電源噪聲和時鐘抖動對高速DAC相位噪聲有什么樣的影響

　　在所有器件特性中，噪聲可能是一個特別具有挑戰(zhàn)性、難以掌握的設(shè)計課題。這些挑戰(zhàn)常常導(dǎo)致一些道聽途說的設(shè)計規(guī)則，并且開發(fā)中要反復(fù)試錯。本文將解決相位噪聲問題，目標(biāo)是通過量化分析來闡明如何圍繞高速數(shù)模轉(zhuǎn)換器中的相位噪聲貢獻(xiàn)進行設(shè)計。本文旨在獲得一種“一次成功”的設(shè)計方法，即設(shè)計不多不少，剛好滿足相位噪聲要求。從一塊白板開始，首先將 DAC 視作一個模塊。噪聲可能來自內(nèi)部，因為任何實際元器件都會產(chǎn)生某種噪聲；也可能來自外部噪聲源。外部噪聲源可通過 DAC 的任何外部的任何外部任意連接，包括電源、時鐘和數(shù)字接口等，進入其中。圖 1 顯示了這些可能性。下面將對每一種可能的噪聲嫌疑對象分別進行研究，以了解其重要性。

　　首先討論數(shù)字接口，它恰好是最容易處理的。數(shù)字 I/O 負(fù)責(zé)接收要在模擬域中輸出的數(shù)字采樣信號。眾所周知，如眼圖所示，數(shù)字電路和收到的波形多含噪聲。由此看來，相應(yīng)的問題是：是否所有這種噪聲和活動都能滲入 DAC 內(nèi)部的不同區(qū)域且表現(xiàn)為相位噪聲？當(dāng)然，數(shù)字接口可能在別處引起噪聲，但這里關(guān)心的是相位噪聲。為了證明 I/O 是否需要關(guān)切，我們比較了 AD9162 系列高速 DAC 器件開啟和關(guān)閉數(shù)字接口兩種情況下的相位噪聲。無數(shù)字接口時，器件的 NCO 模式內(nèi)部生成波形，DAC 事實上變成 DDS 發(fā)生器。圖 2 顯示了實驗結(jié)果。

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