微波暗室性能的低頻三維電磁分析

　　在進(jìn)行天線測量時(shí)，微波暗室與室外場相比具有安全、無輻射干擾及不受天氣因素影響的優(yōu)點(diǎn)。典型的微波暗室包括內(nèi)表面覆蓋有吸波材料的屏蔽體，源天線及被測體（DUT）和可通過旋轉(zhuǎn)以獲得被測體（DUT）天線方向圖的轉(zhuǎn)臺系統(tǒng)。屏蔽殼體尺寸大小主要是取決于最低工作頻率，當(dāng)暗室工作在VHF和UHF 頻段時(shí)其所需尺寸顯著增大，因而增加了暗室結(jié)構(gòu)和所需吸波材料的費(fèi)用，暗室的最低工作頻率到VHF和UHF頻段時(shí)同室外場相比其優(yōu)點(diǎn)就喪失了。在這種情況下人們關(guān)注的是暗室結(jié)構(gòu)實(shí)際上真正的需求，而選擇了通過減小暗室尺寸降低造價(jià)和增加暗室尺寸以保證最起碼的性能水平的一個折衷，為了保證天線測量精度的最小水平，DUT測試區(qū)中照射波質(zhì)量和暗室內(nèi)各處反射都需達(dá)標(biāo)，這就特別需要暗室供應(yīng)商能夠精確分析暗室性能，使設(shè)計(jì)的暗室性價(jià)比最高。長期以來暗室的工程分析一直是采用射線跟蹤法，但在最低工作頻率時(shí)暗室尺寸僅幾個波長，因而精度很差，造成精度差的因素有以下幾點(diǎn)： · 鏡像區(qū)的反射足以影響DUT測試區(qū)的品質(zhì)，而鏡像區(qū)的特性尺寸有幾個波長，其表面覆蓋的吸波材料在VHF和UHF頻段時(shí)它的尺寸甚至超過暗室側(cè)墻、頂棚和地面的特性尺寸。 · 有效鏡區(qū)面積較大，在使用射線跟蹤法時(shí)難以確定鏡像的準(zhǔn)確入射角。 · 在低頻時(shí)難以精確地預(yù)判或預(yù)測墻面吸波材料在偏離垂直投射時(shí)的反射系數(shù)。 · 難以精確測量吸波材料的反射系數(shù)的相位。因而僅能計(jì)算DUT測試區(qū)場的有效值（RMS）及和的平方根值（RSS），如此只能提供近似值。 · 在VHF和UHF頻段，許多情況都是基于吸波材料在2GHz以上斜入射時(shí)反射系數(shù)的遞減曲線來近似的，這種外推法對許多暗室就相當(dāng)不精確。最有效的常用的對射線跟蹤法的改進(jìn)是口徑積分法，即從側(cè)墻反射進(jìn)入測試區(qū)的反射場是用整個口徑的基爾霍夫（Kirchhoff）積分計(jì)算（包括側(cè)墻、頂棚或地面），測試區(qū)內(nèi)場是反射場與源天線輻射場的疊加。雖然這種方法比較好的適用于暗室的分析，但所得到的精度仍受到限制，這是由于所用的吸波材料垂直和斜投射時(shí)反射系數(shù)的信息（兩個交叉極化的幅度和相位）的限制。如前所述，對UHF和VHF頻段就更成問題了。此外，無論口徑積分法還是射線跟蹤法對此頻段的暗室內(nèi)多重反射都是無法計(jì)算，但這又是很重要的。

　　一、不精確的暗室分析的后果由于缺乏對暗室性能的精度預(yù)估可能導(dǎo)致暗室的設(shè)計(jì)不是最佳。然而是不是最佳性能也不總是能判斷出來的，例如在測試區(qū)內(nèi)場探測也可能表示不出場變化和起伏的全貌，那是由于在低頻時(shí)室內(nèi)表面反射和直射造成的干涉圖的波動周期較長的緣故。為了保證適當(dāng)?shù)陌凳倚阅?，暗室場?qiáng)探測應(yīng)在盡可能的整個頻帶內(nèi)進(jìn)行，在測試區(qū)內(nèi)整個頻帶上的場強(qiáng)鋸齒形起伏變化應(yīng)加以標(biāo)注，多次匹配調(diào)整收發(fā)極化時(shí)在整個頻帶內(nèi)記錄下來的信號起伏小就說明了暗室的性能比較好。

　　二、三維電磁仿真前述的分析技術(shù)對低頻來說是有限制性，顯然需要嚴(yán)格地進(jìn)行綜合分析，比較合適的分析就是下述的三維電磁仿真法。以前尚無用于解決此類問題的暗室三維定量分析的標(biāo)準(zhǔn)軟件包，但近來隨著PC計(jì)算機(jī)技術(shù)的進(jìn)步，有了用時(shí)域法技術(shù)的三維電磁分析的計(jì)算仿真軟件包，使此種分析變成可能。 ORBIT/FR公司用商用變換解算軟件包完美的完成了低頻暗室的性能仿真。采用三維時(shí)域技術(shù)計(jì)算仿真的低頻暗室性能典型的仿真結(jié)果如下所述。主要的分析是對室內(nèi)感興趣地點(diǎn)的場均勻性進(jìn)行分析，譬如DUT測試區(qū)及隨后決定的暗室內(nèi)的幅度錐削及紋波、相位變化和導(dǎo)致的交叉極化電平。這些量都是與如下參數(shù)有關(guān)： · 吸波材料的布局與品質(zhì)。 · 源天線／DUT的間距。 · 工作頻率。 · 源天線波束寬度。 · DUT轉(zhuǎn)臺情況。 · DUT支撐結(jié)構(gòu)形狀和材料情況。通過這些分析就能提供出關(guān)于源天線與DUT的距離和位置、吸波材料的布局情況的信息，以致于能夠做到達(dá)到所需性能的暗室最小尺寸。