shù)丨廣電計(jì)量成功開發(fā)系統(tǒng)級(jí)電磁脈沖防護(hù)仿真技術(shù)2024-09-11 11:01
系統(tǒng)級(jí)電磁脈沖效應(yīng)是電磁脈沖對(duì)系統(tǒng)內(nèi)部電子設(shè)備的影響和作用,這種效應(yīng)能夠通過各種途徑耦合到系統(tǒng)內(nèi)部,對(duì)電子設(shè)備造成威脅。為提升研究系統(tǒng)級(jí)電磁脈沖效應(yīng)及其防護(hù)技術(shù)效率,增強(qiáng)各行業(yè)系統(tǒng)抗電磁脈沖能力,廣電計(jì)量電磁安全工程研究所成立科研專項(xiàng)組開展系統(tǒng)級(jí)電磁脈沖防護(hù)仿真技術(shù)研究。 -
Robotaxi發(fā)展再加速,智能駕駛傳感領(lǐng)域檢測(cè)迎來全新挑戰(zhàn)2024-08-23 11:01
高階智駕的發(fā)展是無人駕駛系統(tǒng)在技術(shù)層面落地的基石,而感知是智能駕駛的先決條件,車輛的傳感器需要通過嚴(yán)苛的可靠性驗(yàn)證,方可保障智能駕駛的行駛安全。本期“專家訪談”欄目,我們邀請(qǐng)到廣電計(jì)量集成電路測(cè)試與分析事業(yè)部資深技術(shù)專家王河清博士,探討智能駕駛中傳感系統(tǒng)面臨的安全性挑戰(zhàn)以及如何助力提升系統(tǒng)及產(chǎn)品測(cè)試效率和設(shè)計(jì)質(zhì)量等問題。1092瀏覽量 -
技術(shù)干貨 | AI浪潮下的光模塊可靠性2024-08-13 09:37
人工智能(AI)技術(shù)的快速發(fā)展對(duì)數(shù)據(jù)處理和傳輸提出了前所未有的挑戰(zhàn)。在深度學(xué)習(xí)、自然語言處理和計(jì)算機(jī)視覺等AI應(yīng)用中,訓(xùn)練和學(xué)習(xí)需要巨大的數(shù)據(jù)量傳遞和交互。2023年GPT-4模型所需訓(xùn)練的參數(shù)量有1.8萬億,要完成這么大的數(shù)據(jù)量的運(yùn)算,需要上萬個(gè)GPU同時(shí)工作。如此龐大的數(shù)據(jù)傳輸對(duì)于傳統(tǒng)銅纜而言是個(gè)巨大的挑戰(zhàn),因此光模塊在數(shù)據(jù)傳輸中發(fā)揮著非常重要的作用。光 -
新型儲(chǔ)能全產(chǎn)業(yè)鏈、全生命周期質(zhì)量提升解決方案2024-07-16 13:20
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車規(guī)級(jí) | 功率半導(dǎo)體模塊封裝可靠性試驗(yàn)-熱阻測(cè)試2024-07-05 10:22
在因?yàn)楣β势骷嚓P(guān)原因所引起電子系統(tǒng)失效的原因中,有超過50%是因?yàn)闇囟冗^高導(dǎo)致的熱失效。結(jié)溫過高會(huì)導(dǎo)致電子系統(tǒng)性能降低、可靠性降低、壽命降低、引發(fā)器件結(jié)構(gòu)內(nèi)部的缺陷。隨著器件小尺寸化、高集成化的趨勢(shì),有限的空間承載的功率密度越來越大,對(duì)熱性能測(cè)試的研究成為了行業(yè)的熱門議題。因此,熱阻測(cè)試對(duì)功率器件試可靠性驗(yàn)證及對(duì)汽車電子系統(tǒng)保障中起著關(guān)鍵性的作用。